[發(fā)明專利]硅棒邊皮料的利用方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910726669.1 | 申請日: | 2019-08-07 |
| 公開(公告)號: | CN110466083B | 公開(公告)日: | 2021-11-12 |
| 發(fā)明(設計)人: | 符黎明;孟祥熙;曹育紅;緒欣 | 申請(專利權)人: | 常州時創(chuàng)能源股份有限公司 |
| 主分類號: | B28D5/00 | 分類號: | B28D5/00;H01L31/18 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 213300 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 硅棒邊皮料 利用 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種硅棒邊皮料的利用方法,將邊皮料切割成硅片,可提高硅棒的利用率;與現有邊皮料熔融回爐的方式相比,本發(fā)明能更有效地利用邊皮料,減少能源浪費。本發(fā)明以長度方向少子壽命的極差、長度方向電阻率的極差來挑選合格邊皮料,可使切割出的硅片品質比較均勻。本發(fā)明可將邊皮料切割出的硅片直接制備成太陽能電池片,也可將邊皮料切割出的硅片進行進一步分割成分片。本發(fā)明可切割出寬度較小的硅片,進而制備出小片電池,且可在小片電池的制備過程中去除硅片邊緣的損傷層,進而消除邊緣損傷層的不良影響,避免分割成品電池片而造成分片的功率損失,以本發(fā)明的小片電池來制備組件,可提高太陽能組件的功率。
技術領域
本發(fā)明涉及硅棒邊皮料的利用方法。
背景技術
晶體硅太陽能電池所用硅片由硅棒切割而成,一般先將硅棒去除頭尾料,再將去除頭尾料的硅棒進行切方,得到用于制備硅片的方棒,再將方棒切片制得硅片。
硅棒切方會產生邊皮料,而邊皮料一般都是回爐或用作高效多晶鑄錠籽晶使用,造成硅棒的利用率較低。
另外,隨著太陽能電池技術的發(fā)展,采用寬度為25~85mm的電池片(即小片電池)來制備組件,可提高太陽能組件的效率。
目前小片電池的制備工藝為:先制備出寬度不小于150mm的成品電池片(即整片),再將整片分割為寬度為25~85mm的小片。一般通過劃片和裂片兩個步驟來分割成品電池片:1)劃片:通過激光劃片機對電池片進行切割,形成切槽;2)裂片:通過裂片機沿切槽對電池片進行裂片,使電池片整片裂成分片(即小片)。
但對成品電池片進行劃片和裂片,裂片完成后,小片邊緣(即整片的斷裂處)會產生損傷層,損傷層存在非常高的表面缺陷,表面缺陷會成為載流子復合中心,從而導致分片邊緣區(qū)域少子壽命降低、表面復合電流明顯增加,進而導致小片電池的開路電壓和短路電流的損失,即導致小片電池的功率損失。
可見,小片邊緣的損傷層會給小片電池帶來不良影響,故需要去除小片邊緣的損傷層。
發(fā)明內容
為了解決現有技術中硅棒利用率較低的缺陷,本發(fā)明提供一種硅棒邊皮料的利用方法,先通過檢驗挑選出合格的邊皮料,再將合格的邊皮料切割成可制備太陽能電池片的硅片;所述硅棒為單晶硅棒;所述邊皮料為單晶硅棒切方產生的邊皮料。
優(yōu)選的,所述檢驗包括邊皮料電學性能檢驗;所述邊皮料電學性能檢驗包括邊皮料少子壽命檢驗和/或邊皮料電阻率檢驗。
所述邊皮料少子壽命檢驗的步驟包括:檢測邊皮料長度方向的少子壽命分布,以長度方向的少子壽命來挑選合格邊皮料,合格邊皮料需滿足長度方向少子壽命的極差不大于預定少子壽命。優(yōu)選的,所述預定少子壽命不小于1us。
所述邊皮料電阻率檢驗的步驟包括:檢測邊皮料長度方向的電阻率分布,以長度方向電阻率的極差來挑選合格邊皮料,合格邊皮料需滿足長度方向電阻率的極差不大于預定電阻率極差。優(yōu)選的,所述預定電阻率極差不大于300%。
優(yōu)選的,所述將合格的邊皮料切割成硅片,包括如下步驟:先將邊皮料截斷成邊皮料小段;再將邊皮料小段切割成硅塊,硅塊的長度方向與邊皮料小段的長度方向一致;再沿硅塊的長度方向將硅塊切片成硅片。
優(yōu)選的,所述將合格的邊皮料切割成硅片,包括如下步驟:先將邊皮料截斷成邊皮料小段;再將邊皮料小段切割成硅塊,硅塊的長度方向與邊皮料小段的長度方向一致;再沿與硅塊長度方向呈一定夾角的方向將硅塊切片成硅片。
優(yōu)選的,所述硅片為三角形、凸多邊形或凹多邊形。
優(yōu)選的,所述硅片為矩形硅片。
優(yōu)選的,所述硅片的四角為圓角。
優(yōu)選的,所述硅片的寬度比常規(guī)方片或準方片的寬度小。
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