[發(fā)明專(zhuān)利]一種可自定義驗(yàn)證方法的NANDFlash特性測(cè)試方法

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910717331.X
• 申請(qǐng)日: 2019-08-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110473587A
• 公開(kāi)（公告）日: 2019-11-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李鐵;王璞
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 山東華芯半導(dǎo)體有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G11C29/08
• 分類(lèi)號(hào): G11C29/08;G11C29/56
• 代理公司: 37218 濟(jì)南泉城專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所
• 代理人: 趙玉鳳<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入

本發(fā)明公開(kāi)一種可自定義驗(yàn)證方法的NANDFlash特性測(cè)試方法，本發(fā)明增加命令處理模塊，命令處理模塊用于將自定義命令窗口輸入的測(cè)試命令中的操作命令語(yǔ)句解析為與NFC交互命令，將自定義命令窗口輸入的測(cè)試命令中的邏輯語(yǔ)句解析為測(cè)試邏輯語(yǔ)句，與NFC交互命令與測(cè)試邏輯語(yǔ)句結(jié)合在一起就是實(shí)際測(cè)試命令包，然后將實(shí)際測(cè)試命令包發(fā)送給命令執(zhí)行模塊，對(duì)NANDFlash進(jìn)行測(cè)試即可。本發(fā)明既可以對(duì)固定特性驗(yàn)證測(cè)試，也可根據(jù)自身需求，自定義測(cè)試流程。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種NANDFlash測(cè)試方法，具體是一種可自定義驗(yàn)證方法的NANDFlash特性測(cè)試方法，屬于存儲(chǔ)器測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。

背景技術(shù)

NAND Flash存儲(chǔ)器是Flash存儲(chǔ)器的一種，其內(nèi)部采用非線性宏單元模式，為固態(tài)大容量?jī)?nèi)存的實(shí)現(xiàn)提供了廉價(jià)有效的解決方案。在采取 NAND Flash為存儲(chǔ)器的嵌入式產(chǎn)品方案設(shè)計(jì)中，只有了解其特性才可以更好的使用和發(fā)揮其優(yōu)點(diǎn)。

對(duì)于不同NAND Flash，根據(jù)其生產(chǎn)廠商、制作工藝不同，NAND Flash的特性也大相徑庭。在實(shí)際的研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中，由于生產(chǎn)廠家進(jìn)貨渠道的不同，可能采購(gòu)到NAND Flash也不同，即使廠家提供了相應(yīng)的資料說(shuō)明書(shū)（datasheet）,但實(shí)際特性也會(huì)有所不同。

傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)固定測(cè)試流程順序，僅支持部分固定特性的測(cè)試，對(duì)于有特殊測(cè)試需求或新特性時(shí)需要增加開(kāi)發(fā)新功能，甚至重新開(kāi)發(fā)，兼容性較差，兼容成本較高。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種可自定義驗(yàn)證方法的NANDFlash特性測(cè)試方法，既可以對(duì)固定特性驗(yàn)證測(cè)試，也可根據(jù)自身需求，自定義測(cè)試流程。

為了解決所述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種可自定義驗(yàn)證方法的NANDFlash特性測(cè)試方法，其特征在于：包括以下步驟：

S01）、自定義命令窗口接收輸入的測(cè)試命令和測(cè)試參數(shù)，測(cè)試命令包括自定義命令和已有的固定測(cè)試命令；

S02）、命令處理模塊將輸入的測(cè)試命令解析成實(shí)際測(cè)試命令包，并傳輸給NFC的命令執(zhí)行模塊，命令處理模塊包括接口封裝庫(kù)和邏輯處理庫(kù)，接口封裝庫(kù)內(nèi)封裝有NANDFlash命令，用于將自定義命令窗口輸入的測(cè)試命令中的操作命令語(yǔ)句解析為與NFC交互命令，邏輯處理庫(kù)支持主流編程語(yǔ)言的基本功能，用于將自定義命令窗口輸入的測(cè)試命令中的邏輯語(yǔ)句解析為測(cè)試邏輯語(yǔ)句，與NFC交互命令與測(cè)試邏輯語(yǔ)句結(jié)合在一起就是實(shí)際測(cè)試命令包；

S03）、命令執(zhí)行模塊接收實(shí)際測(cè)試命令包，生成NANDFlash測(cè)試命令，并對(duì)NANDFlash執(zhí)行實(shí)際的測(cè)試操作；

S04）、數(shù)據(jù)反饋模塊將測(cè)試過(guò)程中或者完成后的數(shù)據(jù)反饋給上位機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊；

S05）、上位機(jī)數(shù)據(jù)處理模塊將接收的測(cè)試過(guò)程內(nèi)容或者測(cè)試結(jié)果保存并整理，最終呈現(xiàn)在上位機(jī)工具中；

上述步驟的NFC表示NANDFlash控制器。

進(jìn)一步的，接口封裝庫(kù)將自定義命令窗口輸入的測(cè)試命令中的操作命令語(yǔ)句解析為與NFC交互命令的過(guò)程為：當(dāng)檢測(cè)到操作命令語(yǔ)句時(shí)，接口封裝庫(kù)將封裝的與操作命令相關(guān)的參數(shù)放到臨時(shí)的buffer中存放，然后與獲取的其他相關(guān)參數(shù)一起通過(guò)writefile命令發(fā)送給NFC，如果需要從NFC獲取數(shù)據(jù)，則將與操作命令相關(guān)的參數(shù)和其他相關(guān)參數(shù)一起通過(guò)readfile命令從NFC中獲取，其他相關(guān)參數(shù)包括待測(cè)設(shè)備句柄、操作命令碼、數(shù)據(jù)長(zhǎng)度。

進(jìn)一步的，邏輯處理庫(kù)將自定義命令窗口輸入的測(cè)試命令中的邏輯語(yǔ)句解析為測(cè)試邏輯語(yǔ)句的過(guò)程為：當(dāng)遇到測(cè)試命令中的邏輯語(yǔ)句時(shí)，邏輯處理庫(kù)將根據(jù)其定義，把邏輯語(yǔ)句塊中的命令語(yǔ)句進(jìn)行定義相應(yīng)的操作。