[發(fā)明專利]具有對(duì)稱特性的存儲(chǔ)器單元及其構(gòu)成的陣列電路有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910756772.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110600065B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-10-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李學(xué)清;吳玨鍵;唐文駿;鐘宏濤;古明陽(yáng);陶云松;劉勇攀;楊華中 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 清華大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G11C11/408 | 分類號(hào): | G11C11/408;G11C11/4094;G11C11/4097 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 廖元秋 |
| 地址: | 100084*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 對(duì)稱 特性 存儲(chǔ)器 單元 及其 構(gòu)成 陣列 電路 | ||
1.一種具有對(duì)稱特性的存儲(chǔ)器單元,其特征在于,該存儲(chǔ)器單元的電路結(jié)構(gòu)包括:第一晶體管,第二晶體管,具有第一端與第二端的存儲(chǔ)器器件,行位線,列位線,行字線和列字線;其中,第一晶體管的柵極與行字線相連,第一晶體管的漏極與行位線相連,第一晶體管的源極與存儲(chǔ)器器件的第一端相連;第二晶體管的柵極與列字線相連,第二晶體管的漏極與行位線相連,第二晶體管的源極與存儲(chǔ)器器件的第一端、第一晶體管的源極均相連;存儲(chǔ)器器件的第二端與列位線相連。
2.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器單元,其特征在于,所述的存儲(chǔ)器器件具有至少兩個(gè)不同的組態(tài)特性,所述存儲(chǔ)器單元通過(guò)存儲(chǔ)器器件的不同組態(tài)特性來(lái)存儲(chǔ)數(shù)據(jù);所述存儲(chǔ)器器件為憶阻器器件、磁性存儲(chǔ)器件或者其他相變存儲(chǔ)器件。
3.一種包括了至少兩個(gè)如權(quán)利要求1或2中所述存儲(chǔ)器單元的陣列電路,其特征在于:該陣列電路的各個(gè)存儲(chǔ)器單元通過(guò)位線或字線相連的方式組成若干行和若干列;其中,同一行存儲(chǔ)器單元的行字線相連接、行位線也相連接,同一列存儲(chǔ)器單元的列字線相連接、列位線也相連接。
4.如權(quán)利要求3所述的陣列電路,其特征在于:在對(duì)某一行中的任意個(gè)存儲(chǔ)器單元所存數(shù)據(jù)進(jìn)行讀操作時(shí),通過(guò)控制該行對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)器單元的行字線電壓使得相應(yīng)存儲(chǔ)器單元的第一晶體管導(dǎo)通;通過(guò)測(cè)量該行相應(yīng)存儲(chǔ)器單元列位線上的電壓或電流的變化來(lái)識(shí)別該行相應(yīng)存儲(chǔ)器單元存儲(chǔ)的數(shù)據(jù);
在對(duì)某一列中的任意個(gè)存儲(chǔ)器單元所存數(shù)據(jù)進(jìn)行讀操作時(shí),通過(guò)控制該列對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)器單元的列字線電壓使得相應(yīng)存儲(chǔ)器單元的第二晶體管導(dǎo)通;通過(guò)測(cè)量該列相應(yīng)存儲(chǔ)器單元行位線上的電壓或電流的變化來(lái)識(shí)別該列相應(yīng)存儲(chǔ)器單元存儲(chǔ)的數(shù)據(jù);
在對(duì)某一行中的任意個(gè)存儲(chǔ)器單元所存數(shù)據(jù)進(jìn)行寫(xiě)操作時(shí),通過(guò)控制該行對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)器單元的行字線電壓使得相應(yīng)存儲(chǔ)器單元的第一晶體管導(dǎo)通;通過(guò)控制該行相應(yīng)存儲(chǔ)器單元行位線及列位線的狀態(tài),使該行中相應(yīng)存儲(chǔ)器單元的阻態(tài)特性與所需存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)一致;
在對(duì)某一列中的任意個(gè)存儲(chǔ)器單元所存數(shù)據(jù)進(jìn)行寫(xiě)操作時(shí),通過(guò)控制該列對(duì)應(yīng)存儲(chǔ)器單元的列字線電壓使得相應(yīng)存儲(chǔ)器單元的第二晶體管導(dǎo)通;通過(guò)控制該列相應(yīng)存儲(chǔ)器單元列位線與行位線的狀態(tài),使該列中相應(yīng)存儲(chǔ)器單元的阻態(tài)特性與所需存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)一致。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于清華大學(xué),未經(jīng)清華大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910756772.0/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 特性評(píng)價(jià)裝置以及特性評(píng)價(jià)方法
- 表面特性檢查裝置、表面特性檢查系統(tǒng)以及表面特性檢查方法
- 特性評(píng)價(jià)裝置、特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)、特性評(píng)價(jià)方法和特性評(píng)價(jià)程序
- 噴嘴特性
- 取向特性測(cè)定方法、取向特性測(cè)定程序及取向特性測(cè)定裝置
- 光學(xué)特性測(cè)定方法以及光學(xué)特性測(cè)定系統(tǒng)
- 表面特性評(píng)價(jià)方法、表面特性評(píng)價(jià)裝置以及表面特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
- 特性判定裝置、特性判定方法以及特性判定程序
- 特性評(píng)估系統(tǒng)、特性評(píng)估方法和程序
- 特性測(cè)量裝置和特性測(cè)量方法
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問(wèn)操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器





