[發(fā)明專利]用于運(yùn)行X射線裝置的方法和X射線裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910676962.1
• 申請日: 2019-07-25
• 公開（公告）號: CN110772271B
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 安德烈亞斯·菲塞爾曼;路德維希·里奇爾;朱莉婭·維克萊因;瑪格達(dá)萊娜·赫布斯特;克里斯托弗·盧克納
• 申請（專利權(quán)）人: 西門子醫(yī)療有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00;A61B6/06
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 丁永凡;蔣靜靜

1.一種用于運(yùn)行X射線裝置(1)的方法，其中記錄患者(6)的一系列圖像，并且包括至少一個X射線輻射器(3)的記錄裝置(2)在記錄該系列圖像期間在掃描方向上沿著所述患者(6)運(yùn)動，其中該系列圖像的各個圖像在記錄裝置的不同的位置處被記錄并且分別示出患者的不同的部段，其中通過評估示出所述患者(6)的至少兩個相同特征的不同圖像來求取所述特征中的至少一個特征的深度信息，

其中，

與描述所述記錄裝置(2)沿著掃描方向的位置的位置信息相關(guān)地，操控所述X射線輻射器(3)的準(zhǔn)直器(9)的準(zhǔn)直器開口，以沿著掃描方向改變由所述X射線輻射器(3)產(chǎn)生的輻射場的張角，其中在需要深度信息的區(qū)域中以更寬地張開的輻射場來記錄圖像以得到深度信息，并且在不需要深度信息的區(qū)域中以變窄的輻射場來記錄圖像以減少輻射劑量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，

其特征在于，

所述位置信息描述如下解剖學(xué)位置，所述解剖學(xué)位置描述所述記錄裝置(2)關(guān)于所述患者(6)的瞬時定位。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，

其特征在于，

所述解剖學(xué)位置從借助所述X射線裝置(1)的光學(xué)相機(jī)(25)記錄的圖像數(shù)據(jù)中確定，和/或所述解剖學(xué)位置從該系列圖像的至少一個已經(jīng)記錄的圖像中確定。

4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的方法，

其特征在于，

所述解剖學(xué)位置從描述所述記錄裝置(2)距其運(yùn)動的起點或者終點的瞬時距離的空間位置中確定。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，

其特征在于，

通過輸入到所述X射線裝置(1)的計算裝置(7)中的用戶輸入和/或通過將所述記錄裝置(2)手動移動到對應(yīng)于所述解剖學(xué)位置的空間位置中來進(jìn)行不同的解剖學(xué)位置與不同的空間位置的關(guān)聯(lián)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，

其特征在于，

從該系列圖像的至少一個圖像中確定解剖學(xué)標(biāo)記，其中針對所述解剖學(xué)標(biāo)記確定至少一個深度信息。

7.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，

其特征在于，

與關(guān)聯(lián)信息相關(guān)地進(jìn)行所述準(zhǔn)直器開口與解剖學(xué)位置的關(guān)聯(lián)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，

其特征在于，

所述關(guān)聯(lián)信息保存在所述X射線裝置(1)的計算裝置(7)中。

9.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，

其特征在于，

根據(jù)所述位置信息，操控所述X射線輻射器(3)的所述準(zhǔn)直器(9)的所述準(zhǔn)直器開口，以正交于所述掃描方向改變由所述X射線輻射器(3)產(chǎn)生的輻射場的張角。

10.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，

其特征在于，

除了所述X射線輻射器(3)的所述準(zhǔn)直器(9)的所述準(zhǔn)直器開口之外，改變所述X射線裝置(1)的至少一個其他記錄參數(shù)，其中作為記錄參數(shù)尤其使用：所述記錄裝置(2)的掃描速度和/或所述X射線輻射器(3)的管電流-時間乘積和/或所述X射線輻射器(3)的電壓和/或所述X射線輻射器(3)的X射線焦點-患者間距。

11.根據(jù)權(quán)利要求1至3中任一項所述的方法，

其特征在于，

使用包括記錄裝置(2)的與所述至少一個X射線輻射器(3)相對置的至少一個X射線探測器(4)，其中與所述位置信息相關(guān)地設(shè)定所述至少一個X射線探測器(4)的記錄參數(shù)。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的方法，

其特征在于，

作為所述X射線探測器(4)的記錄參數(shù)，改變所述X射線探測器(4)的準(zhǔn)直器的準(zhǔn)直器開口和/或探測器輸入劑量和/或X射線焦點-探測器間距和/或由所述輻射場的中央射束(15)和所述X射線探測器(4)的探測器法線形成的角度。