[發明專利]安檢違禁品檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質

有效

• 申請號: 201910629063.6
• 申請日: 2019-07-12
• 公開（公告）號: CN110286415B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 蘇渝校;何昭水;談季;陳鎮元;白玉磊;譚北海;謝勝利
• 申請（專利權）人: 廣東工業大學
• 主分類號: G01V5/00
• 分類號: G01V5/00;G06K9/62
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 田媛媛

1.一種安檢違禁品檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢X光圖像，其中，所述待檢X光圖像為三通道像素圖像；

根據所述待檢X光圖像，獲取所述待檢X光圖像的三通道像素矩陣；

全局平均池化所述三通道像素矩陣，得到向量；

將所述向量輸入全連接層，得到輸出后向量；

將所述輸出后向量和所述三通道像素矩陣相乘，得到處理后三通道像素矩陣；

對所述待檢X光圖像進行灰度處理，得到單通道像素矩陣；

拼接所述處理后三通道像素矩陣和所述單通道像素矩陣，得到第一四通道像素矩陣；

將所述第一四通道像素矩陣輸入經過訓練的預設檢測器，得到違禁品的名稱和所述違禁品位于所述待檢X光圖像中的第一坐標；

處理所述待檢X光圖像得到縮小版待檢X光圖像和放大版待檢X光圖像；

分別根據所述縮小版待檢X光圖像和所述放大版待檢X光圖像，獲取對應的第二四通道像素矩陣、第三四通道像素矩陣；

分別將所述第二四通道像素矩陣、所述第三四通道像素矩陣輸入所述預設檢測器，得到對應的第二坐標、第三坐標；

分別變換所述第二坐標、所述第三坐標為所述待檢X光圖像中的坐標，得到對應的變換后第二坐標、變換后第三坐標；

融合所述第一坐標、變換后第二坐標、變換后第三坐標，得到融合后坐標。

2.如權利要求1所述的安檢違禁品檢測方法，其特征在于，所述處理所述待檢X光圖像得到縮小版待檢X光圖像和放大版待檢X光圖像包括：

利用雙線性差值方法處理所述待檢X光圖像，得到預處理縮小版待檢X光圖像和所述放大版待檢X光圖像；

利用定值填補、四周填補處理所述預處理縮小版待檢X光圖像，得到所述縮小版待檢X光圖像。

3.如權利要求2所述的安檢違禁品檢測方法，其特征在于，所述融合所述第一坐標、變換后第二坐標、變換后第三坐標，得到融合后坐標包括：

利用非極大值抑制算法融合所述第一坐標、所述變換后第二坐標、所述變換后第三坐標，得到所述融合后坐標。

4.如權利要求1至3任一項所述的安檢違禁品檢測方法，其特征在于，在所述得到所述融合后坐標之后，還包括：

發送所述融合后坐標和所述違禁品的名稱至顯示屏。

5.如權利要求4所述的安檢違禁品檢測方法，其特征在于，所述預設檢測器為RetinaNet檢測器。

6.一種用于實現如權利要求1所述的安檢違禁品檢測方法的安檢違禁品檢測裝置，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于獲取待檢X光圖像，其中，所述待檢X光圖像為三通道像素圖像；

第二獲取模塊，用于根據所述待檢X光圖像，獲取所述待檢X光圖像的三通道像素矩陣；

池化模塊，用于全局平均池化所述三通道像素矩陣，得到向量；

第一輸入模塊，用于將所述向量輸入全連接層，得到輸出后向量；

相乘模塊，用于將所述輸出后向量和所述三通道像素矩陣相乘，得到處理后三通道像素矩陣；

灰度處理模塊，用于對所述待檢X光圖像進行灰度處理，得到單通道像素矩陣；

拼接模塊，用于拼接所述處理后三通道像素矩陣和所述單通道像素矩陣，得到第一四通道像素矩陣；

第二輸入模塊，用于將所述第一四通道像素矩陣輸入經過訓練的預設檢測器，得到違禁品的名稱和所述違禁品位于所述待檢X光圖像中的第一坐標。

7.如權利要求6所述的安檢違禁品檢測裝置，其特征在于，還包括：

發送模塊，用于發送融合后坐標和所述違禁品的名稱至顯示屏。

8.一種安檢違禁品檢測設備，其特征在于，包括：

存儲器，用于存儲計算機程序；

處理器，用于執行所述計算機程序時實現如權利要求1至5任一項所述安檢違禁品檢測方法的步驟。

9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至5任一項所述安檢違禁品檢測方法的步驟。