[發(fā)明專利]一種多脈沖激光雷達(dá)目標(biāo)檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910623545.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-07-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110412609B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-09-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馬鵬閣;常項(xiàng)平;申冬冬;孫俊靈;金秋春 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鄭州航空工業(yè)管理學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01S17/58 | 分類號(hào): | G01S17/58 |
| 代理公司: | 北京正陽(yáng)理工知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11639 | 代理人: | 唐華 |
| 地址: | 450015*** | 國(guó)省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 脈沖 激光雷達(dá) 目標(biāo) 檢測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明涉及激光雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種基于目標(biāo)速度幅度特性的多脈沖激光雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)和航跡搜索方法。針對(duì)多脈沖激光雷達(dá)檢測(cè)飛行目標(biāo)航跡應(yīng)用中運(yùn)算量巨大的問(wèn)題,基于目標(biāo)速度幅度特性,利用多脈沖激光雷達(dá)的回波觀測(cè)數(shù)據(jù)中存在大量與檢測(cè)目標(biāo)無(wú)關(guān)的噪聲點(diǎn)的特點(diǎn),先對(duì)回波觀測(cè)數(shù)據(jù)分塊,在依據(jù)設(shè)定閾值二值化,將其中值為1的全部點(diǎn)作為樣本點(diǎn),得其坐標(biāo)矩陣M,再對(duì)M進(jìn)行Hough變換得矩陣R,對(duì)R開(kāi)展空間參數(shù)投票得投票表格,搜索投票表格,統(tǒng)計(jì)參數(shù)空間的得票數(shù),求出參數(shù)空間聚集點(diǎn),最后將參數(shù)空間聚集點(diǎn)的坐標(biāo)值進(jìn)行Hough反變換,得回波觀測(cè)數(shù)據(jù)潛在目標(biāo)航跡直線。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)密集雜波背景下目標(biāo)直線航跡檢測(cè),運(yùn)算速度快。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種基于目標(biāo)速度幅度特性的多脈沖激光雷達(dá)的目標(biāo)檢測(cè)和航跡搜索方法,特別適合低信噪比環(huán)境下快速完成目標(biāo)檢測(cè)并檢索其航跡的任務(wù)。
背景技術(shù)
在探測(cè)微弱目標(biāo)時(shí),單脈沖激光雷達(dá)會(huì)出現(xiàn)檢測(cè)困難,而多脈沖激光雷達(dá)可以利用時(shí)域多幀回波數(shù)據(jù)進(jìn)行非相參積累提高信噪比和檢測(cè)概率。先跟蹤后檢測(cè)(TBD)的方法先從多幀原始觀測(cè)數(shù)據(jù)中跟蹤出一條能量積累最大的目標(biāo)航跡,進(jìn)而判決目標(biāo)的檢測(cè),可以進(jìn)一步提高多脈沖激光雷達(dá)檢測(cè)微弱目標(biāo)的能力,其檢測(cè)流程如附圖1所示。在基于多脈沖激光雷達(dá)的目標(biāo)航跡檢索過(guò)程中,通常采用Hough變換的方法。但由于多脈沖激光雷達(dá)觀測(cè)數(shù)據(jù)大,基于TBD的Hough變換檢測(cè)航跡的方法存在運(yùn)算量巨大,難以實(shí)時(shí)實(shí)現(xiàn)的缺點(diǎn)。
