[發明專利]一種用于面密度測量儀的溫度補償方法

有效

• 申請號: 201910717584.7
• 申請日: 2019-08-05
• 公開（公告）號: CN110308069B
• 公開（公告）日: 2021-08-03
• 發明（設計）人: 張立功;葛學海;陳鵬;李錚;張鈺洋;白云飛;曹夙
• 申請（專利權）人: 開封市測控技術有限公司;開封市金石科技有限公司
• 主分類號: G01N9/00
• 分類號: G01N9/00;G06F17/18
• 代理公司: 鄭州大通專利商標代理有限公司 41111
• 代理人: 張立強

1.一種用于面密度測量儀的溫度補償方法，其特征在于，

在涂布機生產極片的過程中，面密度測量儀用于實時檢測極片的面密度，在檢測面密度的過程中，由于溫度的影響對極片的面密度測量結果有較大影響，按以下步驟進行溫度補償以提高面密度測量儀的精確性；

步驟1：確定測量區的上空氣層的計算溫度T_s和下空氣層的計算溫度T_x；

步驟2：計算掃描測量區上空氣層的密度ρs和下空氣層的密度ρx；

步驟3：計算掃描測量區的面密度修正系數K2；所述修正系數K2的計算公式如下：

K2=(273+T_av) /(273+T) （3.1）

其中，T_av表示采用紅外測溫傳感器所檢測到的極片的溫度均值；

步驟4：得出極片上部需補償的面密度M_1bs和極片下部需補償的面密度M_1bx；計算公式如下：

M_1bs=K_1s*K2(ρ₀-ρ_s) （4.1）

M_1bx=K_1x*K2(ρ₀-ρ_x) （4.2）

其中，K_1s 是面密度的修正系數，K_1x是密度的修正系數；ρ₀表示零位跟蹤處空氣的密度測量值；

步驟5：得出測量儀最終經溫度補償后所測極片的面密度M；

M=Mc+M_1bs +M_1bx（5.1）

其中，Mc為由測量儀實測的極片的面密度。

2.根據權利要求1所述的一種用于面密度測量儀的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟1具體包括：

采用紅外測溫傳感器檢測極片的溫度均值T_av，同時測得掃描測量區上空氣層的溫度均值T_sav和下空氣層的溫度均值T_xav；通過下式進行計算：

T_s= T_av –(T_av -T_sav)/2 （1.1）

T_x= T_av–(T_av –T_xav)/2 （1.2）。

3.根據權利要求1所述的一種用于面密度測量儀的溫度補償方法，其特征在于，所述步驟2具體包括：

采用空氣密度傳感器檢測測量頭在0℃時的空氣密度值ρ_b，同時檢測零位跟蹤處空氣的密度測量值ρ₀和空氣層溫度均值T₀；通過下式進行計算：

ρ_s=ρ_b*273/(273+T_s) （2.1）

ρ_x=ρ_b*273/(273+T_x) （2.2）。

4.根據權利要求1所述的一種用于面密度測量儀的溫度補償方法，其特征在于，在步驟5之后，通過在現場和實驗室對得到的面密度進行分析驗證，以確定該溫度補償方法的準確性。