[發明專利]自動測試SSD掉電對數據一致性影響的方法及裝置

在審

• 申請號: 201910703516.5
• 申請日: 2019-07-31
• 公開（公告）號: CN110427289A
• 公開（公告）日: 2019-11-08
• 發明（設計）人: 朱振武
• 申請（專利權）人: 東莞記憶存儲科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F12/16
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 巫苑明

本發明涉及一種自動測試SSD掉電對數據一致性影響的方法及裝置，方法包括：搭建自動測試環境；于自動測試環境中，運行自動測試腳本；將測試數據寫入SSD；掉電重啟SSD；檢測SSD掉電前后測試數據的一致性。本方案基于Driver Master自動測試SSD掉電對于數據一致性的影響，具體通過在SSD掉電前自動寫入測試數據，控制SSD掉電重啟后，讀取重啟后的測試數據，來判斷數據的一致性，無需人為介入，提高了SSD數據一致性的測試效率，降低了測試成本。

技術領域

本發明涉及SSD測試領域，更具體地說是指一種自動測試SSD掉電對數據一致性影響的方法及裝置。

背景技術

固態硬盤(Solid State Drives，簡稱SSD)是一種數據存儲介質，固態硬盤通常包括主控芯片(controller)，閃存(Flash)，緩存(RAM)及其它相關器件組成。其中，閃存芯片是非易失性存儲介質，在停止供電后不會丟失數據，而緩存芯片現在通常使用DRAM(Dynamic Random Access Memory，動態隨機存取存儲器)，由于DRAM掉電后，保存在其中的數據會丟失。為了保證數據存儲的可靠性，通常企業級SSD中會增加備電模塊，SSD在外部異常掉電之后，使用內部備電模塊維持一段時間的供電，將緩存中的數據傳輸到閃存中進行保存，防止數據丟失。

正常情況下，SSD在掉電前后，可能會因為映射表的重建不夠充分或者失敗導致數據在掉電前后發生數據不一致，如果具有這樣的問題，數據會丟失嚴重，這樣的SSD的使用體驗比較差，因此需要在SSD出廠時對SSD掉電前后的數據一致性進行檢測。

現有的測試SSD掉電前后的數據一致性的方法，一般都是通過工作人員手動下命令來實現檢查，這就顯得十分耗時費力。如果SSD的數量比較多的情況下，往往需要更多人的配合，工作量大，耗時費力，人力成本較高，測試效率低下。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的缺陷，提供一種自動測試SSD掉電對數據一致性影響的方法及裝置，提高SSD掉電時數據一致性的測試效率。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種自動測試SSD掉電對數據一致性影響的方法，包括以下步驟：

搭建自動測試環境；

于自動測試環境中，運行自動測試腳本；

將測試數據寫入SSD；

掉電重啟SSD；

檢測SSD掉電前后測試數據的一致性。

其進一步技術方案為：所述搭建自動測試環境步驟，包括，

將測試主機與待檢測SSD電連接；

預設置測試腳本運行環境；

預設定測試變量。

其進一步技術方案為：所述將測試主機與待檢測SSD電連接步驟，包括，

將測試主機電連接于SSD電源驅動器，待檢測SSD電連接于M.2轉接板，并將M.2連接板電連接SSD電源驅動器。

其進一步技術方案為：所述預設置測試腳本運行環境步驟，包括，

列出NVMe Controller標識數據；

設置SSD重建映射表時間初始值為0；

設置計時為0；

使能寫高速緩存；

設置最大的單位塊數量。

其進一步技術方案為：所述將測試數據寫入SSD步驟，包括，

設置寫緩沖器的單位塊數量；