[發明專利]操作MRI裝置的方法有效
| 申請號: | 201910762905.5 | 申請日: | 2019-08-19 |
| 公開(公告)號: | CN110850345B | 公開(公告)日: | 2022-12-09 |
| 發明(設計)人: | S.比伯;J.尼斯特勒 | 申請(專利權)人: | 西門子醫療有限公司 |
| 主分類號: | G01R33/32 | 分類號: | G01R33/32;A61B5/055 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 11105 | 代理人: | 張貴東 |
| 地址: | 德國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 操作 mri 裝置 方法 | ||
1.一種操作MRI裝置(1)的方法,所述MRI裝置包括磁體(10),所述方法包括以下步驟:
-激勵所述MRI裝置(1)的體線圈(BC)以發射射頻信號(fBC);
-檢測由所述體線圈(BC)反射的射頻信號(fBC');
-通過測量作為頻率的函數的體線圈(BC)的反射系數來從反射的射頻信號(fBC')確定所述體線圈(BC)的諧振曲線(30)的中心頻率(fc);
-基于確定的中心頻率(fc)識別磁體目標頻率(fT);以及
-將磁體(10)斜變到磁體目標頻率(fT)。
2.根據權利要求1所述的方法,其包括將中心頻率(fc)存儲在所述MRI裝置(1)的存儲模塊(13)中的步驟。
3.根據權利要求1所述的方法,其中通過平均反射的射頻信號(fBC')的諧振曲線來獲取中心頻率(fc)。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中將所述磁體(10)斜變到包括磁體目標頻率(fT)和偏移(df)之和的頻率,其中基于斜變程序確定所述偏移(df)。
5.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中在所述MRI裝置(1)的制造期間和/或在所述MRI裝置(1)的壽命期間的任何時間確定體線圈諧振曲線(30)的中心頻率(fc)。
6.根據權利要求1至3中任一項所述的方法,其中在沒有主磁場的情況下確定所述磁體(10)的目標頻率(fT)。
7.一種操作MRI裝置(1)的方法,所述MRI裝置包括磁體(10)、體線圈和另外的線圈,所述方法包括以下步驟:
-激勵所述MRI裝置(1)的體線圈(BC)以發射射頻信號(fBC);
-使用所述另外的線圈來檢測發射的射頻信號;
-通過測量所述體線圈(BC)和所述另外的線圈之間的傳輸率來從所檢測的射頻信號確定所述體線圈(BC)的諧振曲線(30)的中心頻率(fc);
-基于確定的中心頻率(fc)識別磁體目標頻率(fT);以及
-將磁體(10)斜變到磁體目標頻率(fT)。
8.根據權利要求7所述的方法,其包括將中心頻率(fc)存儲在所述MRI裝置(1)的存儲模塊(13)中的步驟。
9.根據權利要求7所述的方法,其中通過平均反射的射頻信號(fBC')的諧振曲線來獲取中心頻率(fc)。
10.根據權利要求7至9中任一項所述的方法,其中將所述磁體(10)斜變到包括磁體目標頻率(fT)和偏移(df)之和的頻率,其中基于斜變程序確定所述偏移(df)。
11.根據權利要求7至9中任一項所述的方法,其中在所述MRI裝置(1)的制造期間和/或在所述MRI裝置(1)的壽命期間的任何時間確定體線圈諧振曲線(30)的中心頻率(fc)。
12.根據權利要求7至9中任一項所述的方法,其中在沒有主磁場的情況下確定所述磁體(10)的目標頻率(fT)。
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