[發明專利]一種產品缺陷識別方法

在審

• 申請號: 201910641300.0
• 申請日: 2019-07-16
• 公開（公告）號: CN110349150A
• 公開（公告）日: 2019-10-18
• 發明（設計）人: 陳證雧;吳嘉航
• 申請（專利權）人: 昆山亙恒智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/38;G06K9/46;G01N21/88
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種產品缺陷識別方法，其特征在于，包括如下步驟：

通過光學設備獲取產品圖像；

去除圖像背景，留下圖像的關鍵特征，并縮小圖像尺寸；

通過深度學習算法篩選出圖像中的瑕疵。

2.根據權利要求1所述的產品缺陷識別方法，其特征在于，所述去除圖像背景，留下圖像的關鍵特征，并縮小圖像尺寸，包括：

將圖像進行第一次二值化處理；

將二值化處理后的圖像進行第一次特征分離，獲得最大特征圖像，去除最大特征圖像周圍的其它特征；

將分離出來的最大特征圖像內部填滿；

去除背景；

將去除背景后的最大特征圖像進行第二次二值化處理；

對最大特征圖像進行第二次特征分離，獲得分離后的產品特征圖像；

將產品特征圖像填滿；

取得前景物件并縮小圖像尺寸，輸出。

3.根據權利要求1所述的產品缺陷識別方法，其特征在于，所述深度學習算法，包括：

截取多個產品圖像的特征圖像，并對特征圖像有無缺陷進行標記；

將多個特征圖像逐一或疊加后進行權重學習；

對特征圖像的缺陷進行預測；

若預測結果與標記不一致，則重復上述步驟；

若預測結果與標記一致，則將預測結果與對應特征圖像一并存儲于數據庫中，結束深度學習過程。