[發明專利]一種多弧段光學成像內孔直徑測量裝置與方法在審
| 申請號: | 201910614693.6 | 申請日: | 2019-07-09 |
| 公開(公告)號: | CN112212793A | 公開(公告)日: | 2021-01-12 |
| 發明(設計)人: | 張新寶;陳家閏 | 申請(專利權)人: | 華中科技大學 |
| 主分類號: | G01B11/08 | 分類號: | G01B11/08;G01B11/12 |
| 代理公司: | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人: | 李智;張彩錦 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多弧段 光學 成像 直徑 測量 裝置 方法 | ||
1.一種多弧段光學成像內孔直徑測量裝置,其特征在于,包括環形激光發生器組件、光學成像組件、n面棱錐反射鏡(8)和機架(7),其中,所述環形激光發生器組件、光學成像組件和n面棱錐反射鏡(8)依次安裝在圓柱狀的所述機架(7)內部,且均與所述機架(7)同軸;所述環形激光發生器組件包括依次同軸安裝的激光發生器(1)、聚焦透鏡(3)和圓錐反射鏡(4);所述光學成像組件包括依次同軸安裝的光學圖像傳感器(5)和光學透鏡組(12);所述n面棱錐反射鏡(8)由n個平面鏡組成,其中n≥1,此n個平面鏡圍繞所述機架(7)軸線分布且與所述機架(7)軸線形成的夾角相等;所述機架(7)在安裝所述圓錐反射鏡(4)和n面棱錐反射鏡(8)處開有通光口;測量時,該測量裝置同軸固定在待測工件(10)內孔中,所述激光發生器(1)發出的光束經聚焦透鏡(3)匯聚后,通過圓錐反射鏡(4)反射形成環形光束(11),并在待測工件(10)內壁形成環狀光斑L1,該環狀光斑L1在n面棱錐反射鏡(8)中形成n個環狀光斑的虛像L2,此n個環狀光斑的虛像L2由光學透鏡組(12)成像,所形成的圖像由光學圖像傳感器(5)獲取。
2.如權利要求1所述的多弧段光學成像內孔直徑測量裝置,其特征在于,通過調整所述圓錐反射鏡(4)的錐角以及n個平面鏡與所述機架(7)軸線形成的夾角,使光學圖像傳感器(5)只獲取所述環狀光斑的虛像L2的局部圖像。
3.如權利要求1所述的多弧段光學成像內孔直徑測量裝置,其特征在于,通過調整所述圓錐反射鏡(4)的錐角以及n個平面鏡與所述機架(7)軸線形成的夾角,使所述環形光束(11)在n面棱錐反射鏡(8)中形成的環形光束的虛像(14)與所述機架(7)軸線垂直。
4.如權利要求1-3任一項所述的多弧段光學成像內孔直徑測量裝置,其特征在于,所述光學圖像傳感器(5)上還連接有數據采集處理單元(15)。
5.一種多弧段光學成像內孔直徑測量方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1將如權利要求1-4任一項所述的測量裝置固定在待測工件(10)內孔中,并使其與待測工件(10)內孔同軸;
S2激光發生器(1)發出的光束經聚焦透鏡(3)匯聚后,通過圓錐反射鏡(4)反射到待測工件(10)內壁形成環狀光斑L1,該環狀光斑L1在n面棱錐反射鏡(8)中形成n個環狀光斑的虛像L2,此n個環狀光斑的虛像L2由光學透鏡組(12)成像為n個橢圓弧段,并被光學圖像傳感器(5)獲取;
S3以n面棱錐反射鏡(8)頂點為原點建立測量裝置坐標系,并將光學圖像傳感器(5)獲取到的橢圓弧段圖像轉化到測量裝置坐標系中,從而計算出圖像中橢圓弧段對應橢圓的短軸長度bi(i=1,2,…,n),進而得到待測工件(10)的內孔直徑D。
6.如權利要求5所述的多弧段光學成像內孔直徑測量方法,其特征在于,所述S3中計算待測工件(10)的內孔直徑D具體包括如下步驟:
(1)由光學圖像傳感器(5)獲取到的圖像中橢圓弧段對應橢圓的短軸長度bi,計算環狀光斑的虛像L2在垂直于機架(7)軸線的平面投影形成的橢圓的短軸長度Bi:
并有:其中,v為光學透鏡組(12)到光學圖像傳感器(5)獲取圖像的距離,u為環狀光斑的虛像L2上的點到光學透鏡組(12)的最遠距離,f為光學透鏡組(12)的焦距;
(2)由環狀光斑的虛像L2在垂直于機架(7)軸線的平面投影形成的橢圓的短軸長度Bi,計算待測工件(10)的內孔直徑D:
并有:β=2α-π;其中,β為環狀光斑的虛像L2與機架(7)軸線的夾角,α為n面棱錐反射鏡(8)中平面鏡與機架(7)軸線的夾角;
進而得到待測工件(10)的內孔直徑D:
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