[發明專利]OLED顯示器壽命評測方法

有效

• 申請號: 201910728996.0
• 申請日: 2019-08-08
• 公開（公告）號: CN110412384B
• 公開（公告）日: 2021-09-07
• 發明（設計）人: 段瑜;張韋晨曦;段良飛;王光華;尹莉;錢福麗;楊啟鳴;高思博;季華夏
• 申請（專利權）人: 云南北方奧雷德光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01M11/00;G09G3/00
• 代理公司: 昆明祥和知識產權代理有限公司 53114
• 代理人: 和琳

OLED顯示器壽命評測方法，屬于OLED顯示器壽命評測技術領域，具體為一種OLED顯示器壽命評測方法。本發明的方法首先采用SED模型計算出OLED顯示器的實際使用亮度下的t_1/2值后再結合OLED顯示器實際使用模式及外界溫度推算其實際壽命。本發明的方法解決了現有的OLED顯示器壽命的評估方法中存在的脫離實際使用過程較大的問題，考慮實際運用中影響壽命量大因素，使用模式以及外界溫度的影響，提出了一套科學合理的壽命評估方法。

技術領域

本發明屬于OLED顯示器壽命評測技術領域，具體為一種OLED顯示器壽命評測方法。

背景技術

OLED即為有機電致發光二極管，是近年來發展較快的一種新興顯示技術，是通過有機材料自發光來實現顯示，該顯示技術具有自主發光、低電壓直流驅動、全固化、視角寬、重量輕、可制作大尺寸與可彎曲的面板、工藝簡單等一系列特點，且具有低成本的潛力，能夠滿足當今信息科技時代對顯示技術更高性能和更大信息容量的要求，成為目前科學界和產業界最熱門的課題之一。

由于OLED顯示是有機材料自發光的緣故，隨著有機膜層的穩定性變化，以及外界水氧環境的變化，亮度隨時間發生衰減。通常將亮度衰減到初始值一半的時間稱之為半衰期t_1/2，用半衰期來表征OLED顯示器的壽命。

通常OLED顯示器的壽命評估方法都是采用加速老化的方法，如中國專利名稱“一種AMOLED微型顯示器的壽命評估方法”，專利號201110158656.2公開的評估方法，即在高亮度下測試亮度隨時間的衰減曲線，用亮度衰減SED理論模型，計算出各個樣本在加速老化測試中對應的半衰期t_1/2，再推算出在使用亮度下的半衰期，作為OLED顯示器的壽命值。該方法是基于OLED顯示器高亮度持續點亮的壽命評測方法，雖然能作為OLED顯示器壽命的評估，但與OLED顯示器實際使用過程脫離較大，無法作為OLED顯示器實際使用壽命的評估。

發明內容

本發明的目的是提出一種接近實際使用過程的OLED顯示器壽命評測方法，以達到全面、接近實際使用過程的壽命評估，以滿足指導OLED顯示器商業應用的需求。

本發明的一種OLED顯示器的壽命評測方法，采用SED模型進行壽命推算，其特征在于首先采用SED模型計算出OLED顯示器的實際使用亮度下的t_1/2值后再結合OLED顯示器實際使用模式及外界溫度推算其實際壽命，具體計算公式如下：

LT_videotemp＝LT_video×溫度因子；

LT_video＝使用模式因子×實際使用亮度下的t_1/2值；

使用模式因子＝總像素數量/發光像素數量；

溫度因子數值為0～1；

LT_videotemp為使用模式和外界溫度下的壽命，LT_video為使用模式下的壽命。

所述使用模式因子，因在不同的使用模式下的發光像素數量不一樣而使其值也不一樣，總像素中發光像素越多，使用模式因子越接近1，常見使用模式下的使用模式因子具體數值如下表1；

表1：