[發(fā)明專利]基于實(shí)測點(diǎn)云分形融合的帶幾何誤差虛擬模型構(gòu)建方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910682273.1 | 申請日: | 2019-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN110569539B | 公開(公告)日: | 2021-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 裘樂淼;李恒;張樹有;王自立;譚建榮 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江大學(xué) |
| 主分類號: | G06F30/20 | 分類號: | G06F30/20;G06F30/17;G01B21/00;G01B21/20 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務(wù)所有限公司 33200 | 代理人: | 邱啟旺 |
| 地址: | 310058 浙江*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 實(shí)測 點(diǎn)云分形 融合 幾何 誤差 虛擬 模型 構(gòu)建 方法 | ||
1.一種基于實(shí)測點(diǎn)云分形融合的帶幾何誤差虛擬模型構(gòu)建方法,其特征在于,包括以下步驟:
(1)利用坐標(biāo)測量儀對零件表面部分進(jìn)行點(diǎn)云采樣,得到點(diǎn)云采樣區(qū)域z(x,y);點(diǎn)云采樣的精度為s,取粒度ε的初始值為2s;
(2)劃分殘差計(jì)算域z(r,t),計(jì)算區(qū)域殘差均方根Δz(r,t),從而得到殘差均方根F(ε)并保留,包括以下子步驟:
(2.1)將步驟(1)得到的點(diǎn)云采樣區(qū)域z(x,y)劃分為單元網(wǎng)格邊長為ε的元粒度網(wǎng)格網(wǎng)絡(luò),將一個(gè)單元網(wǎng)格區(qū)域作為一個(gè)殘差計(jì)算域z(r,t),則在元粒度網(wǎng)格網(wǎng)絡(luò)的x、y方向上分別有R、T個(gè)粒度為ε的殘差計(jì)算域z(r,t),其中r=1,2,...,R,t=1,2,...,T;
(2.2)分別對殘差計(jì)算域z(r,t)內(nèi)部點(diǎn)進(jìn)行平面擬合,得到擬合平面zni(xi,yj);計(jì)算各殘差計(jì)算域z(r,t)的區(qū)域殘差均方根Δz(r,t),計(jì)算公式如下:
其中,nr,nt分別為殘差計(jì)算域z(r,t)在x,y方向上的點(diǎn)的數(shù)量;z(xi,yj)為z(r,t)內(nèi)部點(diǎn)的實(shí)際高度值;
(2.3)根據(jù)步驟(2.2)得到的區(qū)域殘差均方根Δz(r,t),通過下式計(jì)算殘差均方根F(ε)并保留:
(3)設(shè)計(jì)三條線計(jì)算路徑,分別劃分二維殘差計(jì)算域z(h),計(jì)算二維殘差均方根F2(ε)并保留,包括以下子步驟:
(3.1)設(shè)計(jì)三條線計(jì)算路徑,分別為沿步驟(1)得到的點(diǎn)云采樣區(qū)域z(x,y)的x軸方向、y軸方向以及與x,y軸成45°方向;分別以每個(gè)線計(jì)算路徑方向作為橫坐標(biāo)x′軸方向,將三條計(jì)算路徑投影到各自對應(yīng)的新的x′-z二維坐標(biāo)系中,則線計(jì)算路徑可表示為z(x′);
(3.2)分別將步驟(3.1)得到的線計(jì)算路徑z(x′)劃分為單元線段長度為ε的元粒度線段,將一個(gè)單元線段作為一個(gè)二維殘差計(jì)算域z(h),則在線計(jì)算路徑上有H個(gè)粒度為ε的二維殘差計(jì)算域z(h),其中h=1,2,...,H;
