[發(fā)明專利]電子封裝件的制法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910768487.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112397393A | 公開(公告)日: | 2021-02-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賴杰隆;陳宜興;黃俊益 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 矽品精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京戈程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11314 | 代理人: | 程偉;王錦陽 |
| 地址: | 中國臺(tái)*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子 封裝 制法 | ||
本發(fā)明涉及一種電子封裝件的制法,提供一整版面基板,該整版面基板包含多個(gè)電子元件與位于各該電子元件之間的間隔部;形成線路層于該電子元件上;形成未貫穿該整版面基板的溝道于該間隔部上;以及形成封裝層于該溝道中與該電子元件上,以經(jīng)由該封裝層提升電子封裝件的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明關(guān)于一種半導(dǎo)體制程,特別是關(guān)于一種電子封裝件的制法。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)業(yè)的發(fā)達(dá),現(xiàn)今的電子產(chǎn)品已趨向輕薄短小與功能多樣化的方向設(shè)計(jì),半導(dǎo)體封裝技術(shù)也隨之開發(fā)出不同的封裝型態(tài)。為滿足半導(dǎo)體裝置的高集成度(Integration)、微型化(Miniaturization)以及高電路效能等需求,所以發(fā)展出現(xiàn)行晶圓級(jí)芯片尺寸封裝(wafer level chip scale package,簡稱WLCSP)的封裝技術(shù)。
圖1A至圖1D為現(xiàn)有WLCSP的封裝件1的制法的剖面示意圖。
如圖1A所示,將一晶圓切割成多個(gè)相分離的半導(dǎo)體元件12,再置放所述半導(dǎo)體元件12于一承載板10的粘著層11上,之后檢測(cè)各該半導(dǎo)體元件12。所述半導(dǎo)體元件12具有相對(duì)的作用面12a與非作用面12b、及鄰接該作用面12a與非作用面12b的側(cè)面12c,該作用面12a上具有多個(gè)電極墊120,且各該作用面12a粘著于該粘著層11上。
如圖1B所示,形成一封裝層13于該粘著層11上,以包覆該半導(dǎo)體元件12。
如圖1C所示,移除該承載板10及粘著層11,以外露該半導(dǎo)體元件12的作用面12a。
如圖1D所示,進(jìn)行線路重布層(Redistribution layer,簡稱RDL)制程,形成一線路重布結(jié)構(gòu)14于該封裝層13與該半導(dǎo)體元件12的作用面12a上,且令該線路重布結(jié)構(gòu)14電性連接該半導(dǎo)體元件12的電極墊120。
接著,形成一絕緣保護(hù)層15于該線路重布結(jié)構(gòu)14上,且該絕緣保護(hù)層15外露該線路重布結(jié)構(gòu)14的部分表面,以供結(jié)合如焊錫凸塊的導(dǎo)電元件16。
之后,沿如圖1D所示的切割路徑S進(jìn)行切單制程。
然而,現(xiàn)有封裝件1的制法中,是經(jīng)由加壓加熱方式形成該封裝層13,故于加壓加熱動(dòng)作時(shí),加熱后的粘著層11會(huì)產(chǎn)生流動(dòng)性,因而推擠該半導(dǎo)體元件12,使該半導(dǎo)體元件12大幅位移,因而超出所能容忍的范圍,進(jìn)而使該線路重布結(jié)構(gòu)14的導(dǎo)電盲孔140無法有效電性連接該電極墊120,如圖1D’所示,造成后續(xù)制程發(fā)生異常,導(dǎo)致產(chǎn)品良率下降。
此外,現(xiàn)有封裝件1于切單制程后,該半導(dǎo)體元件12的作用面12a的結(jié)構(gòu)強(qiáng)度較低,因而容易于制程時(shí)產(chǎn)生裂損(Crack),導(dǎo)致所述導(dǎo)電元件16容易發(fā)生脫落的問題,以于取放該封裝件1至適合位置以進(jìn)行表面貼焊技術(shù)(Surface Mount Technology,簡稱SMT)時(shí),易使產(chǎn)品的良率不佳。
因此,如何克服上述現(xiàn)有技術(shù)的種種問題,實(shí)已成目前亟欲解決的課題。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的缺陷,本發(fā)明提供一種電子封裝件的制法,其包括:提供一整版面基板,該整版面基板包含多個(gè)電子元件與間隔部,該間隔部位于各該電子元件之間,且該電子元件具有相對(duì)的作用面與非作用面,該作用面具有多個(gè)電極墊;形成線路層于該電子元件的作用面上,且該線路層電性連接該多個(gè)電極墊;于對(duì)應(yīng)該電子元件的作用面的一側(cè),形成溝道于該間隔部上,且該溝道未貫穿該整版面基板;以及形成封裝層于該溝道中與該電子元件的作用面上,且該封裝層未完全覆蓋該線路層。
前述的制法中,形成該封裝層的材料為絕緣材料。
前述的制法中,該封裝層未形成于該電子元件的非作用面上。
前述的制法中,該封裝層的表面為齊平該非作用面。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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