[發明專利]一種測量塞曼效應子譜線強度的方法

在審

• 申請號: 201910768790.0
• 申請日: 2019-08-20
• 公開（公告）號: CN110501068A
• 公開（公告）日: 2019-11-26
• 發明（設計）人: 張建民
• 申請（專利權）人: 陜西師范大學
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02;G01J3/45
• 代理公司: 61226 西安佩騰特知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 曹宇飛<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種測量塞曼效應子譜線強度的方法，其特征在于包括以下步驟：

1)打開光源(1)，依次調節聚光鏡(3)、干涉濾光片(4)、F-P標準具(5)、望遠鏡(6)及可拍照手機(7)拍照鏡頭的位置，使聚光鏡(3)、干涉濾光片(4)、F-P標準具(5)、望遠鏡(6)及可拍照手機(7)的拍照鏡頭與光源(1)同軸且設置光源(1)位于聚光鏡(3)的焦點上；調節光路中各部件使外磁場時各干涉級次K的各分立圓環清晰；

2)接通直流電磁鐵(2)的電源，緩慢增大激磁電流，增強磁場使外磁場時各干涉級次K的每一個分立圓環分裂為右旋光σ⁺¹、π成分光和左旋光σ^-1；

3)用可拍照手機(7)拍攝分裂后的右旋光σ⁺¹、π成分光和左旋光σ^-1的干涉圓環圖片；

4)用《畫圖板》軟件打開步驟3)拍攝的干涉圓環圖片，利用《畫圖板》軟件的《顏色選取器》和《編輯顏色》工具測量出各干涉級次K的右旋光σ⁺¹、π成分光和左旋光σ^-1對應的干涉圓環的強度值；

5)重復步驟4)多次，計算各干涉級次K的右旋光σ⁺¹、π成分光和左旋光σ^-1對應的干涉圓環強度的平均值。

2.根據權利要求1所述的測量塞曼效應子譜線強度的方法，其特征在于，所述步驟4)具體為：

(4.1)用《畫圖板》軟件打開步驟3)拍攝的干涉圓環圖片，確定各干涉級次右旋光σ⁺¹、π成分光和左旋光σ^-1的圓心；

(4.2)在《畫圖板》軟件中選擇《形狀》欄中的《直線》，按住Shift鍵，過圓心分別沿著水平方向和垂直方向作兩條相互垂直的直線，分別為X軸和Y軸；

(4.3)利用《畫圖板》軟件的《顏色選取器》在右旋光σ⁺¹、π成分光和左旋光σ^-1的各個干涉圓環的直徑兩端點處選取顏色，打開《畫圖板》軟件的《編輯顏色》選項，在彈出的顏色窗口中直接讀取各個干涉圓環對應的強度值。

3.根據權利要求2所述的測量塞曼效應子譜線強度的方法，其特征在于，所述步驟4.3)具體為：

(4.3.1)找出第K(K為大于或等于1的自然數)級次子譜線同心圓環上第一個圓環的中心線，選擇畫圖工具選項欄里的《顏色選取器》，在第一個圓環的中心線上選取一個樣點進行顏色提取，選擇顏色選項欄里的顏色編輯，在彈出的對話框里讀出該點顏色的亮度值并記錄；再依次在第一個圓環的中心線上選取三個樣點記錄其亮度值，求出這四個樣點亮度值的平均值作為第K級次子譜線同心圓環上第一個圓環的測量強度值；

(4.3.2)重復步驟(4.3.1)，分別求出第K級次子譜線同心圓環第二個圓環的測量強度值、第三個圓環的測量強度值、第四個圓環的測量強度值、第五個圓環的測量強度值、第六個圓環的測量強度值、第七個圓環的測量強度值、第八個圓環的測量強度值及第九個圓環的測量強度值；

(4.3.3)以第K級次子譜線同心圓環上第五個圓環的測量強度值為基準，計算出9條子譜線同心圓環的相對強度值。

4.根據權利要求1所述的測量塞曼效應子譜線強度的方法，其特征在于，所述光源(1)為汞燈、隔燈、納燈、銻燈、鎢燈、鍶燈，且置于電磁鐵(2)產生的均勻磁場強度處。

5.根據權利要求1所述的測量塞曼效應子譜線強度的方法，其特征在于，所述聚光鏡(3)的焦距為93mm，所述F-P標準具(5)兩玻璃板內表面間的距離d＝2mm。

6.根據權利要求1所述的測量塞曼效應子譜線強度的方法，其特征在于，步驟2)中所述的外加磁場的強度范圍為10000Gs～13000Gs。