[發明專利]一種信息的傳輸方法、譯碼方法和裝置

有效

• 申請號: 201910711193.4
• 申請日: 2017-02-03
• 公開（公告）號: CN110719141B
• 公開（公告）日: 2020-08-21
• 發明（設計）人: 張華滋;李榕;喬云飛;羅禾佳;張公正;陳瑩
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: H04L1/00
• 分類號: H04L1/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種信息的傳輸方法，其特征在于，包括：

根據預設的參數對待編碼的序列進行編碼，得到編碼后的序列；所述參數包括校驗比特的數量、所述校驗比特的位置以及校驗方程；所述待編碼的序列長度為K，所述K為大于0的整數；

傳輸所述編碼后的序列；

其中，所述校驗比特的數量為J，所述J≥log₂(T/FAR)；所述T為允許使用校驗比特進行校驗的最大次數，所述FAR為使用校驗比特進行單次檢驗的最大虛警概率；

或者，

所述校驗比特的數量為J(T)，所述

J(T)＝J(1)+ΔJ＝J(1)+log₂T

所述J(1)為單次校驗是需要使用的校驗比特的數量，所述J(T)為T次校驗需要使用的校驗比特的數量，所述T為允許使用校驗比特進行校驗的最大次數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校驗比特為奇偶校驗PC比特，所述PC比特的位置是根據子信道行重選擇的。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述校驗比特的位置為：

從一個新的生成矩陣中選擇出的比特位置；所述新的生成矩陣是通過對校驗生成矩陣進行行列轉換，將其中只依賴部分信息比特的校驗比特置換至序號更小的子信道得到的。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，

所述校驗比特的位置對應待編碼序列多個比特的位置，所述多個比特中至少有兩個比特的位置是非連續的；

或者，

所述校驗比特的位置是根據位置參數確定的，所述位置參數至少包括信息閾值Z_I和校驗閾值Z_P；所述信息閾值Z_I用于表示所有信息子信道中可靠度最低子信道對應的可靠度；所述校驗閾值Z_P用于表示所有校驗子信道中，可靠度大于信息閾值Z_I且行重最大的子信道集合中可靠度最低的子信道對應的可靠度。

5.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，所述校驗方程是根據多項式確定的；其中，所述多項式采用以下任一種形式表示：二進制，八進制，十進制，十六進制，位置向量。

6.根據權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，所述校驗方程是根據校驗方程表格確定的；其中，所述校驗方程表格至少包括校驗比特、信息比特以及參與校驗方程的信息比特。

7.一種信息的傳輸方法，其特征在于，包括：

接收編碼后的序列；所述編碼后的序列是根據預設的參數對待編碼的序列進行編碼后得到的，所述待編碼的序列長度為K，所述K為大于0的整數；

根據所述預設的參數對所述編碼后的序列進行譯碼，得到譯碼后的序列；所述參數包括校驗比特的數量、所述校驗比特的位置以及校驗方程；

其中，所述校驗比特的數量為J，所述J≥log₂(T/FAR)；所述T為允許使用校驗比特進行校驗的最大次數，所述FAR為使用校驗比特進行單次檢驗的最大虛警概率；

或者，

所述校驗比特的數量為J(T)，所述

J(T)＝J(1)+ΔJ＝J(1)+log₂T

所述J(1)為單次校驗是需要使用的校驗比特的數量，所述J(T)為T次校驗需要使用的校驗比特的數量，所述T為允許使用校驗比特進行校驗的最大次數。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述校驗比特為奇偶校驗PC比特，所述PC比特的位置是根據子信道行重選擇的。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，所述校驗比特的位置為：

從一個新的生成矩陣中選擇出的比特位置；所述新的生成矩陣是通過對校驗生成矩陣進行行列轉換，將其中只依賴部分信息比特的校驗比特置換至序號更小的子信道得到的。