[發明專利]一種鏡片反射率測量方法及測量裝置

有效

• 申請號: 201910730890.4
• 申請日: 2019-08-08
• 公開（公告）號: CN110542541B
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 董會;龐博
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 濟南立木專利代理事務所(特殊普通合伙) 37281
• 代理人: 高立冬

一種鏡片反射率測量方法及測量裝置，將至少由隨鍍片、平板玻璃、位于平板玻璃與隨鍍片之間的折射率匹配液構成的待測組合物放入分光光度計的光路中，使分光光度計的光源發出的入射光經過待測組合物反射和折射后，被分光光度計的接收器接收；打開分光光度計的光源，光源發出的入射光經過待測組合物反射和折射后形成出射光，接收器接收的出射光包括三路光線，測量接收器接收的上述出射光光強，測量光源發出的上述入射光光強，計算出射光光強值與入射光光強值的比值，即得到隨鍍片的反射率，實現鏡片反射率的準確測量，精度高，結構簡單，操作方便。

技術領域

本發明涉及光學測量技術領域，具體地涉及一種鏡片反射率測量方法及測量裝置。

背景技術

一般用于VR產品的光學鏡片具有較大的視場角，來獲得較好的沉浸感和用戶體驗，因此在光學鏡片反射率測試中，對于大角度的反射率測試尤為重要，光學鏡片表面一般鍍有膜系，一般將膜系的反射率作為光學鏡片的反射率。大角度反射率的測試儀器一般采用分光光度計，從光源發出的帶有一定錐角的光經過待測樣品表面反射后，進入探測器窗口，要求出射光路與接收器光路的最小夾角為8°，在測量光學鏡片的反射率時，一般采用替代法，選取隨鍍片作為測試的樣品。隨鍍片即在鍍膜工藝中，跟光學鏡片一起進行鍍膜的光學平板玻璃，除外形尺寸外，具有跟光學鏡片一致的膜系。在光學領域中光學鏡片的外形有多種，而且凹凸度不同，實際測量光學鏡片的表面反射率存在一定難度，因此需要測量與實際光學鏡片具有一致膜系的光學平板玻璃，來實現光學鏡片表面反射率的測量，也就是光學鏡片表面反射率的測量樣品為隨鍍片，通過對隨鍍片的表面反射率測量即可得出與隨鍍片具有一致膜系的光學鏡片的表面反射率。

根據光學反射、折射定律可知，光經過隨鍍片第一反射面發生反射，同時也在表面發生折射，因此一部分光經過光學玻璃內部傳播后達到第二反射面，同樣的，在第二反射面也會發生反射、折射現象，見圖1。這時，探測器接收到的光不僅包含了來自隨鍍片第一反射面的反射光，同時包含了來自隨鍍片第二反射面的反射光，導致測試的結果不準確。目前有幾種方法可以改善：一是在隨鍍片第二表面經行磨砂、噴墨處理，將反射到隨鍍片第二面的光進行漫反射和吸收；二是增大隨鍍片的尺寸，使得光在隨鍍片內傳播時發生一定位置平移，平移的位置大于探測器的半徑。第一種方法仍會有少量漫反射光會到達接收器，且工藝比較復雜，對隨鍍片造成一定破壞，不可重復利用；第二種方法受限于鍍膜工藝中的治具尺寸不可能做得很大，因此實現起來較困難。

發明內容

本發明的目的在于提供一種鏡片反射率測量方法及測量裝置，該測量方法和測量裝置能夠實現鏡片反射率的準確測量，測量精度高，并且結構簡單，操作方便。

本發明解決其技術問題所采取的技術方案是：

一種鏡片反射率測量方法，所述測量方法包括：

S1：選取與待測鏡片具有相同膜系的隨鍍片；

S2:將至少由隨鍍片、平板玻璃、位于平板玻璃與隨鍍片之間的折射率匹配液構成的待測組合物放入分光光度計的光路中，使分光光度計的光源發出的入射光經過待測組合物反射和折射后，被分光光度計的接收器接收；

S3:打開分光光度計的光源，光源發出的入射光經過待測組合物反射和折射后形成出射光，接收器接收的出射光包括三路光線，分別為隨鍍片上表面的反射光光路R1、隨鍍片下表面與折射率匹配液分界面上的反射光光路R2 和折射率匹配液與平板玻璃分界面上的反射光光路R3；

測量接收器接收的上述出射光光強，測量光源發出的上述入射光光強，計算出射光光強值與入射光光強值的比值，即得到隨鍍片的反射率。

作為優化，所述光源發出的入射光光路Ⅰ0一部分經過隨鍍片上表面反射形成反射光光路R1，反射光光路R1進入接收器被接收器接收，光源發出的入射光光路Ⅰ0另一部分光經過隨鍍片折射進入隨鍍片內部形成折射光光路Ⅰ1。