[發明專利]液晶面板的顯示品質下降的評價方法及其裝置

在審

• 申請號: 201910726458.8
• 申請日: 2019-08-07
• 公開（公告）號: CN110824736A
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 本多朋美;杉本光弘;井上大輔
• 申請（專利權）人: 天馬日本株式會社
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G09G3/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 呂琳;樸秀玉

本發明能適當地評價液晶面板的顯示品質下降。本發明公開了液晶面板的顯示品質下降的評價方法及其裝置。在評價方法中，對液晶面板施加電壓，通過所述電壓測定流至所述液晶面板的電流波形，從所述電流波形提取因所述液晶內的離子引起的多個峰值曲線，基于所述多個峰值曲線中與比最快的第一遷移率慢的第二遷移率對應的第二峰值曲線的分析結果來評價液晶面板的顯示品質下降。

技術領域

本公開涉及一種液晶面板的顯示品質下降的評價方法及其裝置。

背景技術

隨著液晶顯示裝置的高品質化，為了降低因斑點(局部的不均)的產生而導致的顯示品質下降的風險，要求能夠預測產品中斑點的產生、在液晶面板的構件選定時能夠選擇斑點產生的風險低的構件。

液晶面板中的斑點產生的原因之一是液晶中的離子增加。液晶中的離子使應施加于液晶的電場下降，由此在顯示區域內產生斑點。以往的測定液晶內的離子量的方法公開于例如美國專利申請公開第2012/0242353號。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：美國專利申請公開第2012/0242353號

發明所要解決的問題

然而，在以往的離子密度測定分析方法中可知，有時無法適當地判定因斑點產生等而導致的顯示品質惡化的風險。因此，希望有能更適當地評價液晶面板的斑點產生的風險的方法。

發明內容

用于解決問題的方案

本公開的一個方案是液晶面板的斑點產生風險的評價方法，對液晶面板施加電壓，通過所述電壓測定流至所述液晶面板的電流波形，從所述電流波形提取因所述液晶內的離子引起的多個峰值曲線，基于所述多個峰值曲線中與比最快的第一遷移率慢的第二遷移率對應的第二峰值曲線的分析結果來評價斑點產生風險。

發明效果

根據本公開的一個方案，能適當地評價液晶面板的斑點產生的風險。

附圖說明

圖1示意性地示出了本實施方式的斑點產生風險評價裝置的構成例。

圖2示意性地示出了液晶面板的剖面構造例。

圖3示意性地示出了液晶面板的剖面構造例。

圖4示出了施加于液晶面板的電壓的波形例。

圖5示出了在施加了三角波的液晶面板中測定的電流波形相對于施加電壓的曲線圖。

圖6示出了雜質離子密度與斑點的產生之間的關系的測定結果。

圖7A示出了識別出斑點的產生的液晶面板的、由三角波電壓的施加引起的電流變化的測定例。

圖7B示出了圖7A所示的兩個高斯函數的和與電流波形的關系。

圖8示出了擬合為電流波形的高斯函數的曲線的例子。

圖9示出了液晶面板的雜質離子遷移率、雜質離子密度以及斑點產生的關系的測定結果。

圖10是由斑點產生風險評價裝置進行的液晶面板的斑點產生風險的評價處理的流程圖。

圖11A示出了識別出斑點的產生的液晶面板的、由三角波電壓的施加引起的電流變化的測定例。

圖11B示出了圖11A所示的三個高斯函數的和與電流波形的關系。

圖12示出了液晶面板的雜質離子遷移率、雜質離子密度以及斑點產生的關系的測定結果。

附圖標記說明：