[發明專利]變壓器參數測試系統、測試方法及計算機存儲介質

有效

• 申請號: 201910655320.3
• 申請日: 2019-07-19
• 公開（公告）號: CN110208633B
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 陸文偉;劉偉;謝俊朋
• 申請（專利權）人: 裕文新興電子（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R31/62
• 分類號: G01R31/62
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及變壓器參數測試系統、測試方法及計算機存儲介質，其中，測試系統包括測試電源、萬能表、負載電路和電磁控制開關電路；電磁控制開關電路包括第二開關Y02、第三開關Y03、第四開關Y04、第五開關Y05、第六開關Y06、第七開關Y07、第八開關Y08、第十開關Y10和第十一開關Y11；被測變壓器包括輸入線圈、第一輸出線圈和第二輸出線圈；輸入線圈的第一端與第二開關Y02的另一端相連，第二端與第三開關Y03的另一端相連；第一輸出線圈的第一端與第五開關Y05的另一端相連，第二端與第六開關Y06的另一端相連；第二輸出線圈的第一端與第七開關Y07的另一端相連，第二端與第八開關Y08的另一端相連。與現有技術相比，在保證測試精度的條件下，提高了測試效率。

技術領域

本發明涉及電子設備參數測試領域，特別是涉及變壓器設備參數測試的測試系統、測試方法及計算機存儲介質。

背景技術

對于變壓器的性能參數檢測項目，包括IPO（空載輸入電流或輸入激磁電流）測試項目、相位/匝數測試項目和負載輸出電壓測試項目，用于檢測是否滿足相應需求，從而得出變壓器的性能是否合格。

現有的測試方法，一類對上述三個測試項目所采用的測試電路系統分開，測試時，測試那個項目則連接相應的測試電路系統，然后人工讀取測試結果數據并進行記錄；另一類，雖然會對至少兩個測試項目集成在一個測試電路系統中，但是一方面電路結構復雜，難以控制，另一方面測試過程需要人工干預的程度高，測試過程緩慢，測試過程不方便自動切換測試，測試效率低。

發明內容

本發明提供了一種變壓器參數測試系統，具有便于提高測試效率的特點。

本發明還提供了一種變壓器參數測試方法，具有測試效率更高的特點。

本發明還提供了一種計算機存儲介質，具有輔助實現上述變壓器參數測試方法，提高測試效率的特點。

根據本發明提供的一種變壓器參數測試系統，包括測試電源、萬能表、負載電路和電磁控制開關電路；所述電磁控制開關電路包括第二開關Y02、第三開關Y03、第四開關Y04、第五開關Y05、第六開關Y06、第七開關Y07、第八開關Y08、第十開關Y10和第十一開關Y11；

所述萬能表的公共端Com分別與第二開關Y02的一端、第五開關Y05的一端和第七開關Y07的一端相連，電流端A與第十一開關Y11的一端相連，電壓端V分別與第三開關Y03的一端、第六開關Y06的一端和第八開關Y08的一端相連；

所述第二開關Y02的另一端與第十一開關Y11的另一端之間連接有第十開關Y10；所述測試電源的一端與所述第十一開關Y11的另一端相連，所述測試電源的另一端與所述第三開關Y03的另一端相連；

被測變壓器包括輸入線圈、第一輸出線圈和第二輸出線圈；所述輸入線圈的第一端與第二開關Y02的另一端相連，第二端與第三開關Y03的另一端相連；所述第一輸出線圈的第一端與第五開關Y05的另一端相連，第二端與第六開關Y06的另一端相連；所述第二輸出線圈的第一端與第七開關Y07的另一端相連，第二端與第八開關Y08的另一端相連；所述輸入線圈的第二端與第一輸出線圈的第一端及第一輸出線圈的第二端與第二輸出線圈的第二端通過第四開關Y04相連；

所述負載電路包括第一負載電路和第二負載電路，所述第一負載電路為第一輸出線圈的負載電路，第二負載電路為第二輸出線圈的負載電路。

基于上述測試系統，在簡單的電路結構基礎上，通過簡單的控制，就能夠實現被測變壓器的IPO測試、相位/匝數測試和輸出電壓測試，從而很大程度上提高了測試效率。

所述第一負載電路和第二負載電路分別串聯有第九開關Y09。

所述輸入線圈的第一端和第二端分別串聯有第一開關Y01。