[發明專利]轉換橫波檢波點靜校正方法及裝置

在審

• 申請號: 201910676852.5
• 申請日: 2019-07-25
• 公開（公告）號: CN112305613A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 王棟;楊海濤;王鴻燕;錢忠平;呂文彪
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
• 主分類號: G01V1/36
• 分類號: G01V1/36
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 王濤;任默聞

1.一種轉換橫波檢波點靜校正方法，其特征在于，所述方法包括：

根據縱波與轉換橫波的對應層位的平均時間比值及縱波檢波點靜校正量，確定近似轉換橫波檢波點靜校正量；

對應用了所述近似轉換橫波檢波點靜校正量的轉換橫波數據進行常規去噪、振幅補償、反褶積以及道集抽取處理，得到轉換橫波共漸近線道集數據；

對縱波共中心點道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到縱波疊加剖面；

對所述轉換橫波共漸近線道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到第一輪轉換橫波疊加剖面；

分別在所述縱波疊加剖面及第一輪轉換橫波疊加剖面上拾取標志層位，并利用所述標志層位作為控制點對縱波疊加剖面進行拉伸；

將拉伸后的縱波疊加剖面作為第一模型道，對所述轉換橫波共漸近線道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到第二輪轉換橫波疊加剖面；

將所述第二輪轉換橫波疊加剖面作為第二模型道，對所述轉換橫波共漸近線道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到第三輪轉換橫波疊加剖面及第三輪剩余靜校正量；

將所述近似轉換橫波檢波點靜校正量與所述第三輪剩余靜校正量疊加，得到最終轉換橫波檢波點靜校正總量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：根據縱波速度及橫波速度的比值，確定縱波與轉換橫波的對應層位的平均時間比值。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：根據縱波數據，確定縱波檢波點靜校正量。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，在所述對縱波共中心點道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到縱波疊加剖面之前包括：對應用了所述縱波檢波點靜校正量的縱波數據進行常規去噪、振幅補償、反褶積以及道集排選處理，得到縱波共中心點道集數據。

5.一種轉換橫波檢波點靜校正裝置，其特征在于，所述裝置包括：

近似靜校正量模塊，用于根據縱波與轉換橫波的對應層位的平均時間比值及縱波檢波點靜校正量，確定近似轉換橫波檢波點靜校正量；

道集抽取處理模塊，用于對應用了所述近似轉換橫波檢波點靜校正量的轉換橫波數據進行常規去噪、振幅補償、反褶積以及道集抽取處理，得到轉換橫波共漸近線道集數據；

縱波疊加剖面模塊，用于對縱波共中心點道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到縱波疊加剖面；

第一輪疊加剖面模塊，用于對所述轉換橫波共漸近線道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到第一輪轉換橫波疊加剖面；

剖面拉伸模塊，用于分別在所述縱波疊加剖面及第一輪轉換橫波疊加剖面上拾取標志層位，并利用所述標志層位作為控制點對縱波疊加剖面進行拉伸；

第二輪疊加剖面模塊，用于將拉伸后的縱波疊加剖面作為第一模型道，對所述轉換橫波共漸近線道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到第二輪轉換橫波疊加剖面；

第三輪疊加剖面模塊，用于將所述第二輪轉換橫波疊加剖面作為第二模型道，對所述轉換橫波共漸近線道集數據進行多輪地表一致性剩余靜校正處理及疊加處理，得到第三輪轉換橫波疊加剖面及第三輪剩余靜校正量；

靜校正量確定模塊，用于將所述近似轉換橫波檢波點靜校正量與所述第三輪剩余靜校正量疊加，得到最終轉換橫波檢波點靜校正總量。

6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：平均時間比值模塊，用于根據縱波速度及橫波速度的比值，確定縱波與轉換橫波的對應層位的平均時間比值。

7.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：縱波靜校正量模塊，用于根據縱波數據，確定縱波檢波點靜校正量。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：道集排選處理模塊，用于對應用了所述縱波檢波點靜校正量的縱波數據進行常規去噪、振幅補償、反褶積以及道集排選處理，得到縱波共中心點道集數據。