[發明專利]一種測量孔探儀、數據處理方法及裝置

在審

• 申請號: 201910723474.1
• 申請日: 2019-08-07
• 公開（公告）號: CN110487206A
• 公開（公告）日: 2019-11-22
• 發明（設計）人: 李丹郡;蘇荃;李子音
• 申請（專利權）人: 無錫弋宸智圖科技有限公司
• 主分類號: G01B11/24
• 分類號: G01B11/24;G01C11/00;G01V8/10;G06T7/80;G06T7/50
• 代理公司: 11630 北京君有知識產權代理事務所(普通合伙)
• 代理人: 夏娟娟<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種測量孔探儀，其特征在于，包括：顯示設備、與所述顯示設備電連接的信號傳輸設備、設置于所述信號傳輸設備自由端的探頭；其中，所述探頭包括：

探頭殼體，所述探頭殼體形成一容置腔；

固定于所述容置腔內的第一視差深度攝像頭、第二視差深度攝像頭和彩色影像攝像頭，所述第一視差深度攝像頭、所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭兩兩相切設置，且分別與所述信號傳輸設備電連接；

設置于所述容置腔內的照明光纖，所述照明光纖設置于相鄰的攝像頭之間。

2.根據權利要求1所述的測量孔探儀，其特征在于，所述第一視差深度攝像頭和所述第二視差深度攝像頭的相機像素相同，所述彩色影像攝像頭的相機像素高于所述第一視差深度攝像頭或所述第二視差深度攝像頭的相機像素。

3.根據權利要求1所述的測量孔探儀，其特征在于，所述第一視差深度攝像頭和所述第二視差深度攝像頭的直徑相同，所述彩色影像攝像頭的直徑長于所述第一視差深度攝像頭或所述第二視差深度攝像頭的直徑。

4.根據權利要求1所述的測量孔探儀，其特征在于，所述第一視差深度攝像頭、所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭分別內切于所述探頭殼體的內壁上。

5.根據權利要求1所述的測量孔探儀，其特征在于，所述照明光纖為三組，一組位于第一視差深度攝像頭和所述第二視差深度攝像頭之間，一組位于第一視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭之間，一組位于所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭之間。

6.一種數據處理方法，應用于權利要求1至5任一項所述的測量孔探儀，其特征在于，所述方法包括：

根據第一視差深度攝像頭和第二視差深度攝像頭采集的圖像數據，形成視差數據；

根據所述視差數據和所述彩色影像攝像頭的初始標定數據，形成深度數據；

根據所述深度數據和所述初始標定數據的位置關系，計算基于攝像頭的統一坐標系的3維數據；

根據所述統一坐標系的3維數據，生成所述彩色影像攝像頭視野內各個像素的3維云圖。

7.根據權利要求6所述的數據處理方法，其特征在于，根據所述深度數據和所述初始標定數據的位置關系，計算基于攝像頭的統一坐標系的3維數據的步驟之前，還包括：

分別對所述第一視差深度攝像頭、所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭進行單獨標定，得到各自的標定結果；

根據所述標定結果，分別對以下攝像頭組合進行立體標定，得到立體標定結果：

所述第一視差深度攝像頭和所述第二視差深度攝像頭，

所述第一視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭，

所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭。

8.根據權利要求7所述的數據處理方法，其特征在于，根據所述深度數據和所述初始標定數據的位置關系，計算基于攝像頭的統一坐標系的3維數據的步驟包括：

根據所述立體標定結果，確定修正參數；

根據所述深度數據和所述初始標定數據的位置關系以及所述修正參數，計算基于攝像頭的統一坐標系的3維數據。

9.一種數據處理裝置，應用于權利要求1至5任一項所述的測量孔探儀，其特征在于，所述裝置包括：

第一計算模塊，用于根據第一視差深度攝像頭和第二視差深度攝像頭采集的圖像數據，形成視差數據；

第二計算模塊，用于根據所述視差數據和所述彩色影像攝像頭的初始標定數據，形成深度數據；

第三計算模塊，用于根據所述深度數據和所述初始標定數據的位置關系，計算基于攝像頭的統一坐標系的3維數據；

生成模塊，用于根據所述統一坐標系的3維數據，生成所述彩色影像攝像頭視野內各個像素的3維云圖。

10.根據權利要求9所述的數據處理裝置，其特征在于，還包括：

第一標定模塊，用于分別對所述第一視差深度攝像頭、所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭進行單獨標定，得到各自的標定結果；

第二標定模塊，用于根據所述標定結果，分別對以下攝像頭組合進行立體標定，得到立體標定結果：

所述第一視差深度攝像頭和所述第二視差深度攝像頭，

所述第一視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭，

所述第二視差深度攝像頭和所述彩色影像攝像頭。