[發(fā)明專利]計(jì)量器具測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910734535.4 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110608764A | 公開(公告)日: | 2019-12-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐道平;尚正華;黃敦應(yīng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海嫦娥光學(xué)儀器科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01D18/00 | 分類號(hào): | G01D18/00 |
| 代理公司: | 61252 西安弼秦知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人: | 朱水平;鄧忠紅 |
| 地址: | 201400 上海市奉賢*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 裝夾機(jī)構(gòu) 計(jì)量器具 轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu) 殼體 容置腔 產(chǎn)品質(zhì)量缺陷 計(jì)量準(zhǔn)確性 測(cè)試裝置 殼體連接 損失賠償 循環(huán)通道 一端設(shè)置 有效控制 重要意義 轉(zhuǎn)動(dòng)裝置 裝夾 轉(zhuǎn)動(dòng) 測(cè)量 測(cè)試 驅(qū)動(dòng) 封閉 檢測(cè) 發(fā)現(xiàn) | ||
本發(fā)明公開了一種計(jì)量器具測(cè)試裝置,其包括殼體、裝夾機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu),殼體具有容置腔,裝夾機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)均設(shè)置于容置腔內(nèi),裝夾機(jī)構(gòu)與殼體連接,裝夾機(jī)構(gòu)用于裝夾計(jì)量器具,檢測(cè)機(jī)構(gòu)連接于殼體,檢測(cè)機(jī)構(gòu)的兩端對(duì)應(yīng)連接于裝夾機(jī)構(gòu)的兩端,檢測(cè)機(jī)構(gòu)、裝夾機(jī)構(gòu)和計(jì)量器具形成一封閉的循環(huán)通道,轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)連接于裝夾機(jī)構(gòu)并用于驅(qū)動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)。通過在裝夾機(jī)構(gòu)的一端設(shè)置轉(zhuǎn)動(dòng)裝置,使得在對(duì)計(jì)量器具的計(jì)量準(zhǔn)確性進(jìn)行測(cè)試的同時(shí),能對(duì)計(jì)量器具的耐久性進(jìn)行測(cè)量,能夠提早檢測(cè)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷,可以有效的降低因設(shè)計(jì)缺陷而導(dǎo)致的保修、損失賠償?shù)蕊L(fēng)險(xiǎn),對(duì)有效控制并及早發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量缺陷都有重要意義。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及計(jì)量器測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種計(jì)量器具測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
計(jì)量檢測(cè)(measure detection)是通過對(duì)計(jì)量對(duì)像的對(duì)應(yīng)參數(shù)進(jìn)行一系列的反復(fù)測(cè)試,從而得到某種結(jié)果的過程,在計(jì)量器在投入使用前通常需要測(cè)試計(jì)量器計(jì)量是否準(zhǔn)確,現(xiàn)有用來測(cè)量計(jì)量器的測(cè)試臺(tái)通常體積比較龐大。傳統(tǒng)計(jì)量器測(cè)試裝置只能對(duì)單一類型的計(jì)量器的計(jì)量準(zhǔn)確性進(jìn)行測(cè)試,每種計(jì)量器均要求對(duì)應(yīng)一種測(cè)試裝置,不同的計(jì)量器如本尼特計(jì)量器、吉爾巴克計(jì)量器、托肯計(jì)量器需要不同的測(cè)試裝置,適用性低,測(cè)試裝置占用空間大,測(cè)試裝置工裝成本高,而且測(cè)試不方便,使得工人工作效率較低。傳統(tǒng)計(jì)量器測(cè)試裝置只能對(duì)計(jì)量準(zhǔn)確性進(jìn)行測(cè)試,不能進(jìn)行耐久性的測(cè)試工作,耐久性是指“計(jì)量器具在使用中保證其性能特性的能力”,所以無法降低因設(shè)計(jì)缺陷而導(dǎo)致的保修、損失賠償?shù)蕊L(fēng)險(xiǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中的計(jì)量檢測(cè)不能進(jìn)行耐久性的測(cè)試的缺陷,提供一種計(jì)量器具測(cè)試裝置。