針對(duì)上述問(wèn)題,目前有一些改進(jìn)Hough變換算法,如段汝嬌等在文獻(xiàn)(段汝嬌,趙偉,黃松嶺,et al.一種基于改進(jìn)Hough變換的直線快速檢測(cè)算法[J].儀器儀表學(xué)報(bào),2010,31(12):2774-2780.)中通過(guò)檢測(cè)相鄰的像素點(diǎn)并進(jìn)行聚類再分組的辦法檢測(cè)直線。李曉聰?shù)仍谖墨I(xiàn)(李曉聰,涂剛毅,裴江,et al.基于改進(jìn)Hough變換的檢測(cè)前跟蹤算法[J].現(xiàn)代防御技術(shù),2016,44(5).)中提出通過(guò)對(duì)非相參積累時(shí)局部峰值的融合,改進(jìn)閾值提取的檢測(cè)方法減少虛假軌跡。這些方法都沒(méi)有有效利用探測(cè)數(shù)據(jù)的特點(diǎn),減少Hough變換檢測(cè)航跡的運(yùn)算量。本申請(qǐng)針對(duì)多脈沖激光雷達(dá)檢測(cè)飛行目標(biāo)航跡應(yīng)用中運(yùn)算量巨大的問(wèn)題,基于目標(biāo)速度幅度特性,采取盡量減少這些噪聲點(diǎn)參與Hough變換中的映射運(yùn)算的方法,從而減少運(yùn)算量及檢測(cè)時(shí)間,提高檢測(cè)效率。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)?zhí)岢隽艘环N多脈沖激光雷達(dá)目標(biāo)檢測(cè)方法,所述雷達(dá)在單個(gè)脈沖串重復(fù)周期T內(nèi)發(fā)射脈寬為T(mén)p、數(shù)量為P的激光脈沖,所述雷達(dá)目標(biāo)的徑向速度v在范圍[vmin,vmax]內(nèi),所述方法包括步驟:
S100,對(duì)所述多脈沖激光雷達(dá)的回波觀測(cè)數(shù)據(jù)按照距離R來(lái)分塊,即以每R個(gè)長(zhǎng)度單位所對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)為一個(gè)分塊,進(jìn)行目標(biāo)航跡搜索,其中,R=(|Tvmin|+|Tvmax|);
S200,將分塊后的數(shù)據(jù)依據(jù)設(shè)定的閾值C進(jìn)行二值化處理,不小于閾值C的數(shù)據(jù)點(diǎn)置1;
S300,選擇所有值為1的數(shù)據(jù)點(diǎn)作為樣本點(diǎn),得樣本點(diǎn)像素的坐標(biāo)矩陣M,對(duì)M進(jìn)行Hough變換,將樣本點(diǎn)數(shù)據(jù)映射到Hough變換參數(shù)空間,用矩陣T=HM表示,其中,H為Hough變換的轉(zhuǎn)換矩陣,參數(shù)空間為極坐標(biāo)系θ-ρ;
S400,采用投票方法對(duì)T計(jì)算累加器表格A(ρ,θ);
S500,搜索累加器表格A(ρ,θ),統(tǒng)計(jì)其中的得票數(shù),求出極大值點(diǎn)作為參數(shù)空間的聚集點(diǎn);
S600,將參數(shù)空間聚集點(diǎn)的坐標(biāo)值進(jìn)行Hough反變換,得回波觀測(cè)數(shù)據(jù)潛在目標(biāo)航跡直線。
進(jìn)一步地,在S100中所述分塊之前還有步驟S000:將采樣后的雷達(dá)回波觀測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行壓縮處理,即以每N個(gè)點(diǎn)的值累加后作為壓縮數(shù)據(jù)的一個(gè)點(diǎn)的值。其中,優(yōu)選的N取值為3~6。
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- 專利分類
G01S 無(wú)線電定向;無(wú)線電導(dǎo)航;采用無(wú)線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類似裝置
G01S17-00 應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的反射或再輻射系統(tǒng),例如,激光雷達(dá)系統(tǒng)
G01S17-02 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波反射的系統(tǒng)
G01S17-66 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的跟蹤系統(tǒng)
G01S17-74 .應(yīng)用除無(wú)線電波外的電磁波的再輻射系統(tǒng),例如IFF,即敵我識(shí)別
G01S17-87 .應(yīng)用除無(wú)線電波外電磁波的系統(tǒng)的組合
G01S17-88 .專門(mén)適用于特定應(yīng)用的激光雷達(dá)系統(tǒng)
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