(3.3)分別對二維殘差計(jì)算域z(h)內(nèi)部點(diǎn)進(jìn)行直線擬合,得到擬合直線zni(x′i);通過下式計(jì)算二維殘差均方根F2(ε)并保留:
其中,nh為二維殘差計(jì)算域z(h)在x′方向上的點(diǎn)的數(shù)量;z(x′i)為z(h)內(nèi)部點(diǎn)的實(shí)際高度值;
(4)判斷R,T,H是否小于10,包括以下兩種情況:
(4.1)如果R,T,H≥10,則更新粒度ε的值,將當(dāng)前粒度ε的值加上s后,跳轉(zhuǎn)至步驟(2)獲取新的殘差均方根F(ε)和二維殘差均方根F2(ε);
(4.2)如果R,T,H<10,得到各粒度ε值及其對應(yīng)的殘差均方根F(ε)和二維殘差均方根F2(ε);
(5)對步驟(4.2)得到的各粒度ε值及其對應(yīng)的殘差均方根F(ε)和二維殘差均方根F2(ε)取對數(shù),分別擬合logε和logF(ε)、logε和logF2(ε)之間的關(guān)系曲線,得到第一斜率第二斜率
(6)由步驟(5)得到的第一斜率根據(jù)下式計(jì)算三維分形維數(shù)D:
(7)由步驟(5)得到的第二斜率通過下式分別計(jì)算步驟(3.1)得到的三條線計(jì)算路徑的二維分形維數(shù)D2:
(8)根據(jù)步驟(7)得到的二維分形維數(shù)D2對零件表面部分進(jìn)行同異性判定,并基于步驟(6)得到的三維分形維數(shù)D進(jìn)行零件表面部分分形預(yù)重構(gòu);再利用小波變換對預(yù)重構(gòu)表面進(jìn)行多尺度表面特征分解,結(jié)合零件表面部分的表面參數(shù)對不同頻率的表面成分進(jìn)行再重構(gòu),包括以下子步驟:
(8.1)對零件表面進(jìn)行各向同性、各向異性判定:將步驟(7)得到的三條線計(jì)算路徑的各二維分形維數(shù)D2兩兩相減,若得到的三個(gè)差值的相對誤差大于等于10%,則判定零件表面為各向異性表面,反之則判定為各項(xiàng)同性表面;
(8.2)基于步驟(6)得到的三維分形維數(shù)D進(jìn)行零件表面分形預(yù)重構(gòu),得到分形曲面z′(x,y),包括以下兩種情況:
(8.2.1)將步驟(8.1)判定為各向同性表面的零件表面,依據(jù)下式計(jì)算分形曲面的高度,得到分形曲面z′(x,y):
其中,A=1;L為矩形點(diǎn)云采樣區(qū)域較長邊的長度;γ為分形尺度參數(shù),γ=1.5;M表示通過疊加形成最終零件表面的輪廓峰數(shù)量,M=10;nmax為樣本范圍內(nèi)的最大采樣次數(shù),nmax=22;為[0~2π]范圍內(nèi)的隨機(jī)相位;
(8.2.2)步驟(8.1)判定為各向異性表面的零件表面,依據(jù)下式計(jì)算分形曲面的高度,得到分形曲面z′(x,y):
其中,nmax為樣本范圍內(nèi)的最大采樣次數(shù),nmax=22;nmin=0;G為表征粗糙度高度的獨(dú)立分形參數(shù),G=1;γ為分形尺度參數(shù),γ=1.5;
(8.3)將步驟(8.2)得到的分形曲面z′(x,y)作為小波分析的輸入信號,分別進(jìn)行Nf、Nc、Ns次小波分解得到重構(gòu)波紋度表面重構(gòu)平面度表面重構(gòu)粗糙度表面各小波分解次數(shù)的計(jì)算公式如下:
其中,λf為表面成分中的波紋度波長,λs為表面成分中的粗糙度波長,λc為表面成分中的平面度波長;
(8.4)通過下式計(jì)算粗糙度輪廓修正系數(shù)kRa、平面度輪廓修正系數(shù)kFp、波紋度輪廓修正系數(shù)kWz:
其中,Ra為實(shí)際粗糙度值,F(xiàn)p為實(shí)際平面度值,Wz為實(shí)際波紋度值;與是重構(gòu)平面度表面的最大值與最小值;為重構(gòu)波紋度表面中第i大的值;為重構(gòu)波紋度表面中第i小的值;
(8.5)通過下式計(jì)算得到融合實(shí)測點(diǎn)云信息的帶幾何誤差虛擬模型znew(x,y):
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