[發(fā)明專利]一種H10×6×5磁環(huán)的分選測試方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910693743.4 | 申請日: | 2019-07-30 |
| 公開(公告)號: | CN110501602A | 公開(公告)日: | 2019-11-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉洪建 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫斯貝爾磁性材料有限公司;江蘇省晶石磁性材料與器件工程技術(shù)研究有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/01 | 分類號: | G01R31/01 |
| 代理公司: | 11249 北京中恒高博知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 高玉濱<國際申請>=<國際公布>=<進入 |
| 地址: | 214400 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 磁環(huán) 綜合因子 測試 均方根 分選 產(chǎn)品標準要求 測試電流 測試工序 測試頻率 測試儀器 產(chǎn)品標準 測試儀 電性能 單圈 高導(dǎo) 開機 檢測 保證 生產(chǎn) | ||
本發(fā)明公開了一種H10×6×5磁環(huán)的分選測試方法,通過測試綜合因子,來使H10×6×5磁環(huán)的峰峰值、均方根值滿足標準;在高導(dǎo)H10×6×5磁環(huán)的電性能分選測試工序上,使用綜合因子測試儀進行測試;開機綜合因子測試儀器,調(diào)節(jié)儀器的測試頻率為40KHz,測試電流0.25A,單圈每只測試H10×6×5磁環(huán)產(chǎn)品的綜合因子,按照要求進行分選。本發(fā)明保護一種測試的方法,即H10×6×5磁環(huán)產(chǎn)品標準中要求檢測峰峰值、均方根值等參數(shù)。而實際生產(chǎn)中測試這些參數(shù)效率非常低,于是就通過測試磁環(huán)的綜合因子,來保證產(chǎn)品的峰峰值和均方根值都滿足產(chǎn)品標準要求。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及錳鋅鐵氧體高導(dǎo)磁環(huán)生產(chǎn)領(lǐng)域,是一種適用于H10×6×5磁環(huán)的分選測試方法,該分選測試方法用于錳鋅軟磁高導(dǎo)鐵氧體產(chǎn)品生產(chǎn)中,H10×6×5產(chǎn)品的電性能分選測試工序,通過檢驗綜合因子,對已經(jīng)燒結(jié)好的H10×6×5產(chǎn)品進行電性能全檢測試,滿足客戶的要求,提升產(chǎn)品的品質(zhì)。
背景技術(shù)
伴隨著磁性材料器件的片式化、小型化以及高集成化,客戶對磁環(huán)的要求也在不斷的提高,H10×6×5磁環(huán)是我公司大批量生產(chǎn)的一款產(chǎn)品,主要應(yīng)用在節(jié)能燈上面,市場前景非常廣闊。在節(jié)能燈中,磁環(huán)的互感能力,即能量傳輸能力才是真正起關(guān)鍵作用的參數(shù)。
在檢測時,客戶要求H10×6×5磁環(huán)的峰峰值、均方根值等參數(shù)滿足標準。測試這些參數(shù)時,需要使用到示波器、函數(shù)信號發(fā)生器和功率放大器,這些這種測試方法不僅浪費了人工,造成成本上升,而且效率非常低,測試一只磁環(huán)需要約10-15分鐘的時間,每天只能測試幾十只磁環(huán),根本就沒有產(chǎn)量,給公司造成損失。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明提供了一種H10×6×5磁環(huán)的分選測試方法,通過測試綜合因子,來使H10×6×5磁環(huán)的峰峰值、均方根值滿足標準;在高導(dǎo)H10×6×5磁環(huán)的電性能分選測試工序上,使用綜合因子測試儀進行測試。
優(yōu)選地,開機綜合因子測試儀器,調(diào)節(jié)儀器的測試頻率為40KHz,測試電流0.25A,單圈每只測試H10×6×5磁環(huán)產(chǎn)品的綜合因子,按照以下要求進行分選:
優(yōu)選地,綜合因子表征磁環(huán)對能量傳輸能力的大小,綜合因子數(shù)值大,磁環(huán)對能量傳輸?shù)哪芰痛螅詈蠓从硨θ龢O管的驅(qū)動能力也大。Hc是矯頑力,Br是剩磁,Bs是飽和磁通密度,μm是有效磁導(dǎo)率。
優(yōu)選地,綜合因子和峰峰值均方根值的對應(yīng)關(guān)系如下:
標準要求:
峰峰值:20KHz,1Apeak,Vpp=0.8-1.4V
均方根值:20KHz,1Apeak,Vm=0.22-0.3V
實際測試綜合因子為40KHz,0.25A,1TS,23±2℃,S=190-260。
本發(fā)明保護一種測試的方法,即H10×6×5磁環(huán)產(chǎn)品標準中要求檢測峰峰值、均方根值等參數(shù)。而實際生產(chǎn)中測試這些參數(shù)效率非常低,于是就通過測試磁環(huán)的綜合因子,來保證產(chǎn)品的峰峰值和均方根值都滿足產(chǎn)品標準要求。
具體實施方式
針對H10×6×5磁環(huán)產(chǎn)品在電性能檢測的這些問題,發(fā)明人積極思考,不斷進行研究和改進,通過一系列的試驗,發(fā)明人得出,磁環(huán)對能量的傳輸能力是由綜合因子決定的,綜合因子越大,磁環(huán)對能量的傳輸能力就越大,可以通過測試綜合因子,來使H10×6×5磁環(huán)的峰峰值、均方根值等參數(shù)滿足標準。
綜合因子是將Hc、Br、Bs、μm等根據(jù)作用大小,進行加權(quán)處理,得出的一個數(shù)值,綜合因子這個技術(shù)標準的出現(xiàn),使我們擺脫了測試峰峰值、均方根值等參數(shù)在測試時的效率偏低,徹底實現(xiàn)了生產(chǎn)的過程控制和最終檢驗控制。保證了產(chǎn)品的質(zhì)量,節(jié)省了人力物力,提升了效率和效益。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫斯貝爾磁性材料有限公司;江蘇省晶石磁性材料與器件工程技術(shù)研究有限公司,未經(jīng)無錫斯貝爾磁性材料有限公司;江蘇省晶石磁性材料與器件工程技術(shù)研究有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
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