[發(fā)明專利]測試系統(tǒng)及其操作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910700686.8 | 申請日: | 2019-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN111965392B | 公開(公告)日: | 2023-04-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉明賢;黃信瑋 | 申請(專利權(quán))人: | 德律科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R1/06 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11019 | 代理人: | 壽寧;張琳 |
| 地址: | 中國臺灣臺北*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測試 系統(tǒng) 及其 操作方法 | ||
本發(fā)明提出一種測試系統(tǒng)包含多個測試核心設(shè)備以及多條第一總線。多個測試核心設(shè)備電性連接到待測件(DUT),多條第一總線電性連接多個測試核心設(shè)備,其中至少一組測試核心設(shè)備是選自于多個測試核心設(shè)備,至少一組測試核心設(shè)備通過多條第一總線中的至少一者合并為一合并的測試核心設(shè)備,借以自動且彈性地測試待測件,無需額外的導(dǎo)線。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種測試系統(tǒng)及其操作方法。
背景技術(shù)
待測件(DUT),也稱為被測設(shè)備(EUT)或被測單元(UUT),是在第一次制造時或在其生命周期的后期進(jìn)行功能測試和校準(zhǔn)檢查的制造產(chǎn)品。這可以包括修復(fù)后的測試,以確定產(chǎn)品是否按照原始產(chǎn)品規(guī)格執(zhí)行。在電子工業(yè)中,待測件(DUT)可以是任何被測電子組件。
在傳統(tǒng)技術(shù)中,需要額外的導(dǎo)線用來手動連接兩個測試模塊。然而,這種方式不甚方便。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,提出一種測試系統(tǒng)及其操作方法,改善先前技術(shù)存在的問題。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題是采用以下的技術(shù)方案來實現(xiàn)的。依據(jù)本發(fā)明提出的本發(fā)明所提出的一種測試系統(tǒng)包含多個測試核心設(shè)備以及多條第一總線。多個測試核心設(shè)備電性連接到待測件(DUT),多條第一總線電性連接多個測試核心設(shè)備,其中至少一組測試核心設(shè)備是選自于多個測試核心設(shè)備,至少一組測試核心設(shè)備通過多條第一總線中的至少一者合并為一合并的測試核心設(shè)備。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可以采用以下的技術(shù)措施來進(jìn)一步實現(xiàn)。
在本發(fā)明的一實施例中,合并的測試核心設(shè)備與多個測試核心設(shè)備中的其余者平行測試待測件。
在本發(fā)明的一實施例中,多個測試核心設(shè)備中的任一者包含至少一個開關(guān)裝置與一個控制器。至少一個開關(guān)裝置電性連接到多條第一總線中的至少一者,控制器電性連接至少一個開關(guān)裝置。
在本發(fā)明的一實施例中,多個測試核心設(shè)備中的任一者更包含多條第二總線。多條第二總線電性連接控制器與開關(guān)裝置。
在本發(fā)明的一實施例中,多個測試核心設(shè)備包含第一測試核心設(shè)備、第二測試核心設(shè)備、第三測試核心設(shè)備與第四測試核心設(shè)備,第一測試核心設(shè)備、第二測試核心設(shè)備、第三測試核心設(shè)備與第四測試核心設(shè)備合并為一個合并的測試核心設(shè)備以測試待測件,第一測試核心設(shè)備發(fā)送電信號至待測件,第四測試核心設(shè)備通過待測件以接收電信號,第四測試核心設(shè)備的輸出被切換以通過多條第一總線中的至少一者電性連接至第一測試核心設(shè)備,使第一測試核心設(shè)備得以通過待測件量測測試信號。
在本發(fā)明的一實施例中,第二測試核心設(shè)備與第三測試核心設(shè)備分別電性連接待測件的兩端,第二測試核心設(shè)備的輸出與第三測試核心設(shè)備的輸出被切換以通過多條第一總線中的至少一者電性連接至第一測試核心設(shè)備,使第一測試核心設(shè)備得以通過待測件量測測試電信號。
在本發(fā)明的一實施例中,多個測試核心設(shè)備中至少一組測試核心設(shè)備的數(shù)量是取決于待測件的測試點的數(shù)量。
在本發(fā)明的一實施例中,待測件包含多個子器件,多個測試核心設(shè)備分別平行測試多個子器件。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還采用以下技術(shù)方案來實現(xiàn)。依據(jù)本發(fā)明提出的一種測試系統(tǒng)的操作方法包含以下步驟:從測試系統(tǒng)的多個測試核心設(shè)備中選擇至少一組測試核心設(shè)備;通過多條第一總線中的至少一者,將至少一組測試核心設(shè)備合并為一合并的測試核心設(shè)備,以測試待測件。
本發(fā)明的目的及解決其技術(shù)問題還可以采用以下的技術(shù)措施來進(jìn)一步實現(xiàn)。
其中所述的在本發(fā)明的一實施例中,選擇至少一組測試核心設(shè)備的步驟包含:接收合并信號;根據(jù)合并信號,選擇至少一組測試核心設(shè)備。
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