[發明專利]接近傳感器以及操作基于光電檢測器的接近傳感器的方法

有效

• 申請號: 201910739930.1
• 申請日: 2019-08-12
• 公開（公告）號: CN110823368B
• 公開（公告）日: 2022-03-15
• 發明（設計）人: J·K·莫雷
• 申請（專利權）人: 意法半導體(RD)有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華;傅遠

1.一種用于檢測與光電檢測器相關聯的電路內的堆積的裝置，所述裝置包括：

輸入端子，被配置為接收多個光電檢測器輸出；

OR樹，與所述電路并聯，所述電路與所述光電檢測器相關聯，所述OR樹具有耦合到所述輸入端子的輸入，并且被配置為組合所述光電檢測器輸出；

計數器，被配置為對所述OR樹的輸出進行計數；以及

比較器，被配置為將所述計數器的輸出與確定的閾值進行比較，其中所述比較器被配置為：基于所述計數器的所述輸出大于或等于所述確定的閾值來輸出指示符，所述指示符指示與所述光電檢測器相關聯的所述電路內的堆積。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中所述光電檢測器輸出包括：

多個雪崩二極管，每個雪崩二極管被配置為在檢測到光子時生成脈沖；以及

多個比較器，每個比較器與雪崩二極管相關聯，并且被配置為銳化由相關聯的所述雪崩二極管生成的脈沖。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中與所述光電檢測器相關聯的所述電路包括：

多個脈沖整形器，被配置為縮短所述光電檢測器輸出的脈沖寬度；以及

主OR樹，被配置為組合所述脈沖整形器的輸出。

4.根據權利要求3所述的裝置，還包括：

直方圖確定器，被配置為生成直方圖的計數箱值；以及

直方圖處理器，被配置為接收所述計數箱值和所述比較器的輸出，其中所述直方圖處理器被配置為：當所述比較器的所述輸出指示與所述光電檢測器相關聯的所述電路內沒有堆積時，基于所述計數箱值來生成距離。

5.根據權利要求3所述的裝置，還包括：

直方圖確定器，被配置為生成直方圖的計數箱值；以及

直方圖處理器，被配置為接收所述計數箱值和所述比較器的輸出，其中所述直方圖處理器被配置為：當所述比較器的所述輸出指示與所述光電檢測器相關聯的所述電路內存在堆積時，生成距離不準確的指示，所述距離基于所述計數箱值。

6.根據權利要求1所述的裝置，其中所述光電檢測器是單光子雪崩二極管。

7.一種用于檢測與光電檢測器相關聯的電路內的堆積的方法，所述方法包括：

接收多個光電檢測器輸出；

組合所述光電檢測器輸出；

對所述光電檢測器輸出的所述組合進行計數；

將所述組合的所述計數與確定的閾值進行比較；以及

基于所述比較來生成指示符，其中當所述組合的所述計數大于或等于所述確定的閾值時，所述指示符指示與所述光電檢測器相關聯的所述電路內的堆積。

8.根據權利要求7所述的方法，其中接收所述光電檢測器輸出包括：

從多個雪崩二極管接收輸出，所述雪崩二極管被配置為在檢測到光子時生成脈沖；以及

從多個比較器接收輸出，每個比較器與雪崩二極管相關聯并且被配置為銳化由相關聯的雪崩二極管生成的脈沖。

9.根據權利要求7所述的方法，其中與所述光電檢測器相關聯的所述電路包括：

多個脈沖整形器，被配置為縮短所述光電檢測器輸出的脈沖寬度；以及

OR樹，被配置為組合所述脈沖整形器的輸出。

10.根據權利要求9所述的方法，還包括：

從與所述光電檢測器相關聯的所述電路生成直方圖的計數箱值；以及

當基于所述比較的所述指示符指示與光電檢測器相關聯的所述電路內沒有堆積時，基于所述計數箱值來生成距離。

11.根據權利要求9所述的方法，還包括：

從與所述光電檢測器相關聯的所述電路生成直方圖的計數箱值；以及

當所述比較指示與光電檢測器相關聯的所述電路內存在堆積時，生成距離不準確的指示，所述距離基于所述計數箱值。

12.根據權利要求7所述的方法，其中所述光電檢測器是單光子雪崩二極管。