[發明專利]一種致密砂巖全視域的孔隙、物性檢測方法和裝置

在審

• 申請號: 201910632906.8
• 申請日: 2019-07-15
• 公開（公告）號: CN110487696A
• 公開（公告）日: 2019-11-22
• 發明（設計）人: 王繼平;邵紅梅;洪淑新;趙俊麗;潘會芳;李艦;王永超;裴昌蓉;譚文麗
• 申請（專利權）人: 大慶油田有限責任公司
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 23115 大慶知文知識產權代理有限公司
• 代理人: 楊英健<國際申請>=<國際公布>=<進入

1.一種致密砂巖全視域的孔隙檢測方法，其特征在于，包括：

利用熒光染料對致密砂巖的孔隙進行填充，得到鑄體樣品；

在全視域下，對所述鑄體樣品進行掃描，得到若干所述孔隙對應的二維熒光數據；

利用全部所述二維熒光數據進行表面建模，得到表面模型的圖像，所述圖像用于展示所述致密砂巖孔隙分布位置和形態；

分別計算若干所述二維熒光數據對應的熒光區域面積，根據所述熒光區域面積得到每個所述孔隙的等效孔隙直徑。

2.根據權利要求1所述的檢測方法，其特征在于：

在全視域下，對所述鑄體樣品進行掃描，得到二維數據；

對所述二維數據進行分離，得到所述二維數據；

其中，所述二維數據為全視域鑄體樣品的數據，包括：所述二維熒光數據和巖石骨架二維數據。

3.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，在對所述鑄體樣品進行掃描前，確定所述熒光染料的波長范圍；以及/或

所述確定所述熒光染料的波長范圍的方法為：選擇第一設定波長的激光作為激發光源對所述熒光染料進行掃描，多次接收一定范圍的特征熒光光譜數據；分別對多次所述的特征熒光光譜數據繪制熒光光譜曲線，將若干所述光光譜曲線疊加到一張譜圖中，確定所述熒光染料的波長范圍；

根據所述波長范圍得到若干所述孔隙對應的二維熒光數據；

其中，所述多次至少為1次。

4.根據權利要求1或2所述的檢測方法，其特征在于，還包括：

計算面孔率，所述面孔率的計算方法為：

計算所述熒光區域面積之和；

計算所述鑄體樣品的面積；

所述面孔率為所述熒光區域面積之和除以所述鑄體樣品的面積；

其中，將所述鑄體樣品等效為圓面。

5.一種致密砂巖的物性檢測方法，其特征在于，包括：

如權利要求1-4任一項所述的檢測方法；

利用所述等效孔隙直徑判斷所述致密砂巖的儲層物性，其方法為：

設定所述等效孔隙直徑的若干區間范圍；

分別計算落入所述若干區間范圍內等效孔隙直徑的數量；

分別計算所述數量與總孔隙數量的百分比；

取所述百分比中的最大值對應的所述等效孔隙直徑為所述致密砂巖的儲層物性的判斷依據。

6.一種致密砂巖全視域的孔隙檢測裝置，其特征在于，包括：

制備單元，利用熒光染料對致密砂巖的孔隙進行填充，得到鑄體樣品；

二維熒光數據獲取單元，在全視域下對所述鑄體樣品進行掃描，得到若干所述孔隙對應的二維熒光數據；

表面建模單元，利用全部所述二維熒光數據進行表面建模，得到表面模型的圖像，所述圖像用于展示所述致密砂巖孔隙分布位置和形態；

計算單元，分別計算若干所述二維熒光數據對應的熒光區域面積，根據所述熒光區域面積得到每個所述孔隙的等效孔隙直徑。

7.根據權利要求6所述的檢測裝置，其特征在于，還包括：

分離單元；

在全視域下，對所述鑄體樣品進行掃描，得到二維數據；

所述分離單元，獲取所述二維數據，對所述二維數據進行分離，得到所述二維數據；

其中，所述二維數據為全視域鑄體樣品的數據，包括：所述二維熒光數據和巖石骨架二維數據。

8.根據權利要求6或7所述的檢測裝置，其特征在于，還包括：

確定單元和/或子確定單元，所述確定單元包括所述子確定單元；

所述確定單元，在對所述鑄體樣品進行掃描前，確定所述熒光染料的波長范圍；

所述子確定單元，用于確定所述熒光染料的波長范圍，完成以下操作或者程序：選擇第一設定波長的激光作為激發光源對所述熒光染料進行掃描，多次接收一定范圍的特征熒光光譜數據；分別對多次所述的特征熒光光譜數據繪制熒光光譜曲線，將若干所述光光譜曲線疊加到一張譜圖中，確定所述熒光染料的波長范圍；

根據所述波長范圍得到若干所述孔隙對應的二維熒光數據；

其中，所述多次至少為1次。