[發明專利]一種合成熒光碳點用于選擇性檢測Hg2+的方法

在審

• 申請號: 201910711901.4
• 申請日: 2019-08-02
• 公開（公告）號: CN110376175A
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發明（設計）人: 崔鳳靈;蔡林;崔延瑞
• 申請（專利權）人: 河南師范大學
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;C09K11/65;B82Y20/00;B82Y40/00
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 丁海波

本發明公開了一種合成熒光碳點用于選擇性檢測Hg²⁺的方法，屬于碳點合成和Hg²⁺檢測的技術領域。本發明的技術方案要點為：一種合成熒光碳點選擇性檢測Hg²⁺的方法，是通過合成熒光碳點，在碳點溶液中加入含有Hg²⁺的待測液，促使熒光碳點的熒光發生猝滅，根據猝滅的程度對比線性關系圖或方程計算得出Hg²⁺的濃度。本發明相比之前的技術在檢測Hg²⁺時選擇性更好，檢測限更低，并且成本低廉，綠色環保。

技術領域

本發明屬于功能化熒光碳點的合成及Hg²⁺的定量分析技術領域，具體涉及一種合成碳點用于選擇性檢測Hg²⁺的方法。

背景技術

Hg俗稱水銀，常見價態為+2價。少量的Hg²⁺可以作為治病的良藥。Hg元素能夠在生物體內積累，可以破壞中樞神經系統，在環境或藥物中Hg²⁺一旦超過標準就會對人們造成傷害，因此對Hg²⁺的檢測是必不可少的。現階段對Hg²⁺的檢測主要有：分光光度法、原子發射光譜法、原子吸收光譜法、氫化物發生-原子熒光光譜法等。但是這些方法都各自有其缺陷，分光光度法需要設計制備與Hg²⁺具有特異性的顯色劑，且顯色時間較長；原子發射光譜法對樣品要求高，設備造價昂貴；原子吸收光譜法對樣品的制作要求較高，操作時間長，設備昂貴；氫化物發生-原子熒光光譜法同樣也需要較復雜的儀器設備。

納米材料的快速發展為Hg²⁺的檢測提供了新的機遇，近些年來，相繼出現了使用金納米顆粒、半導體量子點等納米材料對Hg²⁺進行檢測，但是這些方法成本較高，操作較為復雜且對環境不友好。熒光納米碳點的出現為Hg²⁺的檢測提供了新的方法，為解決上述問題，本發明使用檸檬酸銨和乙二胺為主要碳源合成熒光碳點，合成碳點量子產率高達22.79％，并且過程簡單，操作方便，最重要的是成本低廉。合成的熒光碳點對Hg²⁺具有良好的選擇性，在檢測過程中靈敏度高，選擇性好，檢測限低至0.3μM，可用于藥物中Hg²⁺的檢測。

發明內容

本發明解決的技術問題是提供了一種過程簡單，操作方便的合成熒光碳點選擇性檢測Hg²⁺的方法。

本發明的技術方案為：一種使用熒光碳點檢測Hg²⁺的方法，其特征在于合成熒光碳點，在碳點中加入Hg²⁺，促使熒光碳點熒光發生猝滅，測得熒光強度-Hg²⁺標準曲線后可根據標準曲線檢測實際樣品中Hg²⁺的含量。其特征在于以下方面：

將0-50μmol/L范圍濃度梯度的Hg²⁺標準溶液加入合成的熒光碳點溶液，在熒光光譜儀上測得熒光強度；根據已知濃度的Hg²⁺溶液繪制熒光強度-Hg²⁺濃度標準曲線，即F/F₀-Hg²⁺濃度標準曲線，其中F為加入不同濃度Hg²⁺碳點熒光強度，F₀為相同條件下不加Hg²⁺的碳點熒光強度；再根據含有Hg²⁺待測實際樣品的熒光強度并結合F/F₀-Hg²⁺濃度標準曲線得到待測Hg²⁺溶液中的Hg²⁺的含量。