[發(fā)明專利]自動(dòng)化測(cè)試框架和測(cè)試用例的執(zhí)行方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910649195.5
• 申請(qǐng)日: 2019-07-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110399299B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-09-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 常相宇;趙靜;熊云萍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳證券交易所
• 主分類號(hào): G06F11/36
• 分類號(hào): G06F11/36
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 胡海國(guó)

本發(fā)明公開(kāi)了一種自動(dòng)化測(cè)試框架，所述自動(dòng)化測(cè)試框架包括：用例控制層，用于解析測(cè)試用例；執(zhí)行控制層，用于確定測(cè)試用例的執(zhí)行順序以及測(cè)試用例的執(zhí)行規(guī)則；驅(qū)動(dòng)適配層，用于提供統(tǒng)一的關(guān)鍵字接口，所述關(guān)鍵字接口用于統(tǒng)一各種類型的測(cè)試用例中的關(guān)鍵字；底層驅(qū)動(dòng)層，用于提供若干自動(dòng)化測(cè)試工具，所述自動(dòng)化測(cè)試工具用于執(zhí)行測(cè)試用例。本發(fā)明還公開(kāi)一種測(cè)試用例的執(zhí)行方法。本發(fā)明降低了自動(dòng)化測(cè)試實(shí)施的難度和成本。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種自動(dòng)化測(cè)試框架和測(cè)試用例的執(zhí)行方法。

背景技術(shù)

在關(guān)鍵字驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)化測(cè)試的實(shí)施過(guò)程中，需要將測(cè)試用例轉(zhuǎn)化為腳本，并通過(guò)自動(dòng)化工具執(zhí)行。

目前業(yè)界主流的自動(dòng)化測(cè)試工具有Selemium、Qtp、Appium等，分別側(cè)重于不同類型系統(tǒng)(如Web應(yīng)用、移動(dòng)端App、Windows客戶端)的自動(dòng)化測(cè)試的執(zhí)行。由于產(chǎn)品線系統(tǒng)類型不同，自動(dòng)化測(cè)試工具不同，導(dǎo)致關(guān)鍵字實(shí)現(xiàn)差異和維護(hù)困難，增加了自動(dòng)化測(cè)試實(shí)施的難度和成本；

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種自動(dòng)化測(cè)試框架和測(cè)試用例的執(zhí)行方法，旨在解決測(cè)試用例的自動(dòng)化測(cè)試實(shí)施的難度和成本較高的問(wèn)題。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種自動(dòng)化測(cè)試框架，所述自動(dòng)化測(cè)試框架包括：

用例控制層，用于解析測(cè)試用例；

執(zhí)行控制層，用于確定測(cè)試用例的執(zhí)行順序以及測(cè)試用例的執(zhí)行規(guī)則；

驅(qū)動(dòng)適配層，用于提供統(tǒng)一的關(guān)鍵字接口，所述關(guān)鍵字接口用于統(tǒng)一各種類型的測(cè)試用例中的關(guān)鍵字；

底層驅(qū)動(dòng)層，用于提供若干自動(dòng)化測(cè)試工具，所述自動(dòng)化測(cè)試工具用于執(zhí)行測(cè)試用例。

在一實(shí)施例中，所述驅(qū)動(dòng)適配層包括控件識(shí)別模塊、控件操作模塊、控件驅(qū)動(dòng)模塊以及公共組件。

在一實(shí)施例中，所述自動(dòng)化測(cè)試工具包括B/S測(cè)試工具、C/S測(cè)試工具、APP測(cè)試工具以及Windows測(cè)試工具中的至少二種。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供一種測(cè)試用例的執(zhí)行方法，所述測(cè)試用例的執(zhí)行方法應(yīng)用于如上所述的自動(dòng)化測(cè)試框架，所述測(cè)試用例的執(zhí)行方法包括以下步驟：

在獲取測(cè)試用例后，控制用例控制層解析所述測(cè)試用例生成測(cè)試任務(wù)；

獲取自動(dòng)化測(cè)試框架中的已有關(guān)鍵字，并根據(jù)所述已有關(guān)鍵字注冊(cè)關(guān)鍵字；

在執(zhí)行控制層中獲取所述測(cè)試用例的執(zhí)行規(guī)則以確定測(cè)試用例的執(zhí)行順序以及實(shí)行方式，并根據(jù)所述執(zhí)行順序以及所述實(shí)行方式對(duì)所述測(cè)試任務(wù)進(jìn)行初始化；

控制驅(qū)動(dòng)適配層調(diào)用底層驅(qū)動(dòng)層中封裝的自動(dòng)化測(cè)試工具執(zhí)行所述測(cè)試用例中的關(guān)鍵字，以完成初始化的測(cè)試任務(wù)，其中，所述測(cè)試步驟中的關(guān)鍵字與注冊(cè)的關(guān)鍵字一致。

在一實(shí)施例中，所述獲取UI自動(dòng)化測(cè)試框架中的已有關(guān)鍵字的步驟包括：

確定所述測(cè)試用例中的測(cè)試步驟對(duì)應(yīng)的測(cè)試方法；

根據(jù)所述測(cè)試方法掃描所述自動(dòng)化測(cè)試框架中的已有關(guān)鍵字。

在一實(shí)施例中，所述測(cè)試用例的執(zhí)行方法，還包括：

控制所述用例控制層解析所述測(cè)試用例得到所述測(cè)試用例的用例結(jié)構(gòu)，其中，所述用例結(jié)構(gòu)包括測(cè)試步驟、控件名稱、控件定位、控件操作以及控件參數(shù)；

輸出所述用例結(jié)構(gòu)以供測(cè)試人員修改所述測(cè)試用例。

在一實(shí)施例中，所述控制驅(qū)動(dòng)適配層調(diào)用底層驅(qū)動(dòng)層中封裝的自動(dòng)化測(cè)試工具執(zhí)行所述測(cè)試用例中的關(guān)鍵字的步驟之后，還包括：

在完成初始化的測(cè)試任務(wù)后，生成并輸出測(cè)試報(bào)告。