[發明專利]基于指紋相似度的設備分類方法

有效

• 申請號: 201910735429.8
• 申請日: 2019-08-09
• 公開（公告）號: CN110458094B
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 林星辰;黃元飛;李燕偉;夏劍鋒;張峰;權曉文;王潤合;黃石海;趙建聰
• 申請（專利權）人: 國家計算機網絡與信息安全管理中心;遠江盛邦（北京）網絡安全科技股份有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京遠大卓悅知識產權代理有限公司 11369
• 代理人: 程麗娜

1.一種基于指紋相似度的設備分類方法，其中，主要包括以下步驟：

步驟1、通過建立已知的同一類型設備的樣本集，并提取所述樣本集對應的指紋信息，以得到所述指紋信息的平均相似度和中心點樣本指紋集；

步驟2、通過獲取所述樣本集內的每個設備與步驟1所得中心點樣本指紋集的相似度，計算每個已知類型設備指紋信息的所述相似度到所述中心點樣本指紋集的相似距離，并確定最大相似距離；

步驟3、通過計算未知類型設備集內每個樣本與所述中心點樣本指紋集的中心點樣本的空間距離，與所述最大相似距離進行比較，若大于所述最大相似距離，則所述樣本屬于所述中心點樣本集所在的樣本類型，否則，所述樣本不屬于所述樣本類型，若出現未正確識別的樣本，則進入步驟4；

步驟4、通過將未正確識別的樣本重新加入所述樣本集，以重新計算所述中心點樣本，重復步驟1-3，以完成自動分類。

2.如權利要求1所述基于指紋相似度的設備分類方法，其中，步驟1中，得到所述指紋信息的平均相似度和中心點樣本指紋集的具體方法包括以下步驟：

步驟2.1、通過多個已知的同一類型的設備建立樣本集N，提取所述樣本集N內每個設備對應的指紋信息；

步驟2.2、通過計算所述樣本集N內每個設備指紋信息對應屬性的相似度，取所述相似度的平均值作為平均相似度；

步驟2.3、獲取所述相似度中與所述平均值接近的多個相似度作為所述中心點樣本指紋集。

3.如權利要求1所述基于指紋相似度的設備分類方法，其中，步驟2中，獲取所述相似度的具體方法包括以下步驟：

步驟3.1、獲取所述樣本集內設備對應的多個維度信息，計算與所述中心點樣本指紋集的相似度；

步驟3.2、對所述樣本集內除所述中心點樣本之外的所述設備重復步驟3.1，直至得到除所述中心點樣本之外的所有的每個所述設備的相似度。

4.如權利要求2所述基于指紋相似度的設備分類方法，其中，步驟2中，獲取所述相似距離的計算方法依據公式1：

公式1

其中，X(i)為樣本對應的多個維度信息與所述中心點樣本指紋集的相似度；

K(i)為k個指紋與中心樣本點的相似度；

D為樣本集N內除所述中心點樣本之外的所述樣本與所述中心點樣本的相似距離。

5.如權利要求4所述基于指紋相似度的設備分類方法，其中，步驟3中所述空間距離的計算方法依據公式2：

公式2

其中，A(i)為未知類型的樣本集A中樣本對應的多個維度信息與所述中心點樣本指紋集的相似度；d為所述空間距離。

6.如權利要求1所述基于指紋相似度的設備分類方法，其中，所述未正確識別的樣本加入所述樣本集的前提是，所述未正確識別的樣本類型設定為與所述樣本集內樣本類型相同。