[發明專利]電容檢測裝置

在審

• 申請號: 201910765637.2
• 申請日: 2019-08-19
• 公開（公告）號: CN110346375A
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發明（設計）人: 周龍;楊智慧;宋明岑;汪建
• 申請（專利權）人: 珠海格力智能裝備有限公司;珠海格力電器股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G01N21/95;G01N21/956;B07C5/342;B07C5/36
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 劉鑫

本發明提供了一種電容檢測裝置，包括：機架，機架上設置有多個工位；轉盤，多個工位繞轉盤的中心間隔設置，轉盤上設置有用于支撐電容的支撐座，以使電容在轉盤的帶動下依次經過各個工位；轉盤具有轉盤初始位置和相對于轉盤初始位置抬升預定高度的旋轉位置，以在轉盤移動至旋轉位置時使轉盤旋轉，以在轉盤完成旋轉后移動至轉盤初始位置；多個旋轉機構，多個旋轉機構與多個檢測工位一一對應地設置，各個旋轉機構設置在相應的檢測工位上；旋轉機構設置在轉盤的下方，以在轉盤移動至轉盤初始位置時，使旋轉機構通過支撐座的通孔和轉盤的通孔與電容連接，以帶動電容旋轉。解決了現有技術中的電容檢測裝置檢測效率較低的問題。

技術領域

本發明涉及電容技術領域，具體而言，涉及一種電容檢測裝置。

背景技術

隨著工業自動化的不斷發展，電容生產的自動化水平越來越高，正在逐步實現無人車間化。而電容質量檢測為電容生產的重要環節影響著產品的質量和產品的生產效率。

然而，現有技術中的電容側外觀檢測系統存在檢測效率不高，且無法把上述缺陷整合到一個系統內實現的問題。此外，電容側外觀檢測系統只能檢測電容側部的缺陷，無法檢測頂端和上下邊緣處的缺陷，也存在著檢測效率不高的問題。并且，電子器件外觀檢測系統不是獨立設備，需要依托于生產設備的線體，靈活性差，而且不具備檢測合格產品的打包功能，存在產品下料搬運等帶來的二次傷害問題。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種電容檢測裝置，以解決現有技術中的電容檢測裝置檢測效率較低的問題。

為了實現上述目的，本發明提供了一種電容檢測裝置，電容檢測裝置包括：機架，機架上設置有多個工位，多個工位包括上料工位、下料工位和多個檢測工位；轉盤，設置在機架上且相對機架可旋轉地設置，多個工位繞轉盤的中心間隔設置，轉盤上設置有用于支撐電容的支撐座，以使電容在轉盤的帶動下依次經過各個工位；其中，支撐座和轉盤上均開設有通孔；轉盤沿豎直方向可移動地設置，轉盤具有轉盤初始位置和相對于轉盤初始位置抬升預定高度的旋轉位置，以在轉盤移動至旋轉位置時使轉盤旋轉，以在轉盤完成旋轉后移動至轉盤初始位置；多個旋轉機構，多個旋轉機構與多個檢測工位一一對應地設置，各個旋轉機構設置在相應的檢測工位上；旋轉機構設置在轉盤的下方，以在轉盤移動至轉盤初始位置時，使旋轉機構通過支撐座的通孔和轉盤的通孔與電容連接，以帶動電容旋轉。

進一步地，多個檢測工位包括第一檢測工位，電容檢測裝置還包括第一檢測組件，第一檢測組件設置在第一檢測工位上，第一檢測組件包括：第一支撐架，設置在機架上；第一相機部件，與第一支撐架連接，第一相機部件設置在電容的上方，第一相機部件的拍攝端朝向電容的頂端設置，以對電容拍照。

進一步地，第一檢測組件還包括：第一光源，與第一支撐架連接，第一光源設置在第一相機部件的下方且位于電容的上方；其中，第一光源為環形光源，第一相機部件透過環形光源的中心孔對電容進行拍照。

進一步地，第一檢測組件還包括：第一移動部，第一相機部件和第一光源均設置在第一移動部上，第一移動部沿豎直方向位置可調節地設置在第一支撐架上，以帶動第一相機部件和第一光源移動。

進一步地，多個檢測工位包括第二檢測工位，電容檢測裝置還包括第二檢測組件，第二檢測組件設置在第二檢測工位上，第二檢測組件包括：第二支撐架，設置在機架上；第二相機部件，與第二支撐架連接，第二相機部件設置在電容遠離轉盤的中心的一側，第二相機部件的拍攝端朝向電容的側壁設置，以在電容轉動至第一預定位置和第二預定位置時，使第二相機部件對電容進行拍照；其中，第二相機部件相對第二支撐架沿水平方向位置可調節地設置。