[發明專利]一種基于模糊編碼的壓縮高光譜掩膜優化方法有效
| 申請號: | 201910712003.0 | 申請日: | 2019-08-02 |
| 公開(公告)號: | CN110501071B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發明(設計)人: | 顏成鋼;呂彬彬;吳嘉敏;孫垚棋;張繼勇;張勇東 | 申請(專利權)人: | 杭州電子科技大學 |
| 主分類號: | G01J3/28 | 分類號: | G01J3/28 |
| 代理公司: | 杭州君度專利代理事務所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 朱月芬 |
| 地址: | 310018 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 模糊 編碼 壓縮 光譜 優化 方法 | ||
1.一種基于模糊編碼的壓縮高光譜掩膜優化方法,目標是量化掩膜編碼模糊程度,用模糊編碼代替二值化編碼用于光譜數據重建,其特征在于包括如下步驟:
步驟1、通過仿真算法,依據光譜相機的物鏡數值孔徑NA,物鏡焦距fobj,物鏡放大倍數M,光源波長wavelength,物鏡F數fnum_obj=M/(2*NA),像素間距pixelPitch,PSF空間過采樣率OSR,空間折射率n,通過開源的、跨平臺的、GPU加速的軟件包LFDisplay算法計算出光譜成像系統的聚焦面附近點擴散函數分布;
步驟2、通過設計掩膜塊在世界坐標中的物理尺寸maskPitch,使其與像素平面實際尺寸pixelPitch相匹配,并且通過加裝在掩膜與像素面之間的中繼透鏡的放大倍數M2,正整數N0,推斷出像素平面上掩膜編碼的尺寸大小,由此選擇合適的掩膜尺寸用于光譜信號的編碼;掩膜尺寸的選擇公式為maskPitch=pixelPitch*N0/M2,當N0/M2=1時效果最佳;
步驟3、通過控制掩膜與聚焦面之間的距離,來實現控制光譜分辨率,即用多少位編碼來覆蓋完整的光譜波段,從而實現對光譜信號的空間不一致調制;具體如下:
光柵方程為:
取k=+1,即設λ1=420nm,λ2=720nm,則
單位:度;
d=a+b,其中a為光柵刻畫線的透光縫寬,b為不透光刻畫部分寬度;當一束光垂直照射到透射式閃耀光柵入射面時:
其中S為掩膜板與透射式閃耀光柵后表面之間的距離,delta:λ1和λ2覆蓋的像素范圍;λ1和λ2兩個光譜波段之間的出射角度差為
此時,通過控制透射式閃耀光柵與掩膜板之間的距離S,就能夠控制整個光譜波段能夠覆蓋的像素個數N,將整個光譜波段能夠覆蓋的像素個數N設置為正整數;
此處N為正整數,設計為2到6之間,從而通過控制參數S的大小來實現控制覆蓋整個可見光波段的數目;
步驟4、通過步驟2中LFDisplay算法,計算得到理論上的光路系統點擴散函數,將步驟3中距離光柵為S處的掩膜位置處點擴散函數的卷積核能量分布單獨提取出來,與掩膜編碼的數值進行卷積處理,用卷積后的掩膜編碼作為實際計算進行解壓縮光譜重建的光譜編碼。
2.根據權利要求1所述的一種基于模糊編碼的壓縮高光譜掩膜優化方法,其特征在于所述的掩膜為一個100×1的向量,并且按照列排序組成一個10×10掩膜塊,掩膜塊呈現周期排列,因此單一掩膜塊編碼的變化同時適用于所有的掩膜塊編碼。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于杭州電子科技大學,未經杭州電子科技大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910712003.0/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





