[發(fā)明專利]產(chǎn)品缺陷檢測方法、裝置、設(shè)備和存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201910639919.8
• 申請日: 2019-07-16
• 公開（公告）號: CN112330583A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊文文
• 申請（專利權(quán)）人: 青島智動精工電子有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11205
• 代理人: 楊俊輝;劉芳

1.一種產(chǎn)品缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取數(shù)據(jù)存儲模塊的工作狀態(tài)；

若所述數(shù)據(jù)存儲模塊的工作狀態(tài)為有效狀態(tài)，獲取所述數(shù)據(jù)存儲模塊中的位置信息，所述有效狀態(tài)用于指示所述數(shù)據(jù)存儲模塊存儲有產(chǎn)品圖像中缺陷部位的位置信息，所述位置信息用于指示產(chǎn)品圖像中缺陷部位的位置；

根據(jù)所述位置信息，對所述產(chǎn)品圖像中的缺陷部位進行標記。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述數(shù)據(jù)存儲模塊存儲有對所述缺陷部位進行標記的標記信息；

所述根據(jù)所述位置信息，對所述產(chǎn)品圖像中的缺陷部位進行標記，包括：

將所述標記信息標記在所述位置信息對應(yīng)的缺陷部位上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述獲取所述數(shù)據(jù)存儲模塊中的位置信息之前，所述方法還包括：

對所述產(chǎn)品圖像進行缺陷檢測，得到所述缺陷部位的位置信息和標記信息；

將所述位置信息和所述標記信息保存在所述數(shù)據(jù)存儲模塊中。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

將缺陷標記后的產(chǎn)品圖像進行保存。

5.一種產(chǎn)品缺陷檢測裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取數(shù)據(jù)存儲模塊的工作狀態(tài)；

所述獲取模塊，還用于若所述數(shù)據(jù)存儲模塊為有效狀態(tài)，獲取所述數(shù)據(jù)存儲模塊中的位置信息，所述有效狀態(tài)用于指示所述數(shù)據(jù)存儲模塊存儲有產(chǎn)品圖像中缺陷部位的位置信息，所述位置信息用于指示產(chǎn)品圖像中缺陷部位的位置；

處理模塊，用于根據(jù)所述位置信息，對所述產(chǎn)品圖像中的缺陷部位進行標記。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)存儲模塊存儲有對所述缺陷部位進行標記的標記信息；

所述處理模塊，具體用于：

將所述標記信息標記在所述位置信息對應(yīng)的缺陷部位上。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述處理模塊，還用于：

對所述產(chǎn)品圖像進行缺陷檢測，得到所述缺陷部位的位置信息和標記信息；

所述裝置還包括：

存儲模塊，用于將所述位置信息和所述標記信息保存在所述數(shù)據(jù)存儲模塊中。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述存儲模塊，還用于：

將缺陷標記后的產(chǎn)品圖像進行保存。

9.一種電子設(shè)備，包括處理器、存儲器及存儲在所述存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)如上述權(quán)利要求1-4任一項所述的方法。

10.一種存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)中存儲有指令，當其在計算機上運行時，使得計算機執(zhí)行如權(quán)利要求1-4任一項所述的方法。