[發明專利]極坐標格式成像的幾何形變誤差校正方法和裝置

有效

• 申請號: 201910658812.8
• 申請日: 2019-07-19
• 公開（公告）號: CN110673142B
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發明（設計）人: 劉亞波;肖枚;劉霖;喻忠軍
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G01S13/90
• 分類號: G01S13/90;G01S7/40
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 任巖

1.一種極坐標格式成像的幾何形變誤差校正方法，其特征在于，包括：

推導極坐標格式成像算法在任意斜視角下的幾何形變誤差公式；

利用所述極坐標格式成像算法得到成像圖像；

根據所述幾何形變誤差公式對所述成像圖像進行校正，得到校正后的圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，推導極坐標格式成像算法在任意斜視角下的幾何形變誤差公式，包括：

根據所述極坐標格式成像算法的原理，得到極坐標格式成像中目標斜距歷程公式；

根據所述目標斜距歷程公式，推導出所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，根據所述目標斜距歷程公式，推導出所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式，包括：

將所述目標斜距歷程公式進行泰勒展開，得到所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式；

將所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式，在雷達偏離基準點的預設角度處，進行泰勒展開，并代入波數矢量系數，得到所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，將所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式，在雷達偏離基準點的預設角度處，進行泰勒展開，并代入波數矢量系數，得到所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式，包括：

依次將所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式中的正弦公式和余弦公式，在所述預設角度處進行泰勒展開，并代入波數矢量系數，得到與所述正弦公式和余弦公式相對應的轉換式；

根據所述轉換式，得到所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在根據所述幾何形變誤差公式對所述成像圖像進行校正，得到校正后的圖像之前，所述方法還包括：

利用所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式計算出所述成像圖像中預設目標點的偏移距離，并與所述成像圖像中呈現的預設目標點的偏移距離進行比較，驗證所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式的正確性。

6.一種極坐標格式成像的幾何形變誤差校正裝置，其特征在于，包括：

公式獲取單元，用于推導極坐標格式成像算法在任意斜視角下的幾何形變誤差公式；

成像圖像獲取單元，用于利用所述極坐標格式成像算法得到成像圖像；

成像圖像校正單元，用于根據所述幾何形變誤差公式對所述成像圖像進行校正，得到校正后的圖像。

7.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述公式獲取單元，包括：

斜距歷程公式獲取子單元，用于根據所述極坐標格式成像算法的原理，得到極坐標格式成像中目標斜距歷程公式；

幾何形變誤差公式獲取子單元，用于根據所述目標斜距歷程公式，推導出所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述幾何形變誤差公式獲取子單元，包括：

第一公式獲取子單元，用于將所述目標斜距歷程公式進行泰勒展開，得到所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式；

第二公式獲取子單元，將所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式，在雷達偏離基準點的預設角度處，進行泰勒展開，并代入波數矢量系數，得到所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式。

9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述第二公式獲取子單元，包括：

公式轉換子單元，依次將所述目標斜距歷程公式的泰勒展開式中的正弦公式和余弦公式，在所述預設角度處進行泰勒展開，并代入波數矢量系數，得到與所述正弦公式和余弦公式相對應的轉換式；

公式獲取子單元，根據所述轉換式，得到所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式。

10.根據權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

公式驗證單元，連接于所述成像圖像獲取單元與成像圖像校正單元之間，用于利用所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式計算出所述成像圖像中預設目標點的偏移距離，并與所述成像圖像中呈現的預設目標點的偏移距離進行比較，驗證所述任意斜視角下的幾何形變誤差公式的正確性。