[發(fā)明專(zhuān)利]顯示面板檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910638525.0
• 申請(qǐng)日: 2019-07-16
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110428764B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-10-04
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李金財(cái)
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: TCL華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G09G3/00
• 分類(lèi)號(hào): G09G3/00;G02F1/13
• 代理公司: 深圳翼盛智成知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44300
• 代理人: 黃威

本發(fā)明提供一種顯示面板檢測(cè)方法，該方法包括：對(duì)顯示面板進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，得到光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)；對(duì)顯示面板進(jìn)行電性檢測(cè)，得到電性檢測(cè)數(shù)據(jù)；根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)。本發(fā)明提供的顯示面板檢測(cè)方法，通過(guò)對(duì)顯示面板進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)得到光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和進(jìn)行電性檢測(cè)得到的電性檢測(cè)數(shù)據(jù)，再根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)；該面板檢測(cè)數(shù)據(jù)包括有顯示面板缺陷的位置信息，當(dāng)顯示面板進(jìn)入修補(bǔ)機(jī)臺(tái)后，修補(bǔ)機(jī)臺(tái)就會(huì)讀取最新合并生成的面板檢測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)顯示面板進(jìn)行修補(bǔ)，避免了顯示面板的缺陷漏放，提升了顯示面板的良率。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種顯示面板檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

在液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，液晶顯示器件的不良現(xiàn)象經(jīng)常發(fā)生，不良現(xiàn)象多種多樣。減少不良的發(fā)生，提高產(chǎn)品的良品率，從而節(jié)約成本是每個(gè)廠家一直追求的目標(biāo)。

在有機(jī)發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)制造過(guò)程中，液晶顯示器件產(chǎn)生不良的現(xiàn)象是不可以避免的。所述不良主要分兩大類(lèi)別光學(xué)不良和電學(xué)不良。相應(yīng)地，在制作產(chǎn)品的過(guò)程中，有光學(xué)檢測(cè)設(shè)備和電學(xué)檢測(cè)設(shè)備，液晶顯示面板的不良可以通過(guò)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備和電學(xué)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)相應(yīng)的不良現(xiàn)象，如通過(guò)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)液晶是否具有缺陷、或通過(guò)電學(xué)檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)TFT是否有壞損的情況。

但是現(xiàn)有的不良檢測(cè)存在以下缺陷：第一、工程不良反饋時(shí)間較長(zhǎng)，無(wú)法同時(shí)針對(duì)一張玻璃基板上的所有面板進(jìn)行測(cè)量。當(dāng)某一不良存在一張玻璃基板上的所有面板中時(shí)，一一測(cè)試面板的不良，明顯帶來(lái)較大的工作量。并且，現(xiàn)有無(wú)法在切割工藝之前反應(yīng)面板的不良，會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的報(bào)廢率較高。第二、檢測(cè)出的不良無(wú)法判斷是電學(xué)不良還是光學(xué)不良。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)下的面板檢測(cè)方法，無(wú)法準(zhǔn)確判斷顯示面板中的缺陷位置，造成顯示面板漏放的問(wèn)題，提出一種顯示面板檢測(cè)方法，該顯示面板檢測(cè)方法包括：

對(duì)顯示面板進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，得到光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)；

對(duì)顯示面板進(jìn)行電性檢測(cè)，得到電性檢測(cè)數(shù)據(jù)；

根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步的，在所述根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)之前，所述方法還包括：

判斷所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)中是否存在標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)；

若所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)中存在標(biāo)識(shí)數(shù)據(jù)，確定所述顯示面板中存在缺陷；

所述根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)，包括：

當(dāng)所述顯示面板中存在缺陷時(shí)，對(duì)所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)與所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步的，所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)包括所述顯示面板中缺陷點(diǎn)的光學(xué)位置信息，所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)包括所述顯示面板中缺陷點(diǎn)的電性位置信息；

所述根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)所述光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)和所述電性檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行合并，生成面板檢測(cè)數(shù)據(jù)，包括：

根據(jù)預(yù)設(shè)條件對(duì)所述光學(xué)位置信息和所述電性位置信息在同一坐標(biāo)系中進(jìn)行合并，生成所述面板檢測(cè)數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步的，所述對(duì)顯示面板進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)，得到光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)包括：

對(duì)所述顯示面板進(jìn)行第一光學(xué)檢測(cè)，得到第一光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)；

對(duì)所述顯示面板進(jìn)行第二光學(xué)檢測(cè)，得到第二光學(xué)檢測(cè)數(shù)據(jù)；

所述對(duì)顯示面板進(jìn)行電性檢測(cè)，得到電性檢測(cè)數(shù)據(jù)包括：

對(duì)所述顯示面板進(jìn)行第一電性檢測(cè)，得到第一電性檢測(cè)數(shù)據(jù)；