[發明專利]光源模塊及光學檢測系統

在審

• 申請號: 201910751010.1
• 申請日: 2019-08-14
• 公開（公告）號: CN110823902A
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 林伯聰;黃冠勛;梁永杰
• 申請（專利權）人: 由田新技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 羅英;臧建明

本發明提供一種光源模塊及光學檢測系統，光源模塊提供光源至待測物，藉以圖像傳感器獲取待測物的圖像。光源模塊具有框架、第一光源組件以及第二光源組件。第一光源組件設置于框架內，并位于圖像傳感器的光軸的一側，提供第一光束至該待測物。第二光源組件設置于框架內，并位于圖像傳感器的光軸的另一側，提供第二光束至該待測物。特別是，第一光源組件或第二光源組件的照射角度為可調整的。

技術領域

本發明涉及一種光源模塊，尤其涉及一種應用于光學檢測設備的光源模塊及相應的光學檢測系統。

背景技術

自動光學檢測(AOI)常見于半導體制程、半導體封裝測試、電路板制程、面板制程、其他電子零組件制程或其他相關產業的制程，采用光學儀器取代傳統人力進行瑕疵檢測，不僅能提高生產效率，也能提高檢測的準確性。然而，如何能夠基于光學儀器的特性，提生檢測的方法為本領域技術人員所致力的課題。

發明內容

本發明的光源模塊提供光源至待測物，藉以圖像傳感器獲取待測物的圖像。光源模塊具有框架、第一光源組件以及第二光源組件。第一光源組件設置于框架內，并位于圖像傳感器的光軸的一側，提供第一光束至待測物。第二光源組件，設置于框架內，并位于圖像傳感器的光軸的另一側，提供一第二光束至待測物。其中，第一光源組件或第二光源組件的照射角度為可調整的。

本發明的光學檢測系統用以檢測待測物。光學檢測系統具有光學系統，且光學系統具有圖像傳感器以及光源模塊。光源模塊具有第一光源組件以及第二光源組件，第一光源組件位于一圖像傳感器的光軸的一側，提供第一光束至待測物，該第二光源組件位于該圖像傳感器的光軸的另一側，提供第二光束至待測物，其中，第一光源組件或第二光源組件的照射角度為可調整的。檢測模塊連接至光學系統，檢測該感測圖像，以獲取圖像變化情形。

基于上述，本發明的光源模塊、光源系統、光源檢測系統以及自動光學檢測系統采用光源組件所發出的檢測光線集中射向待測物，并基于光束在待測物上形成的光影變化檢測待測物的瑕疵，以提高檢測準確度。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。

附圖說明

圖1是本發明一實施例光學檢測系統的架構示意圖；

圖2是本發明一實施例的光學系統的示意圖；

圖3是本發明一實施例光源模塊的示意圖；

圖4是本發明一實施例光學檢測系統運行的示意圖；

圖5是本發明又一實施例光學檢測系統運行的示意圖；

圖6是本發明又一實施例光學檢測系統運行的示意圖；

圖7是本發明一實施例自動光學檢測系統的示意圖；

圖8是本發明一實施例的光源模塊的示意圖；

圖9是圖8的光源模塊的側視圖；

圖10是圖8的光源模塊的區域A的局部放大圖；

圖11是圖8的第一光源組件的示意圖；

圖12是圖8的第一光源組件的側視圖；

圖13是本發明另一實施例的光源模塊的示意圖；

圖14是圖6的光源模塊的側視圖；

圖15是圖6的光源模塊的區域B的局部放大圖。

附圖標記說明

1：待測物

10：光學檢測系統

12、312：光學系統

14、314：檢測模塊