[發(fā)明專利]一種壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910708301.2 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-01 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110530886A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-12-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李珂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 李珂 |
| 主分類號(hào): | G01N21/89 | 分類號(hào): | G01N21/89;G01N21/892;G01N21/88 |
| 代理公司: | 11411 北京聯(lián)瑞聯(lián)豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 蘇友娟<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入 |
| 地址: | 230000 安徽省合*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 拼接板 缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 壓縮 圖像處理系統(tǒng) 圖像獲取系統(tǒng) 標(biāo)定系統(tǒng) 對(duì)比系統(tǒng) 對(duì)比像素 二值圖像 實(shí)際像素 圖像信息 整體圖像 像素 拼接 缺陷數(shù)據(jù) 信息對(duì)比 信息轉(zhuǎn)變 標(biāo)定 檢測(cè) 傳送 采集 | ||
1.一種壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括圖像獲取系統(tǒng)、圖像處理系統(tǒng)和缺陷檢測(cè)系統(tǒng);
所述圖像獲取系統(tǒng)采集傳送中的壓縮拼接板的部分圖像信息;
所述圖像處理系統(tǒng)對(duì)所述部分圖像信息進(jìn)行拼接,拼接成一個(gè)完整的壓縮拼接板的整體圖像信息,并且將所述整體圖像信息轉(zhuǎn)變?yōu)槎祱D像信息,最后標(biāo)記所述二值圖像信息中各個(gè)位置的實(shí)際像素信息;
所述缺陷檢測(cè)系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置標(biāo)定系統(tǒng)和對(duì)比系統(tǒng),所述標(biāo)定系統(tǒng)根據(jù)所述壓縮拼接板實(shí)際認(rèn)定的無(wú)缺陷數(shù)據(jù)標(biāo)定出對(duì)比像素信息;所述對(duì)比系統(tǒng)根據(jù)所述實(shí)際像素信息和所述對(duì)比像素信息對(duì)比像素的區(qū)別,像素區(qū)別超過(guò)20%則會(huì)認(rèn)定為該位置有缺陷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述圖像獲取系統(tǒng)包括多個(gè)并列設(shè)置的CCD相機(jī),并且相鄰所述CCD相機(jī)采集的圖像重疊率在30-50%之間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括照明系統(tǒng),所述照明系統(tǒng)用于給所述圖像獲取系統(tǒng)提供光照。
4.根據(jù)權(quán)利要求3中的所述的壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述照明系統(tǒng)采用LED線陣光源。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括報(bào)警系統(tǒng),所述報(bào)警系統(tǒng)與所述缺陷檢測(cè)系統(tǒng)通信連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,還包括報(bào)警系統(tǒng)采用80C51單片機(jī)為主芯片,并且所述主芯片采用MAX232模塊與所述缺陷檢測(cè)系統(tǒng)連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的壓縮拼接板缺陷檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述報(bào)警系統(tǒng)內(nèi)設(shè)置燈光提示系統(tǒng)和聲音預(yù)警系統(tǒng),當(dāng)所述壓縮拼接板被檢測(cè)有缺陷時(shí),所述燈光提示系統(tǒng)發(fā)送報(bào)警光照,所述聲音預(yù)警系統(tǒng)發(fā)出報(bào)警聲響。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





