[發明專利]鏈路質量評估方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201910642021.6
• 申請日: 2019-07-16
• 公開（公告）號: CN110278131A
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 朱臣
• 申請（專利權）人: 邁普通信技術股份有限公司
• 主分類號: H04L12/26
• 分類號: H04L12/26;H04L12/24
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 安衛靜

1.一種鏈路質量評估方法，其特征在于，所述方法包括：

對鏈路進行測試，得到鏈路的質量參數；

將所述質量參數與預設的多個標準參數范圍所對應的參數值進行匹配，得到與所述質量參數對應的匹配等級，其中，每個所述標準參數范圍分別對應不同的等級；

根據所述匹配等級，評估所述鏈路的質量。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在評估所述鏈路的質量之前，所述方法還包括：

獲取與所述鏈路對應的預估等級；

所述根據所述匹配等級，評估所述鏈路的質量，包括：

根據所述預估等級以及所述匹配等級，評估所述鏈路的質量。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，當所述預估等級為基于系統默認設置而來時，根據所述預估等級以及所述匹配等級，評估所述鏈路的質量，包括：

在確定所述預估等級與所述匹配等級不一致時，將所述匹配等級確定為所述鏈路的質量。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，當所述預估等級為基于獲取用戶的設置而來時，根據所述預估等級以及所述匹配等級，評估所述鏈路的質量，包括：

在確定所述預估等級與所述匹配等級不一致時，將所述預估等級確定為所述鏈路的質量。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對鏈路進行測試，得到鏈路的質量參數，包括：

每隔預設時間對所述鏈路進行測試，得到多個與所述鏈路對應的瞬時質量參數；

所述將所述質量參數與預設的多個標準參數范圍所對應的參數值進行匹配，得到與所述質量參數對應的匹配等級，其中，一個所述標準參數范圍對應一個不同的等級，包括：

將每個所述瞬時質量參數與所述多個標準參數范圍所對應的參數值進行匹配，得到多個瞬時匹配等級；

根據所述多個瞬時匹配等級中各個等級的占比來確定與所述質量參數對應的所述匹配等級。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，根據所述多個瞬時匹配等級中各個等級的占比來確定與所述質量參數對應的所述匹配等級，包括：

將所述多個瞬時匹配等級中占比最大的瞬時匹配等級確定為所述匹配等級。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，每種所述質量等級包括多種狀態，針對每種所述質量等級，與之對應的標準參數范圍根據所述狀態的種類被劃分為多個區間，每種所述狀態對應一個所述區間；在得到與所述質量參數對應的匹配等級之后，所述方法還包括：

將所述質量參數與所述多個區間對應的參數值進行匹配，得到與所述質量參數對應的匹配等級所適配的狀態；

所述根據所述匹配等級，評估所述鏈路的質量，包括：

根據所述匹配等級以及所述適配的狀態，評估所述鏈路的質量。

8.一種鏈路質量評估裝置，其特征在于，所述裝置包括：

測試模塊，用于對鏈路進行測試，得到鏈路的質量參數；

匹配模塊，用于將所述質量參數與預設的多個標準參數范圍所對應的參數值進行匹配，得到與所述質量參數對應的匹配等級，其中，一個所述標準參數范圍對應一個不同的等級；

評估模塊，用于根據所述匹配等級，評估所述鏈路的質量。

9.一種電子設備，其特征在于，包括：存儲器和處理器，所述存儲器和所述處理器連接；

所述存儲器用于存儲程序；

所述處理器調用存儲于所述存儲器中的程序，以執行如權利要求1-7中任一項所述的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被計算機運行時執行如權利要求1-7中任一項所述的方法。