[發明專利]一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭

在審

• 申請號: 201910675664.0
• 申請日: 2019-07-25
• 公開（公告）號: CN110375904A
• 公開（公告）日: 2019-10-25
• 發明（設計）人: 楊琨;楊攀宇;李繼鑫;翟亮亮
• 申請（專利權）人: 武漢理工大學
• 主分類號: G01L3/24
• 分類號: G01L3/24
• 代理公司: 六安市新圖匠心專利代理事務所(普通合伙) 34139
• 代理人: 朱小杰

1.一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭，包括底座（10），其特征在于，所述底座（10）的頂端兩側分別安裝有激光發射模塊（1）和激光受光模塊（8），激光發射模塊（1）和激光受光模塊（8）之間設有信號穩定模塊（5）和信號濾波模塊（9），激光發射模塊（1）的頂部開有水平設置的光學激光發射室（2），光學激光發射室（2）的內部安裝有半導體激光發射器（13）和激光聚焦透鏡（14），激光聚焦透鏡（14）位于半導體激光發射器（13）靠近激光受光模塊（8）的一側，所述激光受光模塊（8）包括光學激光受光室（4），光學激光受光室（4）的內部安裝有光電二極管（15），所述底座（10）的底端開有高頻信號屏蔽線通道（12），高頻信號屏蔽線通道（12）內安裝有高頻信號屏蔽線。

2.根據權利要求1所述的一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭，其特征在于，所述激光受光模塊（8）上設有航空接口孔（7），光學激光受光室（4）的側壁上開有光電二極管固定孔（6），光電二極管（15）通過固定架安裝在光電二極管固定孔（6）內。

3.根據權利要求1所述的一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭，其特征在于，所述光學激光發射室（2）的頂端開有激光聚焦透鏡固定孔（3），激光聚焦透鏡固定孔（3）內安裝有轉動手柄，轉動手柄的一端連接有激光聚焦透鏡（14）。

4.根據權利要求1所述的一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭，其特征在于，所述光電二極管（15）的信號輸出端通過高頻信號屏蔽線與信號穩定模塊（5）的信號輸入端連接，信號通過RC一階濾波電路后進入LM393芯片的5號引腳，經由LM393處理后信號從其2號引腳輸出至信號輸出端，然后通過高頻信號屏蔽線與信號濾波模塊（9）的信號輸入端連接，經過一階RC濾波電路后進入74HC14D芯片1號引腳，經其處理后從2號引腳輸出至信號濾波模塊（9）的信號輸出端（20）。

5.根據權利要求1所述的一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭，其特征在于，所述底座（10）的底端安裝有定位室（11），底座（10）通過定位室固定在裝機平臺上。

6.根據權利要求1所述的一種抗電磁干擾激光光電軸功率測量探頭，其特征在于，所述高頻信號屏蔽線與半導體激光發射器（13）和光電二極管（15）的供電線一起經由高頻信號屏蔽線通道（12）從激光受光模塊（8）中部空洞處接入航空接口孔（7）。