[發(fā)明專利]一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910694076.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110473178A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 閆龑;陳果;王洋;毛雪慧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海深視信息科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00;G06T7/10;G06T7/62;G06K9/46 |
| 代理公司: | 31253 上海精晟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 姜杉<國(guó)際申請(qǐng)>=<國(guó)際公布>=<進(jìn)入國(guó) |
| 地址: | 200241 上海市*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢材 外觀缺陷檢測(cè) 多光源 融合處理 圖像 融合 預(yù)處理圖像 判別結(jié)果 圖像預(yù)處理模塊 預(yù)處理 圖像采集模塊 圖像檢測(cè)模塊 系統(tǒng)及設(shè)備 立體光源 圖像輸入 存儲(chǔ)器 低成本 處理器 光源 存儲(chǔ) 檢測(cè) 拍攝 學(xué)習(xí) 升級(jí) | ||
本發(fā)明提供了一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)及設(shè)備。一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法包括S1:使用多角度光源對(duì)檢材表面進(jìn)行拍攝,獲得多張檢材圖像;S2:對(duì)所述多張檢材圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到檢材預(yù)處理圖像;S3:將所述檢材預(yù)處理圖像進(jìn)行融合處理,得到檢材融合處理圖像;S4:將所述檢材融合處理圖像輸入到預(yù)先訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)模型中,得到判別結(jié)果;S5:存儲(chǔ)所述判別結(jié)果與所述多張檢材圖像,用于所述深度學(xué)習(xí)模型的模型升級(jí)。一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)系統(tǒng)包括立體光源圖像采集模塊、圖像預(yù)處理模塊、圖像檢測(cè)模塊。一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備包括存儲(chǔ)器、處理器。本發(fā)明的有益效果是低成本檢測(cè)缺陷。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及產(chǎn)品表面檢測(cè)領(lǐng)域,特別涉及一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
在傳統(tǒng)的工業(yè)產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中,由于碰撞、刮蹭、誤操作等原因,常會(huì)在產(chǎn)品表面留下凹坑,凸起,劃痕,臟污等缺陷。這些存在于產(chǎn)品表面的缺陷若不及時(shí)發(fā)現(xiàn)并加以補(bǔ)正,可能會(huì)對(duì)產(chǎn)品的外觀甚至是產(chǎn)品的使用產(chǎn)生影響,故在自動(dòng)化流水線生產(chǎn)過(guò)程中一般會(huì)采取一定的檢測(cè)手段對(duì)產(chǎn)品的表面缺陷進(jìn)行檢測(cè)并加以控制。
在傳統(tǒng)的產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中,早期使用人工檢測(cè)手段對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè),但一方面成本過(guò)高,另一方面由于抽檢率過(guò)低且實(shí)時(shí)性差,導(dǎo)致該種檢測(cè)手段效率極低,往往會(huì)導(dǎo)致次品出廠率較高;隨著技術(shù)水平的提高,近些年出現(xiàn)了基于光照立體視覺(jué)的檢測(cè)手段,如基于Halcon對(duì)產(chǎn)品表面進(jìn)行三維表面重建,從而檢測(cè)產(chǎn)品表面存在的裂紋,雖然這些方法很大程度上克服了人工檢測(cè)的缺點(diǎn),但一方面這一類光照立體視覺(jué)設(shè)備價(jià)格昂貴,另一方面環(huán)境要求苛刻,需要繁瑣的準(zhǔn)備工作,安裝困難,并且對(duì)于光源位置,參數(shù)等要求非常精確,如在廠房?jī)?nèi)發(fā)生較為強(qiáng)烈的震動(dòng),都可能會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)的失效,只能重新對(duì)設(shè)備進(jìn)行安裝,且在面臨較為復(fù)雜的外觀紋理時(shí)會(huì)將該紋理與缺陷相混淆,從而導(dǎo)致較高的誤檢率。
故市場(chǎng)亟需一種可以在成本低廉的前提下,具有良好的系統(tǒng)魯棒性與方案適應(yīng)性,可以有效分辨復(fù)雜的外觀紋理與缺陷的區(qū)別,從而有效的對(duì)產(chǎn)品表面缺陷進(jìn)行檢測(cè)的檢測(cè)方法。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明中披露了一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法及系統(tǒng),本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實(shí)施的:
一種基于多光源融合的外觀缺陷檢測(cè)方法,其特征在于,包括:S1:使用多角度光源對(duì)檢材表面進(jìn)行拍攝,獲得多張檢材圖像;S2:對(duì)所述多張檢材圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到檢材預(yù)處理圖像;S3:將所述檢材預(yù)處理圖像進(jìn)行融合處理,得到檢材融合處理圖像;S4:將所述檢材融合處理圖像輸入到預(yù)先訓(xùn)練的深度學(xué)習(xí)模型中,得到判別結(jié)果;S5:存儲(chǔ)所述判別結(jié)果與所述多張檢材圖像,用于所述深度學(xué)習(xí)模型的模型升級(jí)。
優(yōu)選地,所述預(yù)處理所使用的方法為裁剪、拼接、通道合并、濾波、模板定位方法中的一種或多種;所述融合處理所使用的方法為金字塔分解融合法、小波變換法、邏輯濾波法、灰度加權(quán)平均法或者對(duì)比調(diào)制法的一種或多種;所述判別結(jié)果為具有缺陷或者不具有缺陷的一種。
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