[發明專利]一種射野計算方法及系統

有效

• 申請號: 201910654786.1
• 申請日: 2019-07-19
• 公開（公告）號: CN110389372B
• 公開（公告）日: 2022-10-21
• 發明（設計）人: 胡強;陳立新;黃欠平;錢豪
• 申請（專利權）人: 廣州瑞多思醫療科技有限公司
• 主分類號: G01T1/185
• 分類號: G01T1/185;G01T1/161;G06F17/18;A61N5/10
• 代理公司: 廣州博聯知識產權代理有限公司 44663
• 代理人: 梁志標

1.一種射野計算方法，其特征在于，包括以下步驟：

在檢測板被加速器照射時，獲取檢測板上同一計算路線上的若干個電離室所檢測到的電荷量；

對獲取到的若干個所述電荷量進行歸一化處理得到同一計算路線上的平均測量數；

根據預設的測量數-射野關系，將所述平均測量數轉化為所述計算路線上的射野范圍；

所述測量數-射野關系通過以下步驟進行設定：

使用加速器以一已知的射野范圍對同一計算路線上的若干個電離室進行照射；

獲取所述同一計算路線上的若干個電離室所檢測到的電荷量；

對獲取到的若干個所述電荷量進行歸一化處理得到同一計算路線上的平均測量數；

重復多次以上步驟，獲得多個所述平均測量數和多個對應的射野范圍；

使用擬合算法，對多個所述平均測量數和多個對應的射野范圍進行擬合，得到所述測量數-射野關系；

所述歸一化處理為以下步驟：

將所述若干個電離室中的中心電離室所檢測到的電荷量作為基準值；所述中心電離室為設置在檢測板中心，且在加速器照射時處于射野中心的電離室；

將除中心電離室以外的其余電離室所檢測到的電荷量分別與所述基準值進行比值計算得到相應的測量數；

將計算得到的若干個電離室對應的測量數進行平均值計算，得到所述平均測量數。

2.根據權利要求1所述的射野計算方法，其特征在于，所述將除中心電離室以外的其余電離室所檢測到的電荷量分別與所述基準值進行比值計算得到相應的測量數的步驟前還包括以下步驟：

將除中心電離室以外的其余電離室所檢測到的電荷量使用對應的修正系數進行修正。

3.根據權利要求1所述的射野計算方法，其特征在于，所述擬合算法為線性擬合算法。

4.根據權利要求1所述的射野計算方法，其特征在于，所述計算路線為：

以所述中心電離室為起點向檢測板邊緣延伸的路線；

或，經過所述中心電離室和檢測板邊緣的任意兩點的路線。

5.一種射野計算系統，其特征在于，包括：

設置在檢測板上的：

中心電離室以及設置在中心電離室周圍的若干組檢測電離室，每組檢測電離室設置在同一計算路線上，每組檢測電離室包括若干個檢測電離室；

所述電離室用于在加速器照射時檢測電荷量；

處理器，與各所述電離室連接以接收所述電荷量，用于執行權利要求1-4中任一項所述的方法。

6.根據權利要求5所述的射野計算系統，其特征在于，包括中心電離室以及設置在中心電離室周圍的四組檢測電離室；

所述四組檢測電離室分別設置于呈十字分布的四個方向上。

7.根據權利要求6所述的射野計算系統，其特征在于，所述檢測電離室的形狀為長方形，其長邊與所在的計算路線平行。

8.根據權利要求6所述的射野計算系統，其特征在于，每組檢測電離室包括一個檢測電離室。