[發明專利]圖像處理方法、裝置、計算機系統以及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201910767309.6
• 申請日: 2019-08-19
• 公開（公告）號: CN112396649A
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發明（設計）人: 吳南南;吳凡;馬艷芳;彭華;趙世鋒;王濤
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G06T7/70
• 分類號: G06T7/70
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 鄢功軍

1.一種圖像處理方法，包括：

獲取被標記有嫌疑物的掃描圖像，其中，所述掃描圖像是通過安檢設備對被檢查對象進行掃描得到的；

根據所述掃描圖像的開始掃描時刻，確定與所述掃描圖像對應的可見光圖像，其中，所述可見光圖像是通過可見光圖像采集設備對所述被檢查對象進行采集得到的；以及

根據所述掃描圖像中嫌疑物的標記位置，對所述可見光圖像中的嫌疑物進行標記。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括：

在開檢站的電子設備上展示標記有嫌疑物的可見光圖像，以指示所述嫌疑物的位置。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述根據所述掃描圖像的開始掃描時刻，確定與所述掃描圖像對應的可見光圖像包括：

獲取所述被檢查對象在所述安檢設備中的傳送時長；

根據所述被檢查對象在所述安檢設備中的傳送時長和所述掃描圖像的開始掃描時刻確定所述可見光圖像的采集時刻；以及

根據所述可見光圖像的采集時刻從所述可見光圖像采集設備采集的圖像中確定所述掃描圖像對應的可見光圖像。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，根據所述掃描圖像中嫌疑物的標記位置，對所述可見光圖像中的嫌疑物進行標記包括：

獲取所述掃描圖像與所述可見光圖像之間的像素映射關系；

根據所述掃描圖像中嫌疑物的標記位置、所述掃描圖像的尺寸信息、所述像素映射關系確定所述可見光圖像中的嫌疑物在所述可見光圖像中的標記位置；以及

根據所述可見光圖像中的嫌疑物在所述可見光圖像中的標記位置對所述可見光圖像中的嫌疑物進行標記。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，按照如下公式根據所述掃描圖像中嫌疑物的標記位置、所述掃描圖像的尺寸信息、所述像素映射關系確定所述可見光圖像中的嫌疑物在所述可見光圖像中的標記位置：

x₂＝(x₁/L₁)*L₃*K，y₂＝(y₁/W₁)*(W₃-c-d)+d，

L₄＝(L₂/L₁)*L₃*K，W₄＝(W₂/W₁)*(W₃-c-d)；

其中，所述掃描圖像中嫌疑物的嫌疑框的坐標為(x₁，y₁)，L₁為所述掃描圖像的長，W₁為所述掃描圖像的寬，L₂為所述掃描圖像中嫌疑物的嫌疑框的長，W₂為所述掃描圖像中嫌疑物的嫌疑框的寬；所述可見光圖像中的嫌疑物的嫌疑框的坐標為(x₂，y₂)，L₃為所述可見光圖像的長，W₃為所述可見光圖像的寬，L₄為所述可見光圖像中嫌疑物的嫌疑框的長，W₄為所述可見光圖像中嫌疑物的嫌疑框的寬；K為所述像素映射關系，所述c表示所述可見光圖像中的皮帶上邊緣與所述可見光圖像的上邊緣的間隔寬度，所述d表示所述可見光圖像中的皮帶下邊緣與所述可見光圖像的下邊緣的間隔寬度。

6.根據權利要求1所述的方法，其中，所述獲取標記有嫌疑物的掃描圖像包括：

獲取來自判圖站的被標記有嫌疑物的掃描圖像；以及/或者

獲取來自自動判圖服務器的被標記有嫌疑物的掃描圖像。