[發明專利]基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路

在審

• 申請號: 201910665459.6
• 申請日: 2019-07-23
• 公開（公告）號: CN110488114A
• 公開（公告）日: 2019-11-22
• 發明（設計）人: 馬柯;姜山
• 申請（專利權）人: 上海交通大學
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 31317 上海恒慧知識產權代理事務所(特殊普通合伙)
• 代理人: 徐紅銀<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，包括：電流發生器和測試單元，所述電流發生器向所述測試單元提供測試電流；其中，每個所述測試單元包括兩個反向串聯的被測子模塊；測試單元之間呈串聯關系；當所述測試單元接收到所述電流發生器發送的測試電流時，所述測試單元測試所述被測子模塊的電壓信號，或者測試所述被測子模塊的電壓信號和電流信號。

2.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述電流發生器包括：單相變流器和濾波器；所述單相變流器的第一端與所述濾波器的輸入端連接，所述濾波器輸出端與串聯的所述測試單元的第一輸入端相連，所述單相變流器的第二端與串聯的所述測試單元的第二輸入端相連。

3.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述被測子模塊包括：橋式變流器和電容器，所述橋式變流器和所述電容器并聯。

4.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述被測子模塊中的橋式變流器包括以下任一：

半橋型變流器；

全橋型變流器。

5.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述測試單元中的兩個反向串聯連接的被測子模塊用于分別模擬級聯型變流器整流或逆變的運行工況；兩個反向串聯連接的被測子模塊的電容電壓直流分量方向相反，大小相等。

6.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述電流發生器中的所述濾波器采用以下任一類型：

L型濾波器、LC型濾波器、LCL型濾波器。

7.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述測試單元中被測子模塊對應實際級聯型變流器中的子模塊，所述電流發生器生成電流對應所述測試單元中被測子模塊在實際級聯型變流器中所在橋臂的電流；所述測試電流包括：各相的上、下橋臂電流。

8.根據權利要求1所述的基于反向串接結構的級聯型變流器子模塊測試電路，其特征在于，所述測試單元及其內部被測子模塊在不改變電氣連接關系的前提下，在測試電路中能夠按照任意順序進行排列。