[發明專利]一種激光照射指示器綜合性能檢測設備

在審

• 申請號: 201910620337.5
• 申請日: 2019-07-10
• 公開（公告）號: CN110274699A
• 公開（公告）日: 2019-09-24
• 發明（設計）人: 黃富瑜;毛少娟;李剛;劉鋒;張曉良;王元鉑;張會纖
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍陸軍工程大學
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00;G01M11/02;G01C25/00
• 代理公司: 北京國坤專利代理事務所(普通合伙) 11491
• 代理人: 趙紅霞

1.一種激光照射指示器綜合性能檢測設備，包括用于檢測激光照射指示器綜合性能的檢測設備；所述檢測設備與外部計算機電連接；其特征在于：所述檢測設備由編碼激光采集前端、激光測距采集前端和主控單元組成；所述編碼激光采集前端其輸出端及所述激光測距采集前端其輸出端分別與主控單元電連接；所述主控單元通過通訊電纜與外部計算機通訊連接；

所述編碼激光采集前端包括由前至后依次擺放的編碼濾光片、編碼會聚透鏡和高速光電探測器；所述高速光電探測器電連接至信號處理電路；所述信號處理電路其輸出端與主控單元電連接；

所述激光測距采集前端由接收系統和發射系統組成；

所述接收系統依次包括接收濾光片、接收物鏡、取樣管和能量計；所述接收物鏡為會聚透鏡；所述取樣管為光電探測器，其為一對激光脈沖感光的二極管；所述能量計為熱釋電探測器；

所述發射系統由發射物鏡和半導體激光器組成；所述發射物鏡為三片型，其由雙膠物鏡和正透鏡組成；所述發射物鏡前側還安裝有一平面保護玻璃和一衰減片；

所述主控單元包括數據采集處理模塊、數據存儲控制模塊和人機接口模塊組成；所述編碼激光采集前端和激光測距采集前端分別與數據采集處理模塊電連接；所述數據采集處理模塊與數據存儲控制模塊電連接；所述數據存儲控制模塊通過人機接口模塊與外部計算機通訊連接。

2.根據權利要求1所述的激光照射指示器綜合性能檢測設備，其特征在于：當被采集的激光照射指示器以連續脈沖方式或重頻編碼方式發出序列激光脈沖時，所述激光照射指示器的序列激光脈沖受大氣散熱后，散熱信號經編碼濾光片和編碼會聚透鏡后會聚至高速光電探測器其光敏面上。

3.根據權利要求1所述的激光照射指示器綜合性能檢測設備，其特征在于：所述信號處理電路由放大器和解調器組成。

4.根據權利要求1所述的激光照射指示器綜合性能檢測設備，其特征在于：所述編碼激光采集前端通過固定支架安裝于激光照射指示器的激光出射通道底端，且編碼激光采集前端通過激光脈沖電纜與激光照射指示器連接。

5.根據權利要求1所述的激光照射指示器綜合性能檢測設備，其特征在于：用于檢測重頻編碼脈沖激光性能時，

所述數據存儲控制模塊包括ARM單片機和存儲器；所述存儲器與ARM單片機電連接；

所述數據采集處理模塊為重復頻率測時器電路，其包括計數器，及與計數器電連接的時間間隔測定器和CPLD可編程邏輯器件；所述計數器、時間間隔測定器和CPLD可編程邏輯器件分別與ARM單片機電連接；

所述人機接口模塊包括通訊接口匹配模塊、鍵盤/顯示模塊和通訊接口模塊；所述通訊接口匹配模塊分別與時間間隔測定器和存儲器電連接；所述鍵盤/顯示模塊與ARM單片機電連接；所述ARM單片機通過通訊接口模塊與外部計算機通訊連接；

所述編碼激光采集前端與數據采集處理模塊的計數器電連接；所述激光照射指示器通過順序交換裝置插座與通訊接口匹配模塊相連。

6.根據權利要求1所述的激光照射指示器綜合性能檢測設備，其特征在于：用于檢測激光測距性能時，

所述數據存儲控制模塊包括帶有存儲單元的8051單片機、激光脈沖信號同步器和發光強度控制電路；所述發光強度控制電路其輸出端與發射系統的半導體激光器電連接；

所述數據采集處理模塊包括用于與接收系統的能量計電連接的A/D轉換器及精確延時電路；所述精確延時電路由數據信號處理器、精密測時器和精密延時信號發生器組成；所述精密測時器其輸出端及精密延時信號發生器其輸入端分別與數據信號處理器電連接；所述A/D轉換器和數據信號處理器分別與8051單片機電連接；所述精密測時器其輸入端與激光脈沖信號同步器電連接；所述精密延時信號發生器其輸出端與發光強度控制電路電連接；

所述人機接口模塊包括通訊控制接口單元和通訊接口單元；所述8051單片機通過通訊控制接口單元與激光照射指示器通訊連接；所述8051單片機通過通訊接口單元與外部計算機通訊連接。

7.根據權利要求1或6所述的激光照射指示器綜合性能檢測設備，其特征在于：所述半導體激光器為能夠發出激光波長為1.064μm的發光二極管。