本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題:
一種計(jì)量器具測(cè)試裝置,其特點(diǎn)在于,其包括殼體、裝夾機(jī)構(gòu)、檢測(cè)機(jī)構(gòu)和轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu),所述殼體具有容置腔,所述裝夾機(jī)構(gòu)、所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)和所述轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)均設(shè)置于所述容置腔內(nèi),所述裝夾機(jī)構(gòu)與所述殼體連接,所述裝夾機(jī)構(gòu)用于裝夾計(jì)量器具,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)連接于所述殼體,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)的兩端對(duì)應(yīng)連接于所述裝夾機(jī)構(gòu)的兩端,所述檢測(cè)機(jī)構(gòu)、所述裝夾機(jī)構(gòu)和所述計(jì)量器具形成一封閉的循環(huán)通道,所述轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)連接于所述裝夾機(jī)構(gòu)并用于驅(qū)動(dòng)所述裝夾機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)。
在本方案中,采用上述結(jié)構(gòu)形式,檢測(cè)機(jī)構(gòu)、裝夾機(jī)構(gòu)和計(jì)量器具形成循環(huán)通道,用于檢測(cè)油體的流通和循環(huán)以對(duì)計(jì)量器具進(jìn)行測(cè)量,在容置腔內(nèi)設(shè)置轉(zhuǎn)動(dòng)裝置以驅(qū)動(dòng)裝夾機(jī)構(gòu)轉(zhuǎn)動(dòng)從而帶動(dòng)計(jì)量器具轉(zhuǎn)動(dòng)以對(duì)計(jì)量器具的耐久性進(jìn)行檢測(cè)。本計(jì)量器具測(cè)試裝置,既能對(duì)計(jì)量器具的計(jì)量準(zhǔn)確性進(jìn)行檢測(cè)又能對(duì)計(jì)量器具的耐久性進(jìn)行檢測(cè),從而得知計(jì)量器具是否存在設(shè)計(jì)缺陷,以提高產(chǎn)品的可靠性,降低因設(shè)計(jì)缺陷而導(dǎo)致的保修、損失賠償?shù)蕊L(fēng)險(xiǎn)。
較佳地,所述裝夾機(jī)構(gòu)包括第一卡盤、第二卡盤、第一轉(zhuǎn)軸和第二轉(zhuǎn)軸,所述第一轉(zhuǎn)軸與所述第一卡盤固定,所述第一卡盤上設(shè)置有若干卡爪,所述第一轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動(dòng)連接于所述殼體,所述第一轉(zhuǎn)軸沿所述第一轉(zhuǎn)軸的軸向設(shè)置有第一通孔,所述第一通孔用于與所述計(jì)量器具連通,所述第二轉(zhuǎn)軸與所述第二卡盤固定,所述第二卡盤上設(shè)置有若干卡爪,所述第二轉(zhuǎn)軸穿過所述轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)與所述殼體轉(zhuǎn)動(dòng)連接,所述第一卡盤上的卡爪和所述第二卡盤上的卡爪相對(duì)設(shè)置并用于裝夾所述計(jì)量器具的兩端。
在本方案中,采用上述結(jié)構(gòu)形式,第一轉(zhuǎn)軸和第一卡盤固定,第二轉(zhuǎn)軸和第二卡盤固定,第一卡盤和第二卡盤上均設(shè)置卡爪用于裝夾計(jì)量器具,這樣在對(duì)計(jì)量器具進(jìn)行檢測(cè)的時(shí)候,計(jì)量器具可以隨著第一轉(zhuǎn)軸和第二轉(zhuǎn)軸的轉(zhuǎn)動(dòng)而轉(zhuǎn)動(dòng),從而檢測(cè)計(jì)量器具的耐久性。在第一轉(zhuǎn)軸的軸向上設(shè)置第一通孔,用于與計(jì)量器具連通并與檢測(cè)系統(tǒng)形成循環(huán)通道。
較佳地,所述轉(zhuǎn)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括推動(dòng)件和轉(zhuǎn)動(dòng)件,所述轉(zhuǎn)動(dòng)件與所述第二轉(zhuǎn)軸連接,所述推動(dòng)件連接于所述殼體并沿遠(yuǎn)離或靠近所述轉(zhuǎn)動(dòng)件的方向做往復(fù)運(yùn)動(dòng),以推動(dòng)所述轉(zhuǎn)動(dòng)件轉(zhuǎn)動(dòng)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海嫦娥光學(xué)儀器科技有限公司,未經(jīng)上海嫦娥光學(xué)儀器科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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