[發明專利]顯示面板檢測方法

有效

• 申請號: 201910638525.0
• 申請日: 2019-07-16
• 公開（公告）號: CN110428764B
• 公開（公告）日: 2022-10-04
• 發明（設計）人: 李金財
• 申請（專利權）人: TCL華星光電技術有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識產權事務所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發明提供一種顯示面板檢測方法，該方法包括：對顯示面板進行光學檢測，得到光學檢測數據；對顯示面板進行電性檢測，得到電性檢測數據；根據預設條件對所述光學檢測數據和所述電性檢測數據進行合并，生成面板檢測數據。本發明提供的顯示面板檢測方法，通過對顯示面板進行光學檢測得到光學檢測數據和進行電性檢測得到的電性檢測數據，再根據預設條件對光學檢測數據和電性檢測數據進行合并生成面板檢測數據；該面板檢測數據包括有顯示面板缺陷的位置信息，當顯示面板進入修補機臺后，修補機臺就會讀取最新合并生成的面板檢測數據對顯示面板進行修補，避免了顯示面板的缺陷漏放，提升了顯示面板的良率。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種顯示面板檢測方法。

背景技術

在液晶顯示技術領域，液晶顯示器件的不良現象經常發生，不良現象多種多樣。減少不良的發生，提高產品的良品率，從而節約成本是每個廠家一直追求的目標。

在有機發光二極管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)制造過程中，液晶顯示器件產生不良的現象是不可以避免的。所述不良主要分兩大類別光學不良和電學不良。相應地，在制作產品的過程中，有光學檢測設備和電學檢測設備，液晶顯示面板的不良可以通過光學檢測設備和電學檢測設備檢測相應的不良現象，如通過光學檢測設備檢測液晶是否具有缺陷、或通過電學檢測設備檢測TFT是否有壞損的情況。

但是現有的不良檢測存在以下缺陷：第一、工程不良反饋時間較長，無法同時針對一張玻璃基板上的所有面板進行測量。當某一不良存在一張玻璃基板上的所有面板中時，一一測試面板的不良，明顯帶來較大的工作量。并且，現有無法在切割工藝之前反應面板的不良，會導致產品的報廢率較高。第二、檢測出的不良無法判斷是電學不良還是光學不良。

發明內容

本發明針對現有技術下的面板檢測方法，無法準確判斷顯示面板中的缺陷位置，造成顯示面板漏放的問題，提出一種顯示面板檢測方法，該顯示面板檢測方法包括：

對顯示面板進行光學檢測，得到光學檢測數據；

對顯示面板進行電性檢測，得到電性檢測數據；

根據預設條件對所述光學檢測數據和所述電性檢測數據進行合并，生成面板檢測數據。

進一步的，在所述根據預設條件對所述光學檢測數據和所述電性檢測數據進行合并，生成面板檢測數據之前，所述方法還包括：

判斷所述電性檢測數據中是否存在標識數據；

若所述電性檢測數據中存在標識數據，確定所述顯示面板中存在缺陷；

所述根據預設條件對所述光學檢測數據和所述電性檢測數據進行合并，生成面板檢測數據，包括：

當所述顯示面板中存在缺陷時，對所述光學檢測數據與所述電性檢測數據進行合并，生成面板檢測數據。

進一步的，所述光學檢測數據包括所述顯示面板中缺陷點的光學位置信息，所述電性檢測數據包括所述顯示面板中缺陷點的電性位置信息；

所述根據預設條件對所述光學檢測數據和所述電性檢測數據進行合并，生成面板檢測數據，包括：

根據預設條件對所述光學位置信息和所述電性位置信息在同一坐標系中進行合并，生成所述面板檢測數據。

進一步的，所述對顯示面板進行光學檢測，得到光學檢測數據包括：

對所述顯示面板進行第一光學檢測，得到第一光學檢測數據；

對所述顯示面板進行第二光學檢測，得到第二光學檢測數據；

所述對顯示面板進行電性檢測，得到電性檢測數據包括：

對所述顯示面板進行第一電性檢測，得到第一電性檢測數據；