[發(fā)明專利]顯示模組缺陷檢測(cè)裝置及方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910697024.X | 申請(qǐng)日: | 2019-07-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110261408B | 公開(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張之光;楊碩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 云谷(固安)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京布瑞知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11505 | 代理人: | 黃俊 |
| 地址: | 065500 河*** | 國(guó)省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 顯示 模組 缺陷 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種顯示模組缺陷檢測(cè)裝置及方法,通過在顯示模組一側(cè)設(shè)置外部光源和攝像部件來獲取顯示模組的圖像,其中,外部光源的照射光線與顯示模組的厚度方向之間的夾角大于0度且小于90度,且攝像部件的鏡頭方向與顯示模組厚度方向之間的夾角也大于0度且小于90度,利用保護(hù)膜的缺陷會(huì)影響光線的反射而顯示屏體的缺陷不會(huì)影響光線的反射,從而根據(jù)圖像中缺陷的亮度可以判斷該缺陷是顯示屏體缺陷還是保護(hù)膜缺陷,提高了缺陷檢測(cè)的準(zhǔn)確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示器領(lǐng)域,具體涉及顯示模組缺陷檢測(cè)裝置及方法。
背景技術(shù)
為了得到高質(zhì)量OLED顯示面板,需要在屏體工段對(duì)產(chǎn)品外觀進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)和管控。目前的方法是將屏體置于燈箱內(nèi),燈箱頂部有光源,通過控制光源向屏體照射光線,配合相機(jī)對(duì)屏體拍照,再對(duì)照片進(jìn)行分析,找出缺陷。
然而,此種檢測(cè)方法存在如下問題:由于屏體表面覆蓋著一層透明保護(hù)膜,保護(hù)膜表面也可能存在劃傷、顆粒等缺陷,因此,相機(jī)拍照時(shí)容易將保護(hù)膜表面缺陷和屏體缺陷混淆,將保護(hù)膜表面缺陷視為屏體缺陷,造成過檢,影響檢出結(jié)果及效率。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明實(shí)施例致力于提供了顯示模組缺陷檢測(cè)裝置及方法,通過設(shè)置與顯示模組成一定傾斜角度的外部光源和攝像部件,來區(qū)分顯示屏體的缺陷和保護(hù)膜的缺陷,從而解決上述過檢和檢測(cè)結(jié)果不準(zhǔn)確的問題。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種顯示模組缺陷檢測(cè)裝置,包括:外部光源,用于提供照亮顯示模組的照射光線,以及攝像部件,用于獲取所述顯示模組的圖像;其中,所述外部光源與所述攝像部件位于所述顯示模組的同一側(cè),所述照射光線與所述顯示模組的厚度方向之間的夾角大于0度且小于90度,所述攝像部件的鏡頭方向與所述顯示模組厚度方向之間的夾角大于0度且小于90度。
在一實(shí)施例中,所述照射光線與所述顯示模組的厚度方向之間的夾角等于所述攝像部件的鏡頭方向與所述顯示模組厚度方向之間的夾角。通過設(shè)置相同的夾角,可有效提高檢測(cè)精度。
在一實(shí)施例中,所述外部光源與所述攝像部件靠近所述顯示模組的同一側(cè)邊設(shè)置,或所述外部光源與所述攝像部件分別靠近所述顯示模組的不同側(cè)邊設(shè)置。通過將外部光源和攝像部件設(shè)置于顯示模組的同一側(cè)邊和不同側(cè)邊,可以根據(jù)光線的反射效果來區(qū)分缺陷區(qū)域,并且盡量實(shí)現(xiàn)照射光線經(jīng)顯示模組反射后為攝像部件獲取,從而提高獲取的圖像的亮度及顯示效果。
在一實(shí)施例中,所述外部光源包括多個(gè)發(fā)光體,多個(gè)發(fā)光體位于靠近所述顯示模組的同一側(cè)邊設(shè)置,或所述多個(gè)發(fā)光體靠近所述顯示模組的不同側(cè)邊設(shè)置。通過設(shè)置多個(gè)發(fā)光體,并單獨(dú)開啟與攝像部件位于同一側(cè)邊和不同側(cè)邊的發(fā)光體來獲取兩幅圖像,綜合判斷得出更為準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果,進(jìn)一步提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性。根據(jù)本發(fā)明的另一方面,本發(fā)明一實(shí)施例提供的一種顯示模組缺陷檢測(cè)方法,包括:提供照亮顯示模組的照射光線,其中,所述顯示模組包括顯示屏體和覆蓋于所述顯示屏體表面的保護(hù)膜,所述照射光線與所述顯示模組的厚度方向之間的夾角大于0度且小于90度;獲取所述顯示模組的圖像,其中,獲取所述圖像的攝像部件的鏡頭方向與所述顯示模組厚度方向之間的夾角大于0度且小于90度;以及當(dāng)所述圖像中存在與周圍圖像的形狀不同但是亮度相同的區(qū)域時(shí),確定該區(qū)域?yàn)樗鲲@示屏體的缺陷。
在一實(shí)施例中,所述照射光線與所述顯示模組的厚度方向之間的夾角等于所述圖像的攝像部件的鏡頭方向與所述顯示模組厚度方向之間的夾角。
在一實(shí)施例中,所述方法還包括:當(dāng)所述圖像中存在與周圍圖像的形狀和亮度均不同的區(qū)域時(shí),確定該區(qū)域?yàn)樗霰Wo(hù)膜的缺陷。利用照射光線照射到保護(hù)膜的缺陷上時(shí)會(huì)發(fā)生漫反射,從而造成該區(qū)域的亮度與周圍區(qū)域的亮度不同,以實(shí)現(xiàn)確定保護(hù)膜缺陷的目的。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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