[發(fā)明專利]一種基于5G的LED屏檢方法及系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910636998.7 | 申請日: | 2019-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN110544230A | 公開(公告)日: | 2019-12-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 曾志;雷登似;羅中良 | 申請(專利權(quán))人: | 惠州學(xué)院 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00 |
| 代理公司: | 44205 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人: | 何文聰<國際申請>=<國際公布>=<進(jìn)入 |
| 地址: | 516007 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 原始圖像 屏幕 電子電路板 生產(chǎn)流水線 人工智能 產(chǎn)品缺陷 調(diào)整設(shè)備 分析處理 屏幕分析 屏幕檢測 屏幕圖像 生產(chǎn)環(huán)節(jié) 網(wǎng)絡(luò)發(fā)送 液晶電視 低時延 質(zhì)量控制 高清 回傳 分辨 拍照 分析 采集 圖像 傳輸 輸出 智能 檢測 應(yīng)用 | ||
1.一種基于5G的LED屏檢方法,其特征在于,包括以下步驟:
對生產(chǎn)線上的LED屏幕進(jìn)行屏幕圖像的采集,得到屏幕原始圖像;
將屏幕原始圖像通過5G網(wǎng)絡(luò)發(fā)送中央分析站,以使得中央分析站對屏幕原始圖像進(jìn)行分析處理,得出屏幕分析結(jié)果并輸出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于5G的LED屏檢方法,其特征在于:所述屏幕原始圖像包括高灰度圖像、中灰度圖像和暗場圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種基于5G的LED屏檢方法,其特征在于:所述的對生產(chǎn)線上的LED屏幕進(jìn)行屏幕圖像的采集,得到屏幕原始圖像,這一步驟具體為:
對生產(chǎn)線上的LED屏幕在R通道、G通道和B通道上分別采集高灰度圖像、中灰度圖像和暗場圖像,得到屏幕原始圖像;其中,所述的屏幕原始圖像包括R通道的高灰度圖像、R通道的中灰度圖像、R通道的暗場圖像、G通道的高灰度圖像、G通道的中灰度圖像、G通道的暗場圖像、B通道的高灰度圖像、B通道的中灰度圖像和B通道的暗場圖像。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于5G的LED屏檢方法,其特征在于:所述的對屏幕原始圖像進(jìn)行分析處理,這一步驟具體包括:
對屏幕原始圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到第一圖像;
對第一圖像進(jìn)行濾波處理,得到第二圖像;
對第二圖像進(jìn)行亮度校正,得到第三圖像;
對第三圖像進(jìn)行水平集分割處理,得到第四圖像;
根據(jù)第四圖像進(jìn)行缺陷檢測,得到缺陷分析結(jié)果。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于5G的LED屏檢方法,其特征在于:所述的根據(jù)第四圖像進(jìn)行缺陷檢測,得到缺陷分析結(jié)果,這一步驟具體包括:
對第四圖像進(jìn)行缺陷分類,得到缺陷分類結(jié)果;
根據(jù)缺陷分類結(jié)果,按照對應(yīng)的缺陷檢測方式對第四圖像進(jìn)行缺陷檢測,得出缺陷分析結(jié)果。
6.一種基于5G的LED屏檢系統(tǒng),其特征在于,包括:
攝像頭矩陣,用于對生產(chǎn)線上的LED屏幕進(jìn)行屏幕圖像的采集,得到屏幕原始圖像;
5G通信模塊,用于將屏幕原始圖像通過5G網(wǎng)絡(luò)發(fā)送中央分析站,
中央分析站,用于對屏幕原始圖像進(jìn)行分析處理,得出屏幕分析結(jié)果并輸出;
所述攝像頭矩陣通過5G通信模塊進(jìn)而與中央分析站無線連接。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于5G的LED屏檢方法,其特征在于:所述的中央分析站具體包括:
第一圖像處理單元,用于對屏幕原始圖像進(jìn)行預(yù)處理,得到第一圖像;
第二圖像處理單元,用于對第一圖像進(jìn)行濾波處理,得到第二圖像;
第三圖像處理單元,用于對第二圖像進(jìn)行亮度校正,得到第三圖像;
第四圖像處理單元,用于對第三圖像進(jìn)行水平集分割處理,得到第四圖像;
缺陷分析單元,用于根據(jù)第四圖像進(jìn)行缺陷檢測,得到缺陷分析結(jié)果。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于5G的LED屏檢系統(tǒng),其特征在于:所述的缺陷分析單元具體包括:
分類單元,用于對第四圖像進(jìn)行缺陷分類,得到缺陷分類結(jié)果;
分析單元,用于根據(jù)缺陷分類結(jié)果,按照對應(yīng)的缺陷檢測方式對第四圖像進(jìn)行缺陷檢測,得出缺陷分析結(jié)果。
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