[發(fā)明專利]MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910666282.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110333193A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘭樹(shù)明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無(wú)錫迅杰光遠(yuǎn)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/27 | 分類號(hào): | G01N21/27;G01N21/25;G01J3/28;G01J3/06;G01J3/10 |
| 代理公司: | 無(wú)錫華源專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 32228 | 代理人: | 聶啟新 |
| 地址: | 214135 江蘇省無(wú)錫市菱湖大*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 閉環(huán) 光譜成像系統(tǒng) 系統(tǒng)輸出 光纖束 照射 抗環(huán)境干擾能力 光譜成像技術(shù) 波長(zhǎng)穩(wěn)定性 陣列探測(cè)器 保障系統(tǒng) 波長(zhǎng)校準(zhǔn) 待測(cè)樣品 復(fù)雜移動(dòng) 高速成像 光譜成像 光譜校準(zhǔn) 靜態(tài)條件 可調(diào)光源 寬帶光源 圖像信息 推掃成像 系統(tǒng)采集 系統(tǒng)形成 引入光纖 照明方式 轉(zhuǎn)換成面 耦合 均勻化 線光源 耦合的 波長(zhǎng) 可調(diào) 狹縫 成像 光源 搭配 三維 輸出 引入 外部 | ||
1.一種MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng)包括:寬帶光源、照明分光系統(tǒng)、MEMS微鏡陣列、光纖束、陣列探測(cè)器、光譜校準(zhǔn)系統(tǒng)、主控電路板、光源驅(qū)動(dòng)電路、微鏡驅(qū)動(dòng)電路、陣列探測(cè)器控制電路,所述主控電路板分別連接所述光源驅(qū)動(dòng)電路、微鏡驅(qū)動(dòng)電路和陣列探測(cè)器控制電路;所述光源驅(qū)動(dòng)電路連接并驅(qū)動(dòng)所述寬帶光源,所述照明分光系統(tǒng)將所述寬帶光源發(fā)出的寬帶光按照空間分解成按波長(zhǎng)排列的光并照射到所述MEMS微鏡陣列上,所述MEMS微鏡陣列包括沿著色散方向呈陣列形式排布的N個(gè)MEMS微鏡,N為整數(shù),所述微鏡驅(qū)動(dòng)電路連接并驅(qū)動(dòng)所述MEMS微鏡陣列中各個(gè)MEMS微鏡的反射角度使所述MEMS微鏡陣列輸出相應(yīng)波長(zhǎng)的光,每個(gè)所述MEMS微鏡通過(guò)所述微鏡驅(qū)動(dòng)電路施加的驅(qū)動(dòng)電壓連續(xù)控制角度,所述MEMS微鏡陣列輸出的光分別耦合到光纖束和光譜校準(zhǔn)系統(tǒng),所述光纖束的輸出端連接準(zhǔn)直器作為系統(tǒng)照明照射采集工位處的待測(cè)樣品,所述光譜校準(zhǔn)系統(tǒng)連接所述主控電路板,所述陣列探測(cè)器正對(duì)所述采集工位處的待測(cè)樣品,所述陣列探測(cè)器控制電路連接并控制所述陣列探測(cè)器。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述照明分光系統(tǒng)包括:狹縫、準(zhǔn)直透鏡、透射光柵和聚焦透鏡,所述寬帶光源發(fā)出的寬帶光經(jīng)所述狹縫耦合到所述準(zhǔn)直透鏡上,所述準(zhǔn)直透鏡發(fā)出的光耦合到所述透射光柵上,所述透射光柵將寬帶光按照空間分解成按波長(zhǎng)排列的光,分光后的光透過(guò)所述聚焦透鏡照射到所述MEMS微鏡陣列上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述寬帶光源安裝在光源基座上,所述光源基座帶有散熱結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述MEMS微鏡陣列包括微鏡陣列基座、N個(gè)MEMS微鏡、封裝窗片和外接引腳,所述N個(gè)MEMS微鏡沿著色散方向依次排列呈陣列形式布設(shè)在所述微鏡陣列基座上,所述封裝窗片蓋設(shè)封裝在所述N個(gè)MEMS微鏡上,所述外接引腳分別連接所述N個(gè)MEMS微鏡,所述微鏡驅(qū)動(dòng)電路通過(guò)所述外接引腳連接所述MEMS微鏡陣列。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述光譜校準(zhǔn)系統(tǒng)包括校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)和光電探測(cè)器,所述MEMS微鏡陣列輸出的光耦合到所述光纖束,所述光纖束的一個(gè)輸出端連接準(zhǔn)直器作為系統(tǒng)照明,所述光纖束的另一個(gè)輸出端連接所述光電探測(cè)器,所述光電探測(cè)器連接所述主控電路板,所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)設(shè)置在所述MEMS微鏡陣列和所述光纖束的輸入端之間,所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)包括校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座以及設(shè)置在所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座上的多波長(zhǎng)濾光片,校準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)裝置連接所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座,所述主控電路板連接并驅(qū)動(dòng)所述校準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)裝置帶動(dòng)所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座運(yùn)動(dòng)使所述多波長(zhǎng)濾光片進(jìn)入所述MEMS微鏡陣列與所述光纖束之間的光路。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座上還設(shè)置有參比擋片,所述多波長(zhǎng)濾光片和參比擋片沿著所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座的運(yùn)動(dòng)方向依次設(shè)置,所述主控電路板驅(qū)動(dòng)所述校準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)裝置帶動(dòng)所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座運(yùn)動(dòng)使所述參比擋片進(jìn)入所述MEMS微鏡陣列與所述光纖束之間的光路。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座上還設(shè)置有暗噪聲擋片,所述多波長(zhǎng)濾光片和暗噪聲擋片沿著所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座的運(yùn)動(dòng)方向依次設(shè)置,所述主控電路板驅(qū)動(dòng)所述校準(zhǔn)驅(qū)動(dòng)裝置帶動(dòng)所述校準(zhǔn)結(jié)構(gòu)基座運(yùn)動(dòng)使所述暗噪聲擋片進(jìn)入所述MEMS微鏡陣列與所述光纖束之間的光路。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng),其特征在于,所述MEMS型靜態(tài)閉環(huán)光譜成像系統(tǒng)還包括信號(hào)處理器和樣品輸送系統(tǒng),所述信號(hào)處理器連接所述主控電路板,所述樣品輸送系統(tǒng)包括傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和傳動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)器,所述信號(hào)處理器連接并驅(qū)動(dòng)所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)器,所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)器連接并驅(qū)動(dòng)所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu),所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)上放置有不同的待測(cè)樣品,所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)將待測(cè)樣品輸送到所述采集工位處。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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