[發明專利]一種五面發光CSP LED的測試方法

有效

• 申請號: 201910746013.6
• 申請日: 2019-08-13
• 公開（公告）號: CN110987370B
• 公開（公告）日: 2021-10-22
• 發明（設計）人: 王洪;黃天來;賴軍
• 申請（專利權）人: 中山市華南理工大學現代產業技術研究院;華南理工大學
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/26;G01J5/60
• 代理公司: 廣州粵高專利商標代理有限公司 44102
• 代理人: 江裕強

本發明公開了一種五面發光CSP LED的測試方法，所述方法包括以下步驟：（1）將CSP LED在白膜上排列，測試所述CSP LED的色溫值即第一色溫值；（2）將第一矩陣上的CSP LED重新排列，測試所述CSP LED的色溫值即第二色溫值；（3）將第二色溫值作為標簽數據，將第一色溫值構建特征向量，對特征向量添加標簽數據得到數據集，并將數據集劃分為測試集和訓練集；（4）用訓練集訓練隨機森林模型，將訓練好的隨機森林模型修正測試集得到準確率，根據準確率調整隨機森林模型的參數，取準確率最高時的參數作為隨機森林模型的參數。本發明所述方法解決了五面發光CSP LED色溫測試不準的問題。

技術領域

本發明涉及五面發光CSP LED測試技術領域，特別是涉及一種五面發光CSP LED的測試方法。

背景技術

五面發光CSP LED具有五個面發光的特點，在工業大批量制造的工藝流程中，為提高產品的光色一致性，往往需要對其進行測試與分選，根據不同的光色電參數分檔。然而，在大批量測試時，五面發光CSP LED緊密排列在白膜上，在使用傳統的LED晶粒測試機進行測試時，存在鄰近CSP LED的光串擾的問題，導致CSP LED測試的色溫值并不準確，嚴重影響分選的結果，進一步地，影響了產品的光色一致性。當前，也并沒有針對五面發光CSP LED的全自動測試設備。若將CSP LED進行單獨測試，不僅產能降低，測試和分選的成本也會增大，限制了五面發光CSP LED的大規模商用。

因此，基于上述的問題，如何在現有的商業全自動LED晶粒測試設備上修正大批量測試五面發光CSP LED時色溫是目前有待解決的問題。

發明內容

在現有的商業全自動LED晶粒測試設備基礎上，為解決五面發光CSP LED色溫測試不準的問題，以提高分選的準確率和提高產品的一致性，本發明的目的在于提供一種五面發光CSP LED的測試方法。

本發明的目的至少是通過以下技術方案之一實現的。

本發明提供了一種五面發光CSP LED的測試方法，所述方法包括以下步驟：

（1）將CSP LED在第一白膜上緊密排列，形成M×N的第一矩陣，相鄰CSP LED之間的間距為第一間距，第一間距不大于0.3 mm，其中，M和N是正整數，測試所述第一矩陣上的CSPLED的色溫值即第一色溫值，CSP LED單獨排布時的色溫值為單獨色溫值，CSP LED之間的間距為第一間距時，第一色溫值與單獨色溫值之間的差值絕對值大于閾值500K；

（2）將第一矩陣上的CSP LED重新排列在第二白膜上，形成M×N的第二矩陣，CSPLED之間的間距為第二間距，CSP LED在第一矩陣和第二矩陣的坐標不變，測試所述第二矩陣上的CSP LED的色溫值即第二色溫值， CSP LED之間的間距為第二間距時，第二色溫值與單獨色溫值之間的差值絕對值不大于100 K；

（3）將第一色溫值作為特征數據，第二色溫值作為標簽數據，將第一色溫值構建特征向量，對每一顆CSP LED的特征向量添加相對應的標簽數據得到含有標簽數據的數據集，并將數據集劃分為測試集和訓練集；

（4）用訓練集訓練隨機森林模型，將訓練好的隨機森林模型修正測試集得到準確率，根據準確率調整隨機森林模型的參數，取準確率最高時的參數作為隨機森林模型的參數。

優選地，CSP LED排列在白膜上，CSP LED上有電極一側朝上，CSP LED的熒光膠層與白膜接觸。

優選地，色溫值采用全自動LED晶粒探針測試臺進行測試，同時記錄CSP LED在第一矩陣和第二矩陣的坐標 (n, m)，其中，0≤nN，0≤mM，n和m均為自然數。