[發(fā)明專利]補償芯片、屏幕轉接板、電子設備及數據處理方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910703961.1
• 申請日: 2019-07-31
• 公開（公告）號: CN112307841A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發(fā)明（設計）人: 徐向陽;張霞
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G01J1/44
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 望紫薇

1.一種補償芯片，其特征在于，包括互相耦合的處理器和存儲器；

所述存儲器，用于存儲校準參數集，所述校準參數集包括多個校準參數，所述多個校準參數與多個傳感器是一對一的，每一校準參數用于對對應的傳感器在感應到傳感信息后產生的感應信號的被讀取電學數值進行校準，其中，所述多個傳感器中的至少兩個傳感器根據相同的傳感信息各自產生的感應信號的被讀取電學數值不同，所述電學數值為電壓值或電流值；

所述處理器，用于從所述存儲器中讀取所述多個校準參數，并利用所述多個校準參數中的每一校準參數對對應的傳感器產生的感應信號的被讀取電學數值進行校準，得到每一傳感器產生的感應信號的校準電學數值，其中，所述多個傳感器中的每兩個傳感器根據相同的傳感信息各自產生的感應信號的校準電學數值相同。

2.根據權利要求1所述的補償芯片，其特征在于，所述校準參數集是通過以下方法得到的：

獲取所述多個傳感器在感應到測試傳感信息后各自產生的感應信號的測試電學數值；

從所述多個傳感器各自產生的感應信號的測試電學數值中確定出基準電學數值；

根據所述基準電學數值構建所述校準參數集，所述校準參數集包括多個校準參數，且所述多個校準參數與所述多個傳感器是一對一的，每一校準參數為所述基準電學數值與所述校準參數對應的傳感器產生的感應信號的測試電學數值之間的比值。

3.根據權利要求2所述的補償芯片，其特征在于，所述多個傳感器各自產生的感應信號的測試電學數值為所述多個傳感器在額定工作條件下各自產生的感應信號的最大被讀取電學數值。

4.根據權利要求2或3所述的補償芯片，其特征在于，所述基準電學數值為所述多個傳感器各自產生的感應信號的測試電學數值中的最小值。

5.根據權利要求1至4中任一項所述的補償芯片，其特征在于，所述第i傳感器產生的感應信號的被讀取電學數值是根據所述第i傳感器在感應到所述傳感信息后產生的感應信號的實際感應電學數值與所述第i傳感器未感應到所述傳感信息時的初始電學數值之間的差值得到的，所述多個傳感器中的每一個傳感器產生的感應信號的被讀取電學數值的獲取方式均與所述第i傳感器產生的感應信號的被讀取電學數值的獲取方式相同。

6.根據權利要求5所述的補償芯片，其特征在于，所述處理器具體用于：

根據所述第i傳感器對應的校準參數與所述第i傳感器產生的感應信號的被讀取電學數值之間的乘積，計算得到所述第i傳感器產生的感應信號的校準電學數值。

7.一種電子設備，其特征在于，包括多個傳感器、讀取芯片和如權利要求1至6中任一項所述的補償芯片，所述讀取芯片分別與所述多個傳感器和所述補償芯片耦合；

所述多個傳感器，用于根據各自感應到的傳感信息產生感應信號；

所述讀取芯片，用于讀取所述多個傳感器各自產生的感應信號，獲取所述多個傳感器各自產生的感應信號的被讀取電學數值，并將所述多個傳感器各自產生的感應信號的被讀取電學數值提供給所述補償芯片；

所述補償芯片，用于對所述多個傳感器各自產生的感應信號的被讀取電學數值進行校準，得到每一傳感器的感應信號的校準電學數值。

8.根據權利要求7所述的電子設備，其特征在于，所述電子設備還包括顯示屏和N條讀取線，所述顯示屏包括一個傳感陣列，所述傳感陣列包括M×N個傳感器，M和N均為大于1的整數；

所述讀取芯片通過N條讀取線中的每條讀取線與位于N列傳感器的對應列內的M個傳感器各自的輸出端耦合，所述N條讀取線與所述N列傳感器是的一對一的；

所述讀取芯片具體用于：

在開啟位于第t行的N個傳感器后，通過所述N條讀取線分別接收位于所述第t行的N個傳感器各自的感應信號，其中，t取遍位于區(qū)間[1,M]內的所有整數。