[發明專利]高溫高速等離子體內部磁場分布測量的耐高溫磁場探針

有效

• 申請號: 201910659211.9
• 申請日: 2019-07-22
• 公開（公告）號: CN110568386B
• 公開（公告）日: 2022-01-25
• 發明（設計）人: 李小平;趙成偉;劉彥明;孫超;劉東林;韓明智;竇超
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G01R33/10
• 分類號: G01R33/10
• 代理公司: 西安長和專利代理有限公司 61227
• 代理人: 何畏

1.一種高溫高速等離子體內部磁場分布測量的耐高溫磁場探針，其特征在于，所述耐高溫磁場探針設置有：

磁場探針，用于接收空間磁場信號；所述磁場探針包括探針、探針地、連接線、過渡段、過渡段地、耐高溫陶瓷介質；

探針和過渡段是相互連通，探針地和過渡段地相互連通的；

磁場探針采用共面波導形式，探針為共面波導的內導體，探針地為共面波導的外導體；在探針和同軸接頭之間增加180mm的過渡段；探針遠離過渡段的一端與一側的探針地相連接形成第一個磁場環，連接線將探針與另一側的探針地相連接形成第二個磁場環；

耐高溫陶瓷介質包括兩層介質板，探針、探針地、連接線、過渡段和過渡段地蝕刻在其中一層介質板的一側；兩層介質板將含有蝕刻探針的覆銅夾在中間；

支撐固定座，用于固定磁場探針的陶瓷介質及同軸接頭的安裝，保護磁場探針免受高速流動的等離子體的沖擊破壞；

同軸接頭，用于向磁場探針傳輸信號；

所述耐高溫陶瓷介質相對介電常數ε為4.2，單層介質板厚度H為1mm，陶瓷介質承受時間為1s的3000K的高溫；

所述支撐固定座由固定腔體和安裝法蘭組成；

所述同軸接頭由同軸內導體、同軸外導體和同軸法蘭組成；

同軸接頭的同軸法蘭用螺釘緊固在安裝法蘭上，并且同軸內導體與過渡段焊接，同軸外導體與過渡段地焊接。

2.一種應用權利要求1所述耐高溫磁場探針的高溫高速等離子體內部磁場測量系統。

3.一種安裝有權利要求2所述高溫高速等離子體內部磁場測量系統的航天器。