[發明專利]一種集成電路測試系統及其面向行的數據庫管理系統

有效

• 申請號: 201910729265.8
• 申請日: 2019-08-08
• 公開（公告）號: CN110532264B
• 公開（公告）日: 2022-04-15
• 發明（設計）人: 藍帆
• 申請（專利權）人: 杭州廣立微電子股份有限公司
• 主分類號: G06F16/22
• 分類號: G06F16/22;G06F16/21;G06F16/2455;G01R31/28
• 代理公司: 杭州豐禾專利事務所有限公司 33214
• 代理人: 王靜

1.一種用于集成電路測試領域面向行的數據庫管理系統，數據庫用于以二維表形式逐行存儲測試流數據，二維表形式是指：每一行為一條測試記錄，每一列為一個字段；其特征在于，所述用于集成電路測試領域面向行的數據庫管理系統設置有數據立方，數據立方中存儲有根據數據庫中數據所生成的查詢數據，用于響應針對數據庫中數據的查詢；

所述查詢數據是指：設數據庫中存儲的任意一行數據為H_iL₁,…,H_iL_n-1,H_iL_n，該行i的數據包括n個字段值，從n個字段值中取其中預定的m個字段值用于生成查詢數據，對該行數據中所述m個字段值進行組合，得到個不同的組合，每一個組合即作為一條查詢數據；且所述查詢數據采用編碼表示字段值進行存儲；

其中，i、j、m、n都是自然數，且n≥m≥j；是組合符號，從m個字段值中，取j個字段值組成一個子集，不考慮子集中字段值的順序，子集的個數用表示。

2.根據權利要求1所述的一種用于集成電路測試領域面向行的數據庫管理系統，其特征在于，所述查詢數據利用列編碼表對字段值進行編碼，列編碼表根據二維表形式的數據生成，每個字段分別設有一張列編碼表；所述列編碼表為鍵值表，包括該列所有的字段值，以及每個字段值對應的編碼。

3.根據權利要求2所述的一種用于集成電路測試領域面向行的數據庫管理系統，其特征在于，每行編碼后的查詢數據包括位掩碼和字段值編碼，位掩碼和字段值編碼之間采用符號“+”進行分隔；

每一個位掩碼對應一列字段，位掩碼為1時，表示該條查詢數據中包括該字段，位掩碼為0時，表示該條查詢數據中不包括該字段；

位掩碼的個數和字段值編碼的個數相同，且位掩碼按順序與字段值編碼一一對應；取值為1的位掩碼，對應的字段值編碼即為編碼表示的字段值。

4.根據權利要求1所述的一種用于集成電路測試領域面向行的數據庫管理系統，其特征在于，所述測試流數據中包括字段：wafer編號、die坐標位置、待測器件地址、測試條件、測試值和待測器件的屬性。

5.一種集成電路測試系統，其特征在于，包括數據庫和至少一組測試裝置；

所述測試裝置包括測試芯片和測試設備，所述測試設備包括函數發生器、開關矩陣模塊和若干源測量單元，測試設備通過探針卡與測試芯片連接形成測試通路，測試生成測試流數據；

所述數據庫采用權利要求1至4任意一項所述的數據庫管理系統，用于存儲測試流數據。

6.根據權利要求5所述的一種集成電路測試系統，其特征在于，還包括至少一個在線分析引擎，在線分析引擎能抽取測試設備生成的測試流數據進行分析，并將分析后的測試流數據存儲到數據庫。

7.一種集成電路測試數據的實時存儲方法，其特征在于，基于采用權利要求1至4任意一項所述數據庫管理系統的數據庫實現；所述集成電路測試數據的實時存儲方法具體包括下述步驟：

步驟(1)：測試流數據以二維表形式，實時逐行存儲到數據庫中；

步驟(2)：根據步驟(1)數據庫中新增的數據，更新列編碼表：依次確定每一列新增的字段值中，是否為已存在的字段值；若該字段值不是已存在的字段值，則為該字段值確定對應的編碼，并添加到該列對應的列編碼表中；

所述列編碼表根據數據庫中存儲的二維表形式的數據生成，每一列設有一張列編碼表；所述列編碼表為鍵值表，包括該列所有的字段值，以及每個字段值對應的編碼；

步驟(3)：根據步驟(1)數據庫中新增的數據，利用步驟(2)更新后的列編碼表，數據立方更新添加查詢數據，完成測試流數據的實時存儲